一种铜柱导通测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种耳机铜柱导通测试装置，包括：底座，用于承载下述装置；承载机构，用于放置耳机；下压机构，包括支撑架、下压装置和第一检测头，支撑架设在承载机构的上方，下压装置设在支撑架上，第一检测头设在下压装置的活动端，当下压装置向下移动时，第一检测头与铜柱接触；水平机构，水平机构包括水平位移装置和第二检测头，第二检测头设在水平位移装置的活动端，第一检测头与铜柱接触配合；控制装置，控制下压机构和水平位移装置的启停。通过承载机构快速放置耳机，并限制铜柱位置，在开关控制下压装置和水平位移装置的位移实现弹针与耳机上铜柱的接触，从而进行导通测试，既方便又快捷，节省人力的同时又保证了检测质量。节省人力的同时又保证了检测质量。节省人力的同时又保证了检测质量。

【技术实现步骤摘要】
一种铜柱导通测试装置


[0001]本专利技术涉及耳机测试装置领域，尤其涉及一种铜柱导通测试装置。

技术介绍

[0002]为了快速给蓝牙耳机充电，现市场上普遍会在耳机的耳壳铆压二个铜柱与耳机的电池充电端正负相连接。这样只需将蓝牙耳机放入带有弹柱的对应充电盒，就可以快速方便的对其充电。但是铜柱是否铆压到位，是能否给耳机充电的关键。所以产线在铜柱铆压后，为了检验是否安装到位，需对其进行导通测试。但是现有检测铜柱一般通过人工操作来进行检验，需要人手动拿着弹针触碰铜柱检测铜柱是否安装到位，既麻烦又容易出现错误导致检测失误，使得铜柱的导通测试效率低下且准确率不高。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的之一在于提供一种铜柱导通测试装置，以解决现有技术中上述所提到的技术问题。
[0004]本专利技术的目的之一采用如下技术方案实现：一种耳机铜柱导通测试装置包括：
[0005]底座，用于承载下述装置；
[0006]承载机构，用于放置耳机，且耳机放置后铜柱被限制固定；
[0007]下压机构，所述下压机构包括支撑架、下压装置和第一检测头，所述支撑架设在承载机构的上方，所述下压装置设在支撑架上，所述第一检测头设在下压装置的活动端，当下压装置向下移动时，第一检测头与铜柱接触；
[0008]水平机构，所述水平机构包括水平位移装置和第二检测头，第二检测头设在水平位移装置的活动端，当水平位移装置向铜柱移动时，第二检测头与铜柱接触配合；
[0009]控制装置，所述控制装置包括控制器和开关，所述控制器连接并通过开关控制下压机构和水平位移装置的启停。
[0010]进一步地，所述水平位移装置包括第二气缸、导轨和滑动座，所述导轨设在底座上，所述滑动座滑动设在导轨上，导轨与第二气缸活动方向平行，所述第二检测头设在滑动座上。
[0011]进一步地，所述导轨和水平位移装置均设在底座的下方，所述底座上设有活动槽；
[0012]所述第一检测头包括连接柱和检测弹针，所述连接柱一端固定连接滑动座，另一端通过活动槽伸到底座的上方，且上端设有所述检测弹针。
[0013]进一步地，所述水平机构还包括水平缓冲装置，所述水平缓冲装置包括两个水平缓冲器，两个水平缓冲器分别设在滑动座两侧，且设在滑动座的活动路径上。
[0014]进一步地，所述下压装置包括第一气缸，所述第一气缸固定设在支撑架上，第一气缸向下竖直伸缩活动，第一气缸的活动端上固定有第一检测头；
[0015]所述第一检测头包括活动座和弹针，所述活动座与第一气缸的活动端固定连接。
[0016]进一步地，还包括竖向缓冲器，所述竖向缓冲器设在底座与活动座之间。
[0017]进一步地，所述支撑架包括两个设在承载机构一侧的竖杆和连接两个竖杆的支撑件，所述支撑件设在两个竖杆的上方；
[0018]所述第一气缸固定在支撑件上；
[0019]所述活动座上设有两个穿孔，所述穿孔与竖杆套设滑动连接。
[0020]进一步地，所述控制装置包括电源、控制板、开关和指示灯，所述控制板连接开关和指示灯，所述开关控制下压机构和水平机构的启停。
[0021]进一步地，所述控制装置还包括调压表和电磁阀，所述电磁阀连接开关和控制板。
[0022]进一步地，所述承载机构包括承载盒，所述承载盒内设有仿形槽，所述承载盒与底座活动固定连接。
[0023]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：
[0024]在本专利技术的导通测试装置中，通过承载机构快速放置耳机，并限制铜柱位置，再开关控制下压装置和水平位移装置的位移实现弹针与耳机上铜柱的接触，从而进行导通测试，既方便又快捷，节省人力的同时又保证了检测质量。
附图说明
[0025]图1为本专利技术的一些实施例的结构示意图；
[0026]图2为本专利技术的一些实施例的侧视图；
[0027]图3为本专利技术的一些实施例中上压机构结构示意图；
[0028]图4为本专利技术的一些实施例中水平机构结构示意图；
[0029]图5为图4的仰视图示意图；
[0030]图6为本专利技术的一些实施例中上压机构和水平机构整体示意图；
[0031]图7为本专利技术的一些实施例中承载机构示意图；
[0032]图8为本专利技术的一些实施例中承载机构总限位凸起示意图。
[0033]图9为本专利技术的一些实施例中缓冲块结构示意图。
[0034]图中：
[0035]1、底座；11、活动槽；12、限位槽；13、限位柱；
[0036]2、承载机构；21、仿形槽；211、限位凸起；212、限位孔；
[0037]3、下压机构；31、支撑架；311、竖杆；312、支撑件；32、下压装置；321、第一气缸；33、第一检测头；331、活动座；3311、穿孔；332、检测弹针；34、竖向缓冲器；35、支撑块；351、螺丝；352、过盈槽；
[0038]4、水平机构；41、水平位移装置；411、第二气缸；412、导轨；413、滑动座；42、第二检测头；421、连接柱；422、供电弹针；43、水平缓冲器；431、限位座；
[0039]5、控制装置；51、开关；52、电源；53、指示灯；54、调压表；55、电磁阀。
具体实施方式
[0040]下面，结合附图1至附图9以及具体实施方式，对本专利技术做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
[0041]本专利技术实施例一种耳机铜柱导通测试装置，如图1和图2所示，包括底座1、承载机
构2、下压机构3、水平机构4和控制装置5。
[0042]具体的，底座1用于承载下述装置；承载机构2用于放置耳机，并限制铜柱位置，使得铜柱统一与其他装置配合；下压机构3包括支撑架31、下压装置32和第一检测头33，支撑架31设在承载机构2的上方下压装置32设在支撑架31上，第一检测头33设在下压装置32的活动端，当下压装置32向下移动时，第一检测头33与铜柱接触，支撑架31包括两个设在承载机构2一侧的竖杆311和连接两个竖杆311的支撑件312支撑件312设在两个竖杆311的上方，下压装置32的固定部位固定在支撑件312上；
[0043]在一些实施例中，如图4所示水平机构4包括水平位移装置41和第二检测头42，第二检测头42设在水平位移装置41的活动端，当水平位移装置41向铜柱移动时，第二检测头42与铜柱接触配合，第二检测头42的作用主要用于接触铜柱后给铜柱所在检测电路供电；
[0044]的控制装置5包括控制器和开关51控制器连接并通过开关51控制下压机构3和水平位移装置41的启停。开关51控制下压装置32和水平位移装置41的位移实现弹针与耳机上铜柱的接触，从而进行导通测试，既方便又快捷，节省人力的同时又保证了检测质量。
[0045]具体的，在一些实施例中，如图5和图6所示水平位移装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种耳机铜柱导通测试装置，其特征在于，所述铜柱导通测试装置包括：底座，用于承载下述装置；承载机构，用于放置耳机，且耳机放置后铜柱被限制固定；下压机构，所述下压机构包括支撑架、下压装置和第一检测头，所述支撑架设在承载机构的上方，所述下压装置设在支撑架上，所述第一检测头设在下压装置的活动端，当下压装置向下移动时，第一检测头与铜柱接触；水平机构，所述水平机构包括水平位移装置和第二检测头，第二检测头设在水平位移装置的活动端，当水平位移装置向铜柱移动时，第二检测头与铜柱接触配合；控制装置，所述控制装置包括控制器和开关，所述控制器连接并通过开关控制下压机构和水平位移装置的启停。2.如权利要求1所述的耳机铜柱导通测试装置，其特征在于，所述水平位移装置包括第二气缸、导轨和滑动座，所述导轨设在底座上，所述滑动座滑动设在导轨上，导轨与第二气缸活动方向平行，所述第二检测头设在滑动座上。3.如权利要求2所述的耳机铜柱导通测试装置，其特征在于，所述导轨和水平位移装置均设在底座的下方，所述底座上设有活动槽；所述第一检测头包括连接柱和检测弹针，所述连接柱一端固定连接滑动座，另一端通过活动槽伸到底座的上方，且上端设有所述检测弹针。4.如权利要求2所述的耳机铜柱导通测试装置，其特征在于，所述水平机构还包括水平缓冲装置，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴译，魏永宁，
申请(专利权)人：东莞市库珀电子有限公司，
类型：发明
国别省市：