电子设备的性能调节方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电子设备的性能调节方法、装置、电子设备及介质。电子设备的性能调节方法包括：检测电子设备外表面的指定区域内是否存在散热设备，指定区域包括与电子设备内部热能产生区域相对应的外部区域。若检测到存在散热设备，则触发电子设备的工作模式处于第一工作模式。根据工作模式与性能指标之间的对应关系，确定第一工作模式对应的第一性能指标。控制电子设备基于第一性能指标运行。通过本发明专利技术提供的方法，使电子设备在运行状态下的性能指标，可以基于电子设备的外表面的指定区域内是否存在散热设备进行确定，进而有助于自动提升电子设备性能的同时，使电子设备的性能调节方式更多元化。式更多元化。式更多元化。

Performance adjustment method, device, electronic equipment and medium of electronic equipment

【技术实现步骤摘要】
电子设备的性能调节方法、装置、电子设备及介质


[0001]本专利技术涉及电子设备控制
，具体涉及一种电子设备的性能调节方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]电子设备中包括集成电路。在电子设备运行的过程中，随着部件的调用以及使用时长，会导致集成电路内部产生高温热能。但当热能过高时，容易影响电子设备的性能指标。
[0003]相关技术中，电子设备中部署有系统风道，能够采用风冷散热的方式，将高功耗的部件所产生的热量通过热管或者真空腔均热板(Vapor Chamber， VC)导入风道出风口附近的散热片，并通过离心风扇吹出系统，进而达到散热的目的。
[0004]但采用该种方式进行散热，对环境依赖比较高，例如气温升高以及超频时，则容易导致电子设备的散热能力差，进而影响电子设备的性能指标。

技术实现思路

[0005]因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中对电子设备进行散热时因为环境因素，导致散热效果差，进而影响电子设备的性能指标的缺陷，从而提供一种电子设备的性能调节方法、装置、电子设备及介质。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子设备的性能调节方法，其特征在于，所述方法包括：检测所述电子设备外表面的指定区域内是否存在散热设备，所述指定区域包括与所述电子设备内部热能产生区域相对应的外部区域；若检测到存在所述散热设备，则触发所述电子设备的工作模式处于第一工作模式；根据工作模式与性能指标之间的对应关系，确定所述第一工作模式对应的第一性能指标；控制所述电子设备基于所述第一性能指标运行。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：若未检测到存在所述散热设备，则触发所述电子设备的工作模式处于第二工作模式；根据工作模式与性能指标之间的对应关系，确定所述第二工作模式对应的第二性能指标，所述第二性能指标小于所述第一性能指标；控制所述电子设备基于所述第二性能指标运行。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：通过所述电子设备的用户界面显示所述电子设备的工作模式。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备包括检测模块；所述检测所述电子设备外表面的指定区域内是否存在散热设备，包括：通过检测模块检测所述电子设备外表面的指定区域内是否存在散热设备。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述检测模块包括霍尔传感器；所述通过检测模块所述电子设备外表面的指定区域内是否存在散热设备，包括：通过所述霍尔传感器检测所述电子设备外表面的指定区域内是否存在磁体，所述磁体部署于所述散热设备吸热端的外表面；所述若存在所述散热设备，则触发所述电子设备的工作模式处于第一工作模式，包括：若检测到存在磁体，则触发所述电子设备的工作模式处于第一工作模式。6.一种电子设备的性能调节装置，其特征在于，所述装置包括：检测单...

【专利技术属性】
技术研发人员：关明慧，
申请(专利权)人：紫光计算机科技有限公司，
类型：发明
国别省市：