电源拉偏测试装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电源拉偏测试装置，包括可调电源、上电时序控制电路和开关元件，其中，所述可调电源和所述开关元件相连接，用于向所述开关元件提供电源；所述上电时序控制电路用于输出开关信号给所述开关元件，所述开关信号根据设定的上电时序生成，用于控制所述开关元件的开通；所述可调电源通过所述开关元件输出拉偏电源，所述拉偏电源用于实现对需要拉偏电源的拉偏。本发明专利技术还公开了一种电源拉偏测试方法。与现有技术相比较，本发明专利技术通过一种简单的方法实现了对系统中具有上电时序要求电源的拉偏，减小了系统的复杂度，提高了可操作性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种半导体集成电路测试技术，具体说，涉及一种电源拉偏 测试装置及其测试方法。
技术介绍
随着半导体集成电路的发展，现在的电子设备的集成度越来越高，对测 试技术的要求也越来越高，其中电源拉偏测试就经常会用到了 一种测试方 法。在一些主板的测试系统中，在对关键部件进行测试的时候需要进行电源 拉偏测试，当关键部件需要拉偏的电源比较多并且有上电时序要求的时候， 需要对这些电源的上电进行控制， 一种作法是用主控服务器来控制电源电 压、上下电时序，这样做系统比较复杂，并且此系统也是把主板看作一个整 体，没有对主板内部的电源进行拉偏。有些测试需要对单板内部电源进行拉偏， 一种作法就是通过控制外围器 件来控制电源模块的输出电流来调压，但是这种方法的拉偏是不连续的，并 且拉偏范围比较窄。另外一种作法就是去掉电源模块，外接可调电源进行试 验。如果需要拉偏的电源和系统中的其他电源之间没有严格上电时序要求， 可以直接外接电源测试，但是如果需要拉偏的电源和系统中的其他电源之间 有上电时序要求，在系统上电的时候需要保证外接电源和系统中其他电源的 上电同步，否则系统将无法工作。现有的专利文献包括专利申请号为02131007的中国专利申请"一种 实现主板环境测试的系统"、专利申请号为03137017的中国专利申请"一 种对计算机关键部件测试的系统和方法"、专利申请号为03206587的中国 专利申请"一种电压拉偏模"和日本专利号为05002502A的日本专利 "VOLTAGE MARGIN TESTING SYSTEM FOR INFORMATIONPROCESSOR"(信息处理器的边界电压测试系统)。第02131007号和03137017号中国专利存在以下不足这两个专利都提 出用主控机来控制拉偏电源的上电时序，幅度的系统，比较复杂，并且这里 也没有涉及主板内部电源的拉偏。第03206587号中国专利存在以下不足该专利中提出用多个场效应管 的开关来控制电源模块的输出电流，从而控制电源的输出电压，最终实现电 源的拉偏，此种拉偏是在电源模块存在的情况下进行的拉偏，这种拉偏方式 只能实现电压的阶梯拉偏，不能无极调节，电压调整的范围也有限，适合于 计算机集成厂商的部件电源的集成性测试，但是在一些需要宽调节范围无极 调压的测试中不适用。第05002502A号的日本专利存在以下不足该专利中提供了一种自动 测试边界工作电压的测试方案，可以实现自动测试、记录，但是对于多电源， 并且有上电时序要求的系统如何进行拉偏没有涉及。
技术实现思路
本专利技术所解决的技术问题是提供一种电源拉偏测试装置，实现了对具有 上电时序要求电源的拉偏。技术方案如下一种电源拉偏测试装置，包括可调电源、上电时序控制电路和开关元件， 其中，所述可调电源和所述开关元件相连接，用于向所述开关元件提供电源； 所述上电时序控制电路用于输出开关信号给所述开关元件，所述开关信号根 据设定的上电时序生成，用于控制所述开关元件的开通；所述可调电源通过 所述开关元件输出拉偏电源，所述拉偏电源用于实现对需要拉偏电源的拉 偏。优选的，在所述上电时序控制电路和开关元件之间设置有驱动电路，所 述驱动电路用于驱动所述开关元件的开通；所述上电时序控制电路根据被测 系统或者单板的上电要求输出所述开关信号给所述驱动电路，所述驱动电路 根据所述开关信号生成驱动信号发送给所述开关元件，所述被测系统或者单板的上电时序受所述上电时序控制电路控制。优选的，所述开关元件为场效应管，所述驱动电路为场效应管驱动电路； 所述上电时序控制电路根据设定的上电时序输出所述开关信号给场效应管 驱动电路，从而控制场效应管的开通。优选的，所述场效应管驱动电路和所述场效应管的栅纟及相连"l娄，所述可 调电源的负极和所述需要拉偏电源的地相连接。优选的，所述场效应管为N沟道场效应管，所述可调电源的正4及和所 述N沟道场效应管的漏极相连接，所述N沟道场效应管的源极和所述需要 拉偏电源的正极相连接；或者，所述场效应管为P道沟场效应管，所述可调 电源的正极和所述p道沟场效应管的源极相连接，所述需要拉偏电源的正极 和所述P道沟场效应管的漏^1相连"^妄。本专利技术所解决的另 一个技术问题是提供一种电源拉偏测试方法，实现了 对具有上电时序要求电源的拉偏。技术方案如下一种电源拉偏测试方法，步骤包括(1) 可调电源向场效应管供电，并调整所述可调电源的输出达到开关 元件需要的幅值；(2) 被测系统或者单板通电后，上电时序控制电路4艮据_没定的上电时 序输出开关信号给所述开关元件，所述开关信号用于控制所述开关元件的开 通；(3) 所述开关元件开通后，所述可调电源通过所述开关元件输出拉偏 电源给的需要拉偏电源；(4) 调整所述可调电源的输出幅值，以实现对所述需要拉偏电源的拉偏。进一步，步骤(2)中，当在所述上电时序控制电路和开关元件之间设 置有驱动电路时，所述上电时序控制电路根据所述被测系统或者单板的上电 要求输出所述开关信号给所述驱动电路，所述驱动电路根据所述开关信号生 成驱动信号发送给所述开关元件。当所述开关元件为场效应管，所述驱动电路为 场效应管驱动电路时，所述上电时序控制电路根据设定的上电时序输出所述 开关信号给所述场效应管驱动电路，所述场效应管驱动电路输出驱动信号给 所述场效应管，所述驱动信号用于控制所述场效应管的开通。进一步，步骤(3)中，所述可调电源通过所述场效应管输出设定电源 给所述需要拉偏电源，所述设定电源的上电时序受所述上电时序控制电路控 制。进一步，步骤(4)中，被测系统或者单板上电结束以后，通过调整所 述可调电源的输出对所述被测系统或者单板中的需要拉偏电源进行电源拉 偏试验。与现有技术相比较，本专利技术通过一种简单的方法实现了对系统中具有上 电时序要求电源的拉偏，减小了系统的复杂度，提高了可操作性。附图说明图1是电源拉偏测试装置优选实施例的结构示意图； 图2是电源拉偏测试装置的连接过程的流程图； 图3是被测系统或者单板的上电流程图。具体实施方式下面参照附图，对本专利技术的优选实施例作详细描述。参照图1所示，电源拉偏测试装置包括场效应管106、场效应管驱动电 路105、上电时序控制电路104、可调电源107。在被测系统或者单板101中，电源模块102给需要拉偏电源103供电， 并且被测系统或者单板101的上电时序受上电时序控制电路104的控制。其中上电时序控制电路104根据被测系统或者单板101的上电要求，输 出开关信号给场效应管驱动电路105,场效应管驱动电路105根据开关信号 生成驱动信号，该驱动信号用于控制场效应管106的开通；可调电源107通 过场效应管106输出电源给被测系统或者单板101中需要拉偏电源103。此处，场效应管106作为开关元件可以用功率开关管或者合适的继电器 代替。如果用继电器来做开关元件，继电器需要选择合适的电流开关能力， 并且有寿命限制，如果有緩起要求继电器也不适合。参照图2所示，对电源拉偏测试装置拉偏前的连接过程作进一步说明。步骤S201:首先将系统中需要拉偏电源103供电的电源模块102去掉。步骤S202:判断上电时序控制电路104中的上电控制信号是否可以驱 动场效应管106。从上电时序控本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电源拉偏测试装置，其特征在于，包括可调电源、上电时序控制电路和开关元件，其中，所述可调电源和所述开关元件相连接，用于向所述开关元件提供电源；所述上电时序控制电路用于输出开关信号给所述开关元件，所述开关信号根据设定的上电时序生成，用于控制所述开关元件的开通；所述可调电源通过所述开关元件输出拉偏电源，所述拉偏电源用于实现对需要拉偏电源的拉偏。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵民，李小娟，钱建红，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]