【技术实现步骤摘要】
一种多反射式角度测量系统及测量方法
[0001]本专利技术属于角度测量领域，具体涉及一种多反射式角度测量系统及测量方法。
技术介绍
[0002]目前，在进行高精度角度测量时，常常会采用光栅作为高精度角度测量的测量元件。但是在现有技术中，光栅精度会受限于光栅刻线密度以及刻线精度。因此，将使用光栅运用到一些要求极高的角度测量场景中时，例如用于计量检定的高精度气浮转台，所需精度0.5角秒以上的测量精度常规光栅很难满足。同时由于光栅原理决定了测量精度依赖于光栅刻线的单位密度，刻线密度无法提高的情况下精度也很难进一步提高。
技术实现思路
[0003]本专利技术提供一种干涉式角度测量系统及测量方法，其目的在于解决现有的角度测量方法无法达到高精度测量的问题。
[0004]为了达到上述目的，本专利技术提供一种多反射式角度测量系统及测量方法，包括第一反射镜和第一检测模组，所述第一反射镜用于与被测物品连接，并与被测物品同轴转动；所述第一检测模组包括：激光器，所述激光器固定对于所述第一反射镜设置，用于向所述第一反射镜发射激...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多反射式角度测量系统，其特征在于：包括第一反射镜和第一检测模组，所述第一反射镜用于与被测物品连接，并可以与被测物品同轴转动；所述第一检测模组包括：激光器(1)，所述激光器(1)相对于所述第一反射镜固定设置，用于向所述第一反射镜发射激光；第二反射镜，所述第二反射镜相对于第一反射镜固定设置，所述第一反射镜和第二反射镜之间间隙用于供激光进行多次反射；激光分析单元，所述激光分析单元用于接收经过所述第一反射镜和第二反射镜多次反射的激光，并通过第一反射镜在初始状态下与第一反射镜转动时和/或转动后激光照射位置的变化，从而得出第一反射镜的角度变化。2.根据权利要求1所述的一种多反射式角度测量系统，其特征在于：所述激光分析单元包括光电探测器和处理器，所述光电探测器用于测量激光的照射位置，所述处理器用于分析初始状态下与第一反射镜转动时和/或转动后激光照射位置的变化，从而得出第一反射镜的角度变化。3.根据权利要求1所述的一种多反射式角度测量系统，其特征在于：所述第一反射镜为棱锥反射镜(3)，所述第二反射镜为平面反射镜(4)，所述平面反射镜(4)设置于所述棱锥反射镜(3)侧面；所述棱锥反射镜(3)用于与被测物品同轴转动，所述棱锥反射镜(3)与平面反射镜(4)之间用于供激光多次反射。4.根据权利要求3所述的一种多反射式角度测量系统，其特征在于：所述平面反射镜(4)设置为一块，用于多次接收并反射所述棱锥反射镜(3)射出的激光。5.根据权利要求3所述的一种多反射式角度测量系统，其特征在于：所述平面反射镜(4)与所述棱锥反射镜(3)的反射面平行设置；和/或，所述激光器(1)发出的激光入射方向与所述棱锥反射镜(3)的轴线平行。6.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：张白，周春艳，康学亮，张巍巍，江振青，
申请(专利权)人：北方民族大学，
类型：发明
国别省市：
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