成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法制造方法及图纸

技术编号:34093918 阅读:21 留言:0更新日期:2022-07-11 21:51
本发明专利技术提供的成分测定装置具有用于供配置有试剂的成分测定芯片插入的芯片插入空间,具备:发光部,在成分测定芯片被插入到芯片插入空间的状态下,对成分测定芯片射出照射光;受光部,接收透过或者反射的光;以及控制部,控制部能够以使用受光部中的受光强度的实测值,测定试样中的被测定成分的第一模式、和确认成分测定装置的性能的第二模式中的任意一种处理模式执行处理,在受光部中的基准受光强度与在受光部接收的受光强度之差超过规定值的情况下,判定是否有要执行的处理模式错误的可能性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法


[0001]本公开涉及成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法。

技术介绍

[0002]以往,在生物化学领域、医疗领域中,已知有测定作为检体的血液等试样中所包含的被测定成分的装置。例如,在专利文献1公开了使血液附着于安装于血糖计的测定芯片,测定血液中的葡萄糖量的血糖计。
[0003]专利文献1:日本特开2011-064596号公报
[0004]有时血糖计等测定被测定成分的装置构成为除了测定被测定成分的第一模式之外,还能够以用于确认该装置的性能的第二模式进行动作。在使该装置以第一模式进行动作的情况下,例如将附着了血液的测定芯片插入到装置,在使其以第二模式进行动作的情况下,将附着了第二模式专用的溶液的测定芯片插入到装置,并使其执行测定。该情况下,该装置的操作者对该装置输入使其执行第一模式下的动作,还是使其执行第二模式下的动作。然而,有由于操作者的不注意等,而操作者对装置进行误输入的可能性。例如,有操作者虽然将附着了血液的测定芯片插入到装置,但输入了第二模式的动作开始,或者相反地,虽然将附着了第二模式专用的溶液的测定芯片插入到装置,但输入了第一模式的动作开始的情况。若进行误输入,则装置不能够执行适当的处理。

技术实现思路

[0005]本公开的目的在于提供能够降低基于操作者的误输入执行处理的可能性的成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法。
[0006]作为本公开的第一方式的成分测定装置是具有用于供配置有与试样中的被测定成分进行反应的试剂的成分测定芯片插入的芯片插入空间,且具备:发光部,在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间的状态下,向上述成分测定芯片射出照射光;受光部,接收透过上述成分测定芯片或者在上述成分测定芯片反射的光;以及控制部的成分测定装置,上述控制部能够以使用上述受光部中的受光强度的实测值,测定上述试样中的被测定成分的第一模式、和确认该成分测定装置的性能的第二模式中的任意一种处理模式执行处理,在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间之后的特定的时刻下的上述受光部中的基准受光强度与在上述受光部接收的受光强度之差超过规定值的情况下,判定是否有要执行的处理模式错误的可能性。
[0007]作为本公开的一个实施方式,上述控制部在上述基准受光强度与在上述受光部接收的受光强度的移动平均值之差超过规定值的情况下,判定是否有处理模式错误的可能性。
[0008]作为本公开的一个实施方式,上述控制部在判定为有上述处理模式错误的可能性的情况下,进行确认要执行的上述处理模式是否正确的输出。
[0009]作为本公开的一个实施方式,上述控制部基于上述基准受光强度与上述受光强度
之差是否高于比上述基准受光强度高的第一判定阈值以上、是否低于比上述基准受光强度低的第二判定阈值以上,来判定上述试样是否适合于处理模式下的使用。
[0010]作为本公开的一个实施方式,上述控制部在判定为上述试样不是在上述处理模式下使用的试样的情况下,判定为有要执行的上述处理模式错误的可能性。
[0011]作为本公开的一个实施方式,上述控制部在判定为有要执行的上述处理模式错误的可能性的情况下,以不是上述要执行的上述处理模式的其它的处理模式执行处理。
[0012]作为本公开的一个实施方式,上述发光部至少具备:第一光源,为了对被测定成分进行定量,而向上述试样与上述试剂的混合物射出第一规定波长的照射光;第三光源,射出第三规定波长的照射光,该第三规定波长的照射光用于通过上述第一光源的照射光测定出的上述混合物的吸光度的实测值所包含的规定的呈色成分以外的噪声量的估计,且上述试样中所包含的成分的光散射所带来的影响占主导地位;以及第四光源,射出第四规定波长的照射光,该第四规定波长的照射光用于上述噪声量的估计,且上述试样中所包含的规定的成分的光吸收的吸光度的比例在规定值以上。
[0013]作为本公开的一个实施方式,上述控制部在选择上述第一模式作为要执行的上述处理模式,且上述基准受光强度与对于上述第三规定波长的照射光的受光强度之差达到上述第一判定阈值的情况下,判定为有上述处理模式的选择错误的可能性。
[0014]作为本公开的一个实施方式,上述控制部在选择上述第二模式作为要执行的上述处理模式,且上述基准受光强度与对于上述第四规定波长λ4的照射光的受光强度之差达到上述第二判定阈值的情况下,判定为有上述处理模式的选择错误的可能性。
[0015]作为本公开的一个实施方式,来自于上述试样的成分是红血球、以及红血球中所包含的血红蛋白。
[0016]作为本公开的第二方式的成分测定装置组具备:成分测定芯片;以及成分测定装置,具有用于供上述成分测定芯片插入的芯片插入空间,上述成分测定装置具备:发光部,在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间的状态下,对上述成分测定芯片射出照射光;受光部,至少接收透过上述成分测定芯片或者在上述成分测定芯片反射的光;以及控制部,上述控制部能够以使用上述受光部中的受光强度的实测值来测定上述试样中的被测定成分的第一模式、和确认该成分测定装置的性能的第二模式中的任意一种处理模式执行处理,在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间之后的特定的时刻下的上述受光部中的基准受光强度与在上述受光部接收的受光强度之差超过规定值的情况下,判定是否有处理模式的选择错误的可能性。
[0017]作为本公开的第三方式的信息处理方法是通过具有用于供成分测定芯片插入的芯片插入空间,且具备在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间的状态下对上述成分测定芯片射出照射光的发光部、接收透过上述成分测定芯片或者在上述成分测定芯片反射的光的受光部、以及控制部的成分测定装置执行的信息处理方法,上述控制部能够以使用上述受光部中的受光强度的实测值来测定上述试样中的被测定成分的第一模式、和确认该成分测定装置的性能的第二模式中的任意一种处理模式执行处理,包含:受理上述处理模式的输入操作的步骤;以及在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间之后的特定的时刻下的上述受光部中的基准受光强度与在上述受光部接收的受光强度之差超过规定值的情况下,判定是否有处理模式的选择错误的可能性的步骤。
[0018]根据本公开,能够提供能够降低基于操作者的误输入执行处理的可能性的成分测定装置、成分测定装置组以及信息处理方法。
附图说明
[0019]图1是在作为一实施方式的成分测定装置安装了成分测定芯片的成分测定装置组的俯视图。
[0020]图2是表示沿着图1的I-I的剖面的图。
[0021]图3是表示沿着图1的II-II的剖面的图。
[0022]图4是表示图1所示的成分测定芯片的俯视图。
[0023]图5是沿着图4的III-III的剖视图。
[0024]图6是图1所示的成分测定装置的功能框图。
[0025]图7是表示图1所示的成分测定装置中的多个光源的位置关系的图。
[0026]图8是表示图7所示的多个光源的向混合物的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种成分测定装置,是具有用于供配置有与试样中的被测定成分反应的试剂的成分测定芯片插入的芯片插入空间,上述成分测定装置具备:发光部,在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间的状态下,向上述成分测定芯片射出照射光;受光部,接收在上述成分测定芯片透过或者反射的光;以及控制部,上述控制部能够以使用上述受光部中的受光强度的实测值,测定上述试样中的被测定成分的第一模式、和确认该成分测定装置的性能的第二模式中的任意一种处理模式执行处理,在上述成分测定芯片被插入到上述芯片插入空间之后的特定的时刻下的上述受光部中的基准受光强度与在上述受光部接收的受光强度之差超过规定值的情况下,上述控制部判定是否有要执行的处理模式错误的可能性。2.根据权利要求1所述的成分测定装置,其中,在上述基准受光强度与在上述受光部接收的受光强度的移动平均值之差超过规定值的情况下,上述控制部判定是否有处理模式错误的可能性。3.根据权利要求1或者2所述的成分测定装置,其中,在判定为有上述处理模式错误的可能性的情况下,上述控制部进行确认要执行的上述处理模式是否正确的输出。4.根据权利要求1~3中任意一项所述的成分测定装置,其中,上述控制部基于上述基准受光强度与上述受光强度之差是否高于比上述基准受光强度高的第一判定阈值以上、是否低于比上述基准受光强度低的第二判定阈值以上,来判定上述试样是否适合于处理模式下的使用。5.根据权利要求4所述的成分测定装置,其中,在判定为上述试样不是在上述处理模式下使用的试样的情况下,上述控制部判定为有要执行的上述处理模式错误的可能性。6.根据权利要求1~5中任意一项所述的成分测定装置,其中,在判定为有要执行的上述处理模式错误的可能性的情况下,上述控制部以不是上述要执行的上述处理模式的其它的处理模式执行处理。7.根据权利要求4~6中任意一项所述的成分测定装置,其中,上述发光部至少具备:第一光源,为了对被测定成分进行定量,而向上述试样与上述试剂的混合物射出第一规定波长的照射光;第三光源,射出第三规定波长的照射光,该第三规定波长的照射光用于通过上述第一光源的照射光测定出的上述混合物的吸光度的实测值所包含的规定的呈色成分以外的噪声量的估计,且上述试样中所包含的成分的光散射所带来的影响占主导地位;以及第四光源,射出第四规定波长的照射光,该第四规定波长的照射光用于上述噪声量的估计,且...

【专利技术属性】
技术研发人员:相川亮桂
申请(专利权)人:泰尔茂株式会社
类型:发明
国别省市:

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