光标调整方式的生成方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:34036535 阅读:35 留言:0更新日期:2022-07-06 12:26
本申请涉及一种光标调整方式的生成方法、装置、计算机设备和存储介质。上述方法包括:获取多个样本光点图像;样本光点图像中包括有样本光标和与样本光点相对应的样本虚拟光点;分别确定每个样本光点图像各自对应的样本光点与发射源之间的物理距离,得到各样本光点图像各自对应的样本物理距离;分别确定每个样本光点图像中的样本虚拟光点的位置信息;基于各样本光点图像各自对应的样本物理距离和位置信息,得到光标调整方式;其中,光标调整方式用于调整光点图像中的光标的位置,得到目标图像,目标图像中的光标框选虚拟光点。采用本方法能够提高光标调整的准确性。够提高光标调整的准确性。够提高光标调整的准确性。

Generation method, device, computer equipment and storage medium of cursor adjustment mode

【技术实现步骤摘要】
光标调整方式的生成方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本申请涉及距离测量
,特别是涉及一种光标调整方式的生成方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随着距离测量技术的发展,出现一种将摄像头和激光传感器结合来进行激光测距的技术,其中,摄像头用于对被测物体进行快速聚焦,使得激光传感器能准确地对较远处的被测物体进行测量。
[0003]在使用带有摄像头和激光传感器的测距设备进行测量前,通常需要将相机所搭载的摄像头和激光传感器进行同轴标定,也即确保摄像头光标的中心与激光传感器光轴的中心重合。目前,多采用图像识别技术对可视范围内的激光进行跟踪标定,以达到摄像头和激光传感器能同轴测量的效果。
[0004]然而,由于复杂的图像识别技术提高了设备同轴标定的难度,因此,如何快速地对摄像头光标进行调整,进而实现对激光的准确跟踪是本公开需要解决的问题。

技术实现思路

[0005]基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提高光标调整准确性的光标调整方式的生成方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光标调整方式的生成方法,其特征在于,所述方法包括:获取多个样本光点图像;所述样本光点图像为针对发射源发射的光线打在标靶上的样本光点所采集的图像;所述样本光点图像中包括有样本光标和与样本光点相对应的样本虚拟光点;分别确定每个样本光点图像各自对应的样本光点与所述发射源之间的物理距离,得到各所述样本光点图像各自对应的样本物理距离;分别确定每个样本光点图像中的样本虚拟光点的位置信息;基于各所述样本光点图像各自对应的样本物理距离和位置信息,得到光标调整方式;其中,所述光标调整方式用于调整光点图像中的光标的位置,得到目标图像,所述目标图像中的光标框选虚拟光点。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:获取多个距离取值区间;对于多个距离取值区域中的每个距离取值区间,均确定落入当前距离取值区间的所述样本物理距离所对应的样本光点图像,得到与所述当前距离取值区间相对应的至少一个样本光点图像;所述基于各所述样本光点图像各自对应的样本物理距离和位置信息,得到光标调整方式,包括:对于多个距离取值区域中的每个距离取值区间,均根据当前距离取值区间所对应的样本光点图像的样本物理距离和位置信息,得到与所述当前距离取值区间相对应的光标调整方式。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于各所述样本光点图像各自对应的样本物理距离和位置信息,得到光标调整方式,包括:根据各所述样本光点图像各自对应的位置信息,确定各所述样本光标在相应样本光点图像中的水平参数位移量和垂直参数位移量;对各所述水平参数位移量和各所述样本物理距离进行第一线性拟合,得到样本物理距离与水平参数位移量之间的第一调整方式;对各所述垂直参数位移量和各所述样本物理距离进行第二线性拟合,得到样本物理距离与垂直参数位移量之间的第二调整方式;根据所述第一调整方式和所述第二调整方式,得到光标调整方式。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据各所述样本光点图像各自对应的位置信息,确定各所述样本光标在相应样本光点图像中的水平参数位移量和垂直参数位移量,包括:对于多个样本光点图像中的每个样本光点图像,均根据当前样本光点图像中的当前样本虚拟光点的位置信息,确定所述当前样本光点图像中的当前样本光标在图像坐标系中的样本图像坐标;根据内参转换矩阵和所述当前样本光标的样本图像坐标,确定所述当前样本光标在相机坐标系中的样本光标坐标;根据所述当前样本光标的样本光标坐标和初始光标坐标,确定所述当前样本光标对应...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭清春侴智黄杰峰
申请(专利权)人:深圳市迈测科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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