一种可分离式扫描隧道显微镜样品架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可分离式扫描隧道显微镜样品架，包括样品托底板、第一样品台、第二样品台和弹片，所述第一样品台与所述样品托底板固定连接，二者形成第一凹槽，所述第二样品台位于所述第一凹槽中，所述第二样品台与所述样品托底板滑移配合。所述第二样品台底部具有第二凹槽，所述弹片位于第二凹槽中且一端与第二样品台固定连接，所述弹片与所述样品托底板止抵。根据本实用新型专利技术的可分离式扫描隧道显微镜样品架在不改动扫描隧道显微镜仪器的前提下实现了双样品的单独处理与导电性不好的样品的原位针尖修饰，提高了实验的效率。提高了实验的效率。提高了实验的效率。

A separable sample rack for scanning tunneling microscope

【技术实现步骤摘要】
一种可分离式扫描隧道显微镜样品架


[0001]本技术涉及扫描隧道显微镜(STM)
，特别涉及一种可分离式扫描隧道显微镜样品架。

技术介绍

[0002]扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope，STM）的基本原理是量子隧穿效应，针尖与样品作为两个电极，当针尖与样品距离很近时，在外加偏压的作用下针尖和样品之间产生隧穿电流，通过记录隧穿电流的变化获得样品表面的高度信息。
[0003]现有技术中，由于针尖与样品之间的距离达到原子尺度，因此在扫描过程中有时针尖会不可避免的碰到样品，导致其导电性变差，影响样品的扫描。此时，若是扫描导电性不好的样品，通常会转换到导电性良好的金属单晶样品上进行针尖修饰，通过针尖与金属单晶的相互作用来改善针尖导电性后，再换回原有的样品继续扫描。
[0004]实验中的样品通常不是金属单晶样品，而是导电性较差的非金属样品。由于扫描隧道显微镜系统中扫描台只能放置一个样品架，当导电性差的样品进行实验遇到针尖状态变差的情况时，需要进行针尖修饰。此时，需要将实验样品从STM扫描台中取出本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可分离式扫描隧道显微镜样品架，其特征在于，包括：样品托底板；第一样品台，所述第一样品台设在所述样品托底板上，且所述第一样品台与所述样品托底板之间形成第一凹槽；第二样品台，所述第二样品台位于所述第一凹槽内，所述第二样品台与所述样品托底板滑移配合，所述第二样品台沿着所述第一凹槽延伸方向移动；弹片，所述弹片设在所述第二样品台内且与所述第二样品台固定连接，所述弹片用于控制所述第二样品台移动。2.根据权利要求1所述的可分离式扫描隧道显微镜样品架，其特征在于，所述第二样品台底部设有第二凹槽，所述第二样品台的后端设有螺纹孔，所述螺纹孔连通所述第二凹槽。3.根据权利要求2所述的可分离式扫描隧道显微镜样品架，其特征在于，所述弹片包括背板和弯板，所述背板和所述弯板形成J型结构，所述背板通过螺栓与所述第二样品台固定连接，所述弯板位于所述第二凹槽中，所述弯板底部设有凸起。4.根据权利要求3所述的可分离式扫描隧道显微镜样品架，其特征在于，还设有传样杆，所述传样杆与所述第二样品台后端螺纹孔螺纹配合，其端部与所述弹片止抵...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋业恒，孙梦鸽，
申请(专利权)人：河南大学，
类型：新型
国别省市：