模拟量卡件的精度校验方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

本申请提出一种模拟量卡件的精度校验方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：对标准信号源输出的第一测试信号进行精度学习，并对测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准；将经过精度校准的第二测试信号输入到待测模拟量卡件，得到所述待测模拟量卡件输出的第二输出信号；基于所述第二输出信号，确定所述待测模拟量卡件的精度是否符合要求。本发明专利技术实现了待测模拟量卡件精度的自动测试，同时也提高了待测模拟量卡件精度测试的准确性。高了待测模拟量卡件精度测试的准确性。高了待测模拟量卡件精度测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
模拟量卡件的精度校验方法、装置、设备和存储介质


[0001]本申请涉及测试领域，特别是涉及一种模拟量卡件的精度校验方法、装置、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]目前DCS控制系统已普遍运用于国内大型电力机组，起到了集中管理、分散控制的作用，使机组操纵员能够实时对机组进行监视及控制。在整个DCS控制系统的布置中，使用了大量的模拟量卡件。随着控制系统服役时间的增长，卡件老化、精度下降等问题将开始逐步显现，为了保证机组的安全稳定运行，降低模拟量卡件在线维修情况的发生概率，需要对模拟量卡件的精度进行测试。
[0003]模拟量卡件的精度不够的情况下，现有技术通常对模拟量卡件直接更换或返厂维修，更换或维修的周期长且成本高。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种模拟量卡件的精度校验方法、装置、设备和存储介质。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提出一种模拟量卡件的精度校验方法，所述方法包括：
[0006]对标准信号源输出的第一测试信号进行精度学习，并对测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准；
[0007]将经过精度校准的第二测试信号输入到待测模拟量卡件，得到所述待测模拟量卡件输出的第二输出信号；
[0008]基于所述第二输出信号，确定所述待测模拟量卡件的精度是否符合要求。
[0009]在一实施例中，所述对标准信号源输出的第一测试信号进行精度学习，并对测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准包括：
[0010]将所述第一测试信号输入到待测模拟量卡件，输出得到第一输出信号；
[0011]基于所述第一输出信号以及所述第一测试信号对应的标准输出信号，确定对应的偏差值；
[0012]基于所述偏差值对所述测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准。
[0013]在一实施例中，所述基于所述第二输出信号，确定所述待测模拟量卡件的精度是否符合要求包括：
[0014]确定所述第二输出信号是否在预设范围内；其中，所述预设范围基于所述第二输出信号对应的标准输出信号及所述待测模拟量卡件的精度要求所确定；
[0015]若是，则确定所述待测模拟量卡件的精度符合要求；若否，则确定所述待测模拟量卡件的精度不符合要求。
[0016]在一实施例中，所述方法还包括：
[0017]在所述待测模拟量卡件的精度不符合要求的情况下，对所述待测模拟量卡件的精
度进行校准。
[0018]第二方面，本专利技术实施例提出一种模拟量卡件的精度校验装置，所述装置包括：
[0019]第一校准模块，用于对标准信号源输出的第一测试信号进行精度学习，并对测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准；
[0020]测试模块，用于将经过精度校准的第二测试信号输入到待测模拟量卡件，得到所述待测模拟量卡件输出的第二输出信号；
[0021]确定模块，用于基于所述第二输出信号，确定所述待测模拟量卡件的精度是否符合要求。
[0022]在一实施例中，所述第一校准模块包括：
[0023]输入模块，用于将所述第一测试信号输入到待测模拟量卡件，输出得到第一输出信号；
[0024]计算模块，用于基于所述第一输出信号以及所述第一测试信号对应的标准输出信号，确定对应的偏差值。
[0025]第一校准子模块，用于基于所述偏差值对所述测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准。
[0026]在一实施例中，所述确定模块具体用于：
[0027]确定所述第二输出信号是否在预设范围内；其中，所述预设范围基于所述第二输出信号对应的标准输出信号及所述待测模拟量卡件的精度要求所确定；
[0028]若是，则确定所述待测模拟量卡件的精度符合要求；若否，则确定所述待测模拟量卡件的精度不符合要求。
[0029]在一实施例中，所述装置还包括：
[0030]第二校准模块，用于在所述待测模拟量卡件的精度不符合要求的情况下，对所述待测模拟量卡件的精度进行校准。
[0031]第三方面，本专利技术实施例提出一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行第一方面所述的步骤。
[0032]第四方面，本专利技术实施例提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现第一方面所述的步骤。
[0033]相比于现有技术，上述方法、装置、计算机设备和存储介质，通过对标准信号源输出的第一测试信号进行精度学习，并对测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准；将经过精度校准的第二测试信号输入到待测模拟量卡件，得到所述待测模拟量卡件输出的第二输出信号；基于所述第二输出信号，确定所述待测模拟量卡件的精度是否符合要求。本专利技术可保障系统内的测试信号源具备标准信号源的输出功能及其准确性，校准后的测试信号源可进行多种类型模拟量卡件的校准工作，实现了待测模拟量卡件精的自动测试，同时也提高了待测模拟量卡件精度测试的准确性。
附图说明
[0034]图1为一实施例中模拟量卡件的精度校验方法应用环境的结构示意图；
[0035]图2为一实施例中模拟量卡件的精度校验方法的流程示意图；
[0036]图3为一实施例中精度学习及校准方法的流程示意图；
[0037]图4为一实施例中模拟量卡件的精度校验装置的模块连接示意图；
[0038]图5为一实施例中计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
[0039]为了更清楚地说明本专利技术的实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本专利技术应用于其他类似情景。除非从语言环境中显而易见或另做说明，图中相同标号代表相同结构或操作。
[0040]如本专利技术和权利要求书中所示，除非上下文明确提示例外情形，“一”、“一个”、“一种”和/或“该”等词并非特指单数，也可包括复数。一般说来，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的步骤和元素，而这些步骤和元素不构成一个排它性的罗列，方法或者设备也可能包含其他的步骤或元素。
[0041]虽然本专利技术对根据本专利技术的实施例的系统中的某些模块做出了各种引用，然而，任何数量的不同模块可以被使用并运行在计算设备和/或处理器上。模块仅是说明性的，并且系统和方法的不同方面可以使用不同模块。
[0042]应当理解的是，当单元或模块被描述为“连接”、“耦接”其它单元、模块或块时，其可以指直接连接或耦接，或者与其它单元、模块或块通信，或者可以存在中间的单元、模块或块，除非上下文明确指明其它方式。本文所使用的术语“和/或”可包括一个或多个相关列出项目的任意与所有组合。
[0043]本申请提供的模拟量卡件的精度校验方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，终端102通过网络与服务器104进行通信。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种模拟量卡件的精度校验方法，其特征在于，所述方法包括：对标准信号源输出的第一测试信号进行精度学习，并对测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准；将经过精度校准的第二测试信号输入到待测模拟量卡件，得到所述待测模拟量卡件输出的第二输出信号；基于所述第二输出信号，确定所述待测模拟量卡件的精度是否符合要求。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对标准信号源输出的第一测试信号进行精度学习，并对测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准包括：将所述第一测试信号输入到待测模拟量卡件，输出得到第一输出信号；基于所述第一输出信号以及所述第一测试信号对应的标准输出信号，确定对应的偏差值；基于所述偏差值对所述测试信号源输出的第二测试信号的精度进行校准。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二输出信号，确定所述待测模拟量卡件的精度是否符合要求包括：确定所述第二输出信号是否在预设范围内；其中，所述预设范围基于所述第二输出信号对应的标准输出信号及所述待测模拟量卡件的精度要求所确定；若是，则确定所述待测模拟量卡件的精度符合要求；若否，则确定所述待测模拟量卡件的精度不符合要求。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述待测模拟量卡件的精度不符合要求的情况下，对所述待测模拟量卡件的精度进行校准。5.一种模拟量卡件的精度校验装置，其特征在于，所述装置包括：第一校准模块，用于对标准信号源输出的第一测试信号进行精度学习，并对测试信号源输出的第二测试信...

【专利技术属性】
技术研发人员：王延财，祝莹莹，
申请(专利权)人：浙江立上科技有限公司，
类型：发明
国别省市：