传感器制造技术

技术编号:34040976 阅读:12 留言:0更新日期:2022-07-06 13:28
本申请实施例提供一种传感器。所述传感器包括:发光部,其发射光;受光部,其包括:受光透镜,其对从检出位置反射的反射光进行汇聚;受光元件,其接收经过所述受光透镜的反射光;以及透镜调节部,其调整所述受光透镜的位置以改变所述检出位置,其中,所述检出位置和所述传感器之间的检出距离与所述透镜调节部的调节位置之间的关系为线性关系。由此,能够高效、均匀地对透镜进行调节,提高传感器的易用性。提高传感器的易用性。提高传感器的易用性。

sensor

【技术实现步骤摘要】
传感器


[0001]本申请实施例涉及传感器
,尤其涉及一种传感器。

技术介绍

[0002]随着光学测量技术的发展,用于测量的传感器已广泛应用在手机等消费类电子行业、安防和监控、机器人、医疗和生物等领域中。目前,可以通过调整传感器内的透镜的位置来改变传感器的检出位置。
[0003]应该注意,上面对技术背景的介绍只是为了方便对本申请的技术方案进行清楚、完整的说明,并方便本领域技术人员的理解而阐述,不能仅仅因为这些方案在本申请的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。

技术实现思路

[0004]专利技术人发现,在现有的传感器内,在通过透镜调节部对传感器的透镜位置进行调整时,在近检出位置和远检出位置处,透镜调节部的调节位移量与检出位置的位移量之间的比例不同。因此,存在检出距离调节效率低,检出距离的调节幅度均匀性差的问题。
[0005]为了解决上述技术问题中的至少一个,本申请实施例提供一种传感器。通过使透镜调节部的调节位置与检出距离之间为线性关系,能够高效、均匀地对传感器的检出位置进行调节,提高传感器的易用性。
[0006]根据本申请实施例的一个方面,提供一种传感器,其中,所述传感器包括:发光部,其发射光;受光部,其包括:受光透镜,其对从检出位置反射的反射光进行汇聚;受光元件,其接收经过所述受光透镜的反射光;以及透镜调节部,其调整所述受光透镜的位置以改变所述检出位置,其中,所述检出位置和所述传感器之间的检出距离与所述透镜调节部的调节位置之间的关系为线性关系。r/>[0007]本申请实施例的有益效果之一在于:通过使透镜调节部的调节位置与检出距离之间为线性关系,能够高效、均匀地对传感器的检出位置进行调节,提高传感器的易用性。
[0008]参照后文的说明和附图,详细公开了本申请实施例的特定实施方式,指明了本申请实施例的原理可以被采用的方式。应该理解,本申请的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内,本申请的实施方式包括许多改变、修改和等同。
附图说明
[0009]所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解,其构成了说明书的一部分,用于例示本申请的实施方式,并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的实施方式。在附图中:
[0010]图1是本申请实施例的传感器的结构的一个示意图;
[0011]图2是本申请实施例的传感器的结构的另一个示意图;
[0012]图3是本申请实施例的传感器的检出距离与受光透镜的位置关系的一个示意图;
[0013]图4是本申请实施例的传感器的一个剖面图;
[0014]图5是本申请实施例的透镜调节部和受光透镜的结构的一个示意图;
[0015]图6是本申请实施例的旋钮的结构的一个示意图;
[0016]图7是作为参考例的传感器的检出距离与受光透镜的位置关系的一个示意图;
[0017]图8是本申请实施例的传感器的检出距离与旋钮的位置关系的一个示意图。
具体实施方式
[0018]参照附图,通过下面的说明书,本申请实施例的前述以及其它特征将变得明显。在说明书和附图中,具体公开了本申请的特定实施方式,其表明了其中可以采用本申请实施例的原则的部分实施方式,应了解的是,本申请不限于所描述的实施方式,相反,本申请实施例包括落入所附权利要求的范围内的全部修改、变型以及等同物。
[0019]在本申请实施例中,术语“第一”、“第二”等用于对不同元素从称谓上进行区分,但并不表示这些元素的空间排列或时间顺序等,这些元素不应被这些术语所限制。术语“和/或”包括相关联列出的术语的一种或多个中的任何一个和所有组合。术语“包含”、“包括”、“具有”等是指所陈述的特征、元素、元件或组件的存在,但并不排除存在或添加一个或多个其他特征、元素、元件或组件。
[0020]在本申请实施例中,单数形式“一”、“该”等包括复数形式,应广义地理解为“一种”或“一类”而并不是限定为“一个”的含义;此外术语“所述”应理解为既包括单数形式也包括复数形式,除非上下文另外明确指出。此外术语“根据”应理解为“至少部分根据
……”
,术语“基于”应理解为“至少部分基于
……”
,除非上下文另外明确指出。
[0021]针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用,与其它实施方式中的特征相组合,或替代其它实施方式中的特征。术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在,但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。
[0022]第一方面的实施例
[0023]本申请实施例提供一种传感器。图1是本申请实施例的传感器的结构的一个示意图,图2是本申请实施例的传感器的结构的另一个示意图。如图1所示,传感器100包括:发光部1、受光部2。其中,发光部1用于发射光。如图2所示,受光部2包括受光透镜21、受光元件22和透镜调节部23。受光透镜21用于对从检出位置反射的反射光进行汇聚。受光元件22接收经过受光透镜21汇聚的反射光。透镜调节部23调整受光透镜21的位置以改变检出位置,其中,检出位置和传感器100之间的检出距离与透镜调节部23的调节位置之间的关系为线性关系。
[0024]根据本申请实施例,通过使透镜调节部23的调节位置与检出距离之间为线性关系,能够高效、均匀地对传感器100的检出位置进行调节,从而能够提高传感器100的易用性。
[0025]值得注意的是,图1示例性的说明了本申请实施例的传感器100的硬件构成,但是,其不是对本申请的传感器的硬件构成的限制,本申请实施例的传感器也可以采用其他硬件
结构来实现类似的功能。
[0026]在一些实施例中,传感器100可以是各种类型的传感器,例如,其可以是三角测量传感器、接近开关、接触开关、超声开关、飞行时间(TOF)和光电开关等。另外,该传感器可以用于各种用途,例如,其可以用于检测物体、测量距离、光通信等等。
[0027]在一些实施例中,受光元件21可以搭载在电路板(例如PCB板)上,对由受光透镜21汇聚的反射光进行处理,从而能够计算出检测对象物的检出位置或检出位置与传感器100之间的检出距离。
[0028]在一些实施例中,检出距离可以是检出位置与传感器100在传感器100的发光部1的光出射方向(第二方向)上的距离。但是,本申请不限于此,检出距离也可以定义为其他方向上的距离。
[0029]在一些实施例中,透镜调节部23可以以各种方式调整受光透镜21的位置。例如,如图2所示,透镜调节部23可以通过旋转旋钮的方式,带动受光透镜21在第一方向(例如,图2所示的上下方向)上移动。透镜调节部23的调节位置可以是旋钮的以规定位置为起点、旋转规定旋转量之后的位置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种传感器,其特征在于,所述传感器包括:发光部,其发射光;受光部,其包括:受光透镜,其对从检出位置反射的反射光进行汇聚;受光元件,其接收经过所述受光透镜的反射光;以及透镜调节部,其调整所述受光透镜的位置以改变所述检出位置,其中,所述检出位置和所述传感器之间的检出距离与所述透镜调节部的调节位置之间的关系为线性关系。2.根据权利要求1所述的传感器,其特征在于,在所述受光透镜的位置与所述检出距离之间为非线性关系的情况下,所述透镜调节部的调节位置与所述受光透镜的位置之间为非线性关系。3.根据权利要求2所述的传感器,其特征在于,所述受光透镜的位移量与所述检出位置的位移量之间的比值越小,所述透镜调节部的调节位移量与所述受光透镜的位移量之间的比值越大;所述受光透镜的位移量与所述检出位置的位移量之间的比值越大,所述透镜调节部的调节位移量与所述受光透镜的位移量之间的比值越小。4.根据权利要求1所述的传感器,其特征在于,所述透镜调节部包括:旋钮,其包括头部和杆部,所述头部以可转动的方式固定在所述传...

【专利技术属性】
技术研发人员:张禹伏红玉何竞春
申请(专利权)人:欧姆龙上海有限公司
类型:新型
国别省市:

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