超声波观测装置、超声波观测系统以及超声波观测方法制造方法及图纸

技术编号:34074804 阅读:23 留言:0更新日期:2022-07-11 17:23
超声波观测装置具备:设定部,其设定用于检测剪切波的传播状况的检测位置,该剪切波是通过从超声波探头所具有的超声波振子向观测对象照射超声波而产生的;运算部,其计算所述超声波振子与所述检测位置之间的特征量;阈值设定部,其根据所述特征量来设定阈值;获取部,其获取所述超声波探头与所述观测对象的接触压力;以及判定部,其判定所述接触压力是否为所述阈值以下。由此,提供一种能够在对观测对象的接触压力适当的情况下执行测量的超声波观测装置。观测装置。观测装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】超声波观测装置、超声波观测系统以及超声波观测方法


[0001]本专利技术涉及一种超声波观测装置、超声波观测系统以及超声波观测方法。

技术介绍

[0002]以往,在医疗领域,使用着以下的超声波观测装置:基于由超声波振子针对作为观测对象的被检体发送接收超声波而得到的超声波信号来生成超声波图像。
[0003]作为超声波观测装置,存在以下的超声波观测装置:在超声波图像内设定关注区域(ROI:Region of Interest),发送推脉冲(push pulse)来使关注区域产生剪切波,接收用于检测剪切波的传播状况的追踪脉冲(track pulse),从而高精度地测量关注区域内的弹性特性(例如,参照专利文献1)。该测量方法被称为剪切波弹性成像。另外,在剪切波弹性成像中,为了降低超声波的衰减,有时使超声波振子或覆盖超声波振子的球囊与被检体接触来进行超声波的发送接收。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1:日本特开2015

126955号公报

技术实现思路

[0007]专利技术要解决的问题
[0008]然而,在剪切波弹性成像中,存在以下问题:当对被检体的接触压力大时,由于被检体的组织被压缩而无法准确地进行测量。
[0009]本专利技术是鉴于上述内容而完成的,其目的在于提供一种能够在对观测对象的接触压力适当的情况下执行测量的超声波观测装置、超声波观测系统以及超声波观测方法。
[0010]用于解决问题的方案<br/>[0011]为了解决上述的课题并达到目的,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置具备:设定部,其设定用于检测剪切波的传播状况的检测位置,所述剪切波是通过从超声波探头所具有的超声波振子向观测对象照射超声波而产生的;运算部,其计算所述超声波振子所述检测位置之间的特征量;阈值设定部,其根据所述特征量来设定阈值;获取部,其获取所述超声波探头与所述观测对象的接触压力;判定部,其判定所述接触压力是否为所述阈值以下。
[0012]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置中,所述特征量是所述超声波振子与所述检测位置之间的距离。
[0013]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置中,所述阈值设定部使所述阈值随着所述超声波振子与所述检测位置之间的距离增加而增加。
[0014]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置中,所述特征量是所述超声波振子与所述检测位置之间的所述观测对象的密度。
[0015]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置中,所述阈值设定部使所述阈
值随着所述超声波振子与所述检测位置之间的所述观测对象的密度增加而增加。
[0016]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置中,所述特征量是所述超声波振子与所述检测位置之间的衰减系数。
[0017]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置中,所述阈值设定部使所述阈值随着所述超声波振子与所述检测位置之间的衰减系数增加而增加。
[0018]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置中,所述特征量是所述超声波振子与所述检测位置之间的距离以及所述超声波振子与所述检测位置之间的所述观测对象的密度。
[0019]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置中,所述阈值设定部使所述阈值随着所述超声波振子与所述检测位置之间的距离增加而增加,所述阈值设定部使所述阈值随着所述超声波振子与所述检测位置之间的所述观测对象的密度增加而增加。
[0020]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置具备控制部,所述控制部在所述判定部判定为所述接触压力为所述阈值以下的情况下,使得执行剪切波弹性成像。
[0021]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测装置具备通知所述接触压力为所述阈值以下的通知部。
[0022]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测系统具备超声波观测装置和检测所述接触压力的检测部。
[0023]另外,本专利技术的一个方式所涉及的超声波观测方法如下:设定部设定用于检测剪切波的传播状况的检测位置,所述剪切波是通过从超声波探头所具有的超声波振子向观测对象照射超声波而产生的;运算部计算所述超声波振子与所述检测位置之间的所述观测对象的特征量;阈值设定部根据所述特征量来设定阈值;获取部获取所述超声波探头与所述观测对象的接触压力;判定部判定所述接触压力是否为所述阈值以下;以及在所述判定部判定为所述接触压力为所述阈值以下的情况下,控制部使得执行剪切波弹性成像的所述超声波振子向所述观测对象照射剪切波。
[0024]专利技术的效果
[0025]根据本专利技术,能够实现能够在对观测对象的接触压力适当的情况下执行测量的超声波观测装置、超声波观测系统以及超声波观测方法。
附图说明
[0026]图1是示出包括实施方式所涉及的超声波观测装置的超声波观测系统的结构的框图。
[0027]图2是示出实施方式所涉及的超声波观测装置执行的处理的概要的流程图。
[0028]图3是示出超声波图像的一例的图。
[0029]图4是示出测量结果的一例的图。
[0030]图5是示出测量结果的一例的图。
[0031]图6是示出在接触压力超过阈值的情况下的超声波图像的一例的图。
[0032]图7是示出包括实施方式的变形例1所涉及的超声波观测装置的超声波观测系统的结构的框图。
[0033]图8是表示接触压力与距离的关系的图。
[0034]图9是示出实施方式的变形例1所涉及的超声波观测装置执行的处理的概要的流程图。
[0035]图10是示出包括实施方式的变形例2所涉及的超声波观测装置的超声波观测系统的结构的框图。
[0036]图11是表示接触压力与密度的关系的图。
[0037]图12是示出实施方式的变形例2所涉及的超声波观测装置执行的处理的概要的流程图。
[0038]图13是示出包括实施方式的变形例3所涉及的超声波观测装置的超声波观测系统的结构的框图。
[0039]图14是表示接触压力与衰减系数的关系的图。
[0040]图15是示出实施方式的变形例3所涉及的超声波观测装置执行的处理的概要的流程图。
[0041]图16是示出包括实施方式的变形例4所涉及的超声波观测装置的超声波观测系统的结构的框图。
[0042]图17是表示接触压力、距离以及密度的关系的图。
[0043]图18是示出实施方式的变形例4所涉及的超声波观测装置执行的处理的概要的流程图。
具体实施方式
[0044]下面,参照附图来对本专利技术所涉及的超声波观测装置、超声波观测系统以及超声波观测方法的实施方式进行说明。此外,本专利技术不被这些实施方式限定。本专利技术能够普遍地适用于能够通过剪切波弹性成像来进行观测的超声波观测装置、超声波观测系统以及超声波观测方法。
[0045](实施方式)
[0046]〔超声波观本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种超声波观测装置,具备:设定部,其设定用于检测剪切波的传播状况的检测位置,所述剪切波是通过从超声波探头所具有的超声波振子向观测对象照射超声波而产生的;运算部,其计算所述超声波振子与所述检测位置之间的特征量;阈值设定部,其根据所述特征量来设定阈值;获取部,其获取所述超声波探头与所述观测对象的接触压力;判定部,其判定所述接触压力是否为所述阈值以下。2.根据权利要求1所述的超声波观测装置,其中,所述特征量是所述超声波振子与所述检测位置之间的距离。3.根据权利要求2所述的超声波观测装置,其中,所述阈值设定部使所述阈值随着所述超声波振子与所述检测位置之间的距离增加而增加。4.根据权利要求1所述的超声波观测装置,其中,所述特征量是所述超声波振子与所述检测位置之间的所述观测对象的密度。5.根据权利要求4所述的超声波观测装置,其中,所述阈值设定部使所述阈值随着所述超声波振子与所述检测位置之间的所述观测对象的密度增加而增加。6.根据权利要求1所述的超声波观测装置,其中,所述特征量是所述超声波振子与所述检测位置之间的衰减系数。7.根据权利要求6所述的超声波观测装置,其中,所述阈值设定部使所述阈值随着所述超声波振子与所述检测位置之间的衰减系数增加而增加。8.根据权利要求1所述的超声波观测装置,其中,所述特征量是所述超...

【专利技术属性】
技术研发人员:田口溪
申请(专利权)人:奥林巴斯株式会社
类型:发明
国别省市:

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