变倍齐焦性调试方法技术

本发明专利技术涉及一种采用了将试景深支架放在待调试的显微镜上，将待调试的显微镜和景深支架之间的工作距离调试到预设的工作距离；再将待调试的显微镜按照设置的不同倍率进行调试，将在不同倍率下的景深中心的焦平面调试一致；检查调试结果，直至所述的在不同倍率下的景深中心的焦平面调试一致。采用上述的变倍齐焦性调试方法，可以通过景深板使得各个档位的焦平面调试到同一个位置，也就是将各个档位景深的中间位置调试到同一个焦距，避免了不同人不同眼睛的视度对分辨力板的解析不同造成各个档位的焦平面不在同一焦距，从而影响变倍的齐焦性。使得操作人员再看景深板更能捕捉焦平面，使得各个档位的焦平面在同一个焦距上，不容易误判。提高了产品的调试质量。提高了产品的调试质量。提高了产品的调试质量。

【技术实现步骤摘要】
变倍齐焦性调试方法


[0001]本专利技术的实施例涉及一种显微镜的调试方法，特别涉及一种变倍齐焦性调试方法。

技术介绍

[0002]在现有的显微镜的调试方法，基本都采用各个档位用分辨力板进行调试，由于是人工调试，每个人的不同眼睛的视度对分辨力板的解析不同造成各个档位的焦平面不在同一焦距，从而影响变倍的齐焦性，这个方法的局限在于并不能将各个档位的焦平面准确的调试到同一平面。采用分辨力板调试的精度不高，影响了产品的调试质量。

技术实现思路

[0003]本专利技术的实施方式的目的在于提供一种采用变倍齐焦性调试方法来调试，避免因每个人的不同眼睛的视度对分辨力板的解析不同造成各个档位的焦平面不在同一焦距，从而影响变倍的齐焦性。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术的实施方式设计了1、一种变倍齐焦性调试方法，其特征在于，包括：以下步骤：
[0005]步骤S10：准备工作：准备调试景深支架；将所述的试景深支架放在待调试的显微镜上，进入步骤S20；
[0006]步骤S20：调试景深支架，将所述待调试的显微镜和所述的景本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种变倍齐焦性调试方法，其特征在于，包括：以下步骤：步骤S10：准备工作：准备调试景深支架；将所述的试景深支架放在待调试的显微镜上，进入步骤S20；步骤S20：调试景深支架，将所述待调试的显微镜和所述的景深支架之间的工作距离调试到预设的工作距离；进入步骤S30；步骤S30：变倍调试，将所述待调试的显微镜按照设置的不同倍率进行调试，将在不同倍率下的景深中心的焦平面调试一致；进入步骤S40；步骤S40：检查调试结果，如果在不同倍率下的景深中心的焦平面调试一致的，进入步骤S50；如果在不同倍率下的景深中心的焦平面调试不一致的，则返回步骤S30；直至所述的在不同倍率下的景深中心的焦平面调试一致。2.根据权利要求1所述的变倍齐焦性调试方法，其特征在于，所述的预设的工作距离为大于0mm
‑
500mm。3.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建钢，
申请(专利权)人：上海轶德医疗科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：