一种离子源结构及热电离质谱仪制造技术

本发明专利技术公开一种离子源结构，其包括离子源室、样品转盘、离子透镜组、以及屏蔽手套箱，所述离子源室的前部与所述屏蔽手套箱密封相接，且离子源室的前部上开设有门孔，所述门孔上设有离子源室门，所述离子源室门处于屏蔽手套箱内，并与屏蔽手套箱的操作面相对；所述样品转盘和所述离子透镜组均设于所述离子源室的内部，且离子透镜组、样品转盘、离子源室门、以及屏蔽手套箱依次在水平方向上呈线性排列。本发明专利技术还公开一种热电离质谱仪。本发明专利技术可适用于放射性样品的检测，有效实现放射性样品的同位素丰度或丰度比分析，并且，便于拆卸和清洗、更换，可确保长期、稳定的运行。稳定的运行。稳定的运行。

【技术实现步骤摘要】
一种离子源结构及热电离质谱仪


[0001]本专利技术属于分析
，具体涉及离子源结构，以及包括该离子源结构的热电离质谱仪。

技术介绍

[0002]热电离质谱技术(T I MS)是20世纪70年代发展起来的元素同位素丰度、同位素丰度比精确测量的分析测试技术，与其他分析技术相比，热电离质谱技术具有准确度高、精度高等优点，广泛应用于核工业、环境、地质、考古等领域。
[0003]在核燃料后处理分析工艺中，核材料的丰度分析和核材料衡算是关键的分析项目，需要进行精确分析，以保证核临界安全，热电离质谱技术是国内外后处理厂广泛使用的必备方法。离子源是热电离质谱仪的关键部分，其性能直接决定了热电离质谱仪的灵敏度和检测限等关键性能指标。
[0004]目前，主流的热电离质谱仪产品使用的离子源都有其特定的设计，具有各自的特色，虽然基本能够实现较高的电离效率和离子传输效率，但是，都不太适合用于放射性样品分析，并且，难以拆卸和清洗，在使用一段时间后各项性能指标大幅下降了,却由于维修、更换不便等原因而无法改善。

技术实现思路
<br/>[0005]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种离子源结构，其特征在于，包括离子源室、样品转盘、离子透镜组、以及屏蔽手套箱，所述离子源室的前部与所述屏蔽手套箱密封相接，且离子源室的前部上开设有门孔，所述门孔上设有离子源室门，所述离子源室门处于屏蔽手套箱内，并与屏蔽手套箱的操作面相对；所述样品转盘和所述离子透镜组均设于所述离子源室的内部，且离子透镜组、样品转盘、离子源室门、以及屏蔽手套箱依次在水平方向上呈线性排列。2.根据权利要求1所述的离子源结构，其特征在于，所述离子源室门呈拱形，且拱形离子源室门的顶部朝向所述屏蔽手套箱。3.根据权利要求2所述的离子源结构，其特征在于，所述离子源室门采用压紧式门，所述离子源室与所述屏蔽手套箱的操作面之间的距离为350
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450mm。4.根据权利要求1所述的离子源结构，其特征在于，所述屏蔽手套箱包括箱体、手套卡盘、离子源法兰接口、物品转运通道、进风过滤器、以及排风过滤器，所述箱体的前部为所述操作面，所述手套卡盘设于所述操作面上，手套卡盘上设有屏蔽手套，且箱体上设有进风口和出风口，进风过滤器设于所述进风口上，所述出风过滤器设于所述出风口上；所述离子源法兰接口设于所述箱体的后部，用于连接所述离子源室的前部；所述物品转运通道设于所述箱体的左侧或右侧，用于供物品进出箱体时通过。5.根据权利要求4所述的离子源结构，其特征在于，所述屏蔽手套箱的密封等级为3级，所述箱体的长宽高的尺寸为：900mm
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350mm
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700mm。6.根据权利要求1
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5任一项所述的离子源结构，其特征在于，还包括转盘驱动装置和高压连接器，所述转盘驱动...

【专利技术属性】
技术研发人员：王志强，刘权卫，张兆清，赵雅平，李力，赵宇菲，李思凡，沈琛林，
申请(专利权)人：中国核电工程有限公司，
类型：发明
国别省市：