一种耐疲劳的芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种耐疲劳的芯片测试装置，包括基座和散热组件，所述基座两侧均开设有滑槽，且所述滑槽内部滑动安装有防尘板，所述基座中部安装有测试台，且所述测试台表面开设有放置槽，所述放置槽两侧均设置有用于芯片快速插接的辅助组件，且所述辅助组件包括U型架、提手、硅胶活塞、连接杆、辅助片和软胶片，所述U型架左端活动连接有所述提手，且所述提手底部连接有所述硅胶活塞，所述U型架另一端连接有所述连接杆。该耐疲劳的芯片测试装置采用多个组件之间的相互配合设置，不仅能够实现芯片的快速插拔，同时还能够减小芯片引脚受损的情况，还能够提升设备的耐疲劳性，并通过散热组件能够对芯片进行降温，提升其安全性能。提升其安全性能。提升其安全性能。

【技术实现步骤摘要】
一种耐疲劳的芯片测试装置


[0001]本技术涉及芯片
，具体为一种耐疲劳的芯片测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路英语：integrated circuit，缩写作IC；或称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、晶片/芯片(chip)在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，而芯片在出厂时需要对其进行测试，因此需要芯片测试装置。
[0003]市场上的芯片测试装置在插拔的过程中费时费力，同时还会引起引脚的损坏，同时影响芯片的测试效率，限制其使用。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种耐疲劳的芯片测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种耐疲劳的芯片测试装置，包括基座和散热组件，所述基座两侧均开设有滑槽，且所述滑槽内部滑动安装有防尘板，所述基座中部安装有测试台，且所述测试台表面开设有放置槽，所述放置槽两侧均设置有用于芯片快速插接的辅助组件，且所述辅助组件包括U型架、提手、硅胶活塞、连接杆、辅助片和软胶片，所述U型架左端活动连接有所述提手，且所述提手底部连接有所述硅胶活塞，所述U型架另一端连接有所述连接杆，且所述连接杆表面连接有所述辅助片，所述辅助片顶部粘接有所述软胶片，用于芯片耐疲劳的散热组件安装于所述测试台上方。
[0006]优选的，所述提手通过所述硅胶活塞与所述U型架构成密封连接，且所述提手呈直角状结构。r/>[0007]优选的，所述连接杆通过所述硅胶活塞与所述提手构成传动连接，且所述连接杆与所述提手关于所述U型架的竖直中心线对称分布。
[0008]优选的，所述散热组件包括阻尼转盘、伸缩杆、散热座、柔性导热片和散热风扇，且所述阻尼转盘顶部连接有所述伸缩杆，所述伸缩杆输出端连接有所述散热座，且所述散热座底部粘接有所述柔性导热片，所述散热座顶部设置有所述散热风扇。
[0009]优选的，所述散热座通过所述伸缩杆与所述测试台构成旋转连接，且所述散热座的延长线与所述伸缩杆的延长线呈垂直分布。
[0010]优选的，所述散热座与所述散热风扇卡合连接，且所述散热座上表面呈鳍片状结构。
[0011]优选的，所述防尘板外端安装有封板，且所述封板内壁连接有磁吸片。
[0012]优选的，所述基座一侧安装有用于芯片分类存放的收纳组件，且所述收纳组件包括储纳抽屉、转杆、分类盒和干燥盒，所述储纳抽屉内部安装有所述转杆，且所述转杆顶部安装有所述分类盒，所述储纳抽屉内壁安置有所述干燥盒。
[0013]优选的，所述分类盒通过所述转杆与所述储纳抽屉构成转动连接，且所述分类盒与所述储纳抽屉呈平行状分布。
[0014]本技术提供了一种耐疲劳的芯片测试装置，具备以下有益效果：
[0015]1、该耐疲劳的芯片测试装置，采用多个组件之间的相互配合设置，不仅能够实现芯片的快速插拔，同时还能够减小芯片引脚受损的情况，还能够提升设备的耐疲劳性，并通过散热组件能够对芯片进行降温，提升其安全性能。
[0016]2、本技术通过测试台与辅助组件之间的相互配合设置，使得在芯片对准放置于放置槽内部时，芯片的下表面与辅助片接触，配合其表面的软胶片能够减小辅助片与芯片间的磨损，并在芯片下压进入放置槽内部时，芯片压动连接杆由于U型架内部呈密封状，在连接杆下移时能移动硅胶活塞与提手上升，反之，在测试完成后压动提手，U型架另一端的连接杆受力上升，从芯片的两侧将芯片从放置槽中顶出，该设置不仅能够方便芯片的快速拔出，同时还能够减小拔出芯片时对设备的影响，提升设备的耐疲劳性。
[0017]3、本技术通过散热组件与测试台之间的相互配合设置，在将芯片放置于放置槽内部时，通过将散热座沿阻尼转盘转动至放置槽的正上方，并在伸缩杆的驱动下使得散热座贴近并挤压芯片，使得芯片能够从顶部均匀受力压进放置槽中，避免下压时受力不均导致芯片引脚损坏，同时在散热风扇的驱动，能减小芯片测试时产生的温度，提升其安全性，同时还能保证芯片的耐疲劳性。
[0018]4、本技术通过滑槽、防尘板与基座之间的相互配合设置，在设备使用完成后，将内部的组件收纳折叠后，拉动防尘板可将基座内部的测试台覆盖，避免不用时灰尘对基座内部的影响，配合防尘板外端的磁吸片能够方便其开合方式。
附图说明
[0019]图1为本技术一种耐疲劳的芯片测试装置的整体结构示意图；
[0020]图2为本技术一种耐疲劳的芯片测试装置的辅助组件结构示意图；
[0021]图3为本技术一种耐疲劳的芯片测试装置的散热组件结构示意图；
[0022]图4为本技术一种耐疲劳的芯片测试装置的收纳组件结构示意图；
[0023]图5为本技术一种耐疲劳的芯片测试装置的U型架立体结构示意图。
[0024]图中：1、基座；2、滑槽；3、防尘板；4、测试台；5、放置槽；6、辅助组件；601、U型架；602、提手；603、硅胶活塞；604、连接杆；605、辅助片；606、软胶片；7、散热组件；701、阻尼转盘；702、伸缩杆；703、散热座；704、柔性导热片；705、散热风扇；8、封板；9、磁吸片；10、收纳组件；1001、储纳抽屉；1002、转杆；1003、分类盒；1004、干燥盒。
具体实施方式
[0025]如图1
‑
4所示，一种耐疲劳的芯片测试装置，包括基座1和散热组件7，基座1两侧均开设有滑槽2，且滑槽2内部滑动安装有防尘板3，基座1中部安装有测试台4，且测试台4表面开设有放置槽5，放置槽5两侧均设置有用于芯片快速插接的辅助组件6，用于芯片耐疲劳的散热组件7安装于测试台4上方，防尘板3外端安装有封板8，且封板8内壁连接有磁吸片9，
[0026]请参考图1、图2和图5所示，辅助组件6由U型架601、提手602、硅胶活塞603、连接杆604、辅助片605和软胶片606构成，
[0027]其中，U型架601左端活动连接有提手602，且提手602底部连接有硅胶活塞603，U型架601另一端连接有连接杆604，且连接杆604表面连接有辅助片605，辅助片605顶部粘接有软胶片606，提手602通过硅胶活塞603与U型架601构成密封连接，且提手602呈直角状结构，连接杆604通过硅胶活塞603与提手602构成传动连接，且连接杆604与提手602关于U型架601的竖直中心线对称分布，通过测试台4与辅助组件6之间的相互配合设置，使得在芯片对准放置于放置槽5内部时，芯片的下表面与辅助片605接触，配合其表面的软胶片606能够减小辅助片605与芯片间的磨损，并在芯片下压进入放置槽5内部时，芯片压动辅助片605与连接杆604由于U型架601内部呈密封状，在连接杆604下移时能移动硅胶活塞603与提手602上升，反之，在测试完成后压动提手602，U型架601另一端的连接杆604受力上升，辅本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种耐疲劳的芯片测试装置，包括基座(1)和散热组件(7)，其特征在于，所述基座(1)两侧均开设有滑槽(2)，且所述滑槽(2)内部滑动安装有防尘板(3)，所述基座(1)中部安装有测试台(4)，且所述测试台(4)表面开设有放置槽(5)，所述放置槽(5)两侧均设置有用于芯片快速插接的辅助组件(6)，且所述辅助组件(6)包括U型架(601)、提手(602)、硅胶活塞(603)、连接杆(604)、辅助片(605)和软胶片(606)，所述U型架(601)左端活动连接有所述提手(602)，且所述提手(602)底部连接有所述硅胶活塞(603)，所述U型架(601)另一端连接有所述连接杆(604)，且所述连接杆(604)表面连接有所述辅助片(605)，所述辅助片(605)顶部粘接有所述软胶片(606)，用于芯片耐疲劳的散热组件(7)安装于所述测试台(4)上方。2.根据权利要求1所述的一种耐疲劳的芯片测试装置，其特征在于，所述提手(602)通过所述硅胶活塞(603)与所述U型架(601)构成密封连接，且所述提手(602)呈直角状结构。3.根据权利要求1所述的一种耐疲劳的芯片测试装置，其特征在于，所述连接杆(604)通过所述硅胶活塞(603)与所述提手(602)构成传动连接，且所述连接杆(604)与所述提手(602)关于所述U型架(601)的竖直中心线对称分布。4.根据权利要求1所述的一种耐疲劳的芯片测试装置，其特征在于，所述散热组件(7)包括阻尼转盘(701)、伸缩杆(702)、散热座(703)、柔性导热片(704)和散热风扇(705)，且所...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄毅，
申请(专利权)人：苏州易行电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：