缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括：获取利用正常训练样本训练自编码器及自回归网络时得到的训练权重；载入所述训练权重至所述自编码器及所述自回归网络中以通过载入所述训练权重的所述自编码器对测试样本进行编码得到测试编码特征；将所述测试编码特征分割为子测试编码特征；将所述子测试编码特征逐一输入至载入所述训练权重的所述自回归网络来输出测试结果，所述测试结果包括所述测试样本存在缺陷及所述测试样本不存在缺陷中的一种。本案还提供一种缺陷检测装置、一种电子装置及一种计算机可读存储介质，可避免缺陷的确定的误差，且可准确的判断细小的缺陷。且可准确的判断细小的缺陷。且可准确的判断细小的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及缺陷检测
，具体涉及一种缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前的缺陷检测方法为将测试样本输入至训练好的自编码器来获得与所述测试样本对应的重构图像，并根据所述重构图像与所述测试样本之间的差异来确定所述测试样本是否有缺陷。但是，因为所述测试样本中会存在较多的杂讯，使得所述缺陷的确定有误差，且不能进行细小的缺陷的确定。

技术实现思路

[0003]鉴于此，有必要提供一种缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质，可避免缺陷的确定的误差，且可准确的判断细小的缺陷。
[0004]本申请的第一方面提供一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括：
[0005]获取利用正常训练样本训练自编码器及自回归网络时得到的训练权重；
[0006]载入所述训练权重至所述自编码器及所述自回归网络中以通过载入所述训练权重的所述自编码器对测试样本进行编码得到测试编码特征；
[0007]将所述测试编码特征分割为子本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法包括：获取利用正常训练样本训练自编码器及自回归网络时得到的训练权重；载入所述训练权重至所述自编码器及所述自回归网络中以通过载入所述训练权重的所述自编码器对测试样本进行编码得到测试编码特征；将所述测试编码特征分割为子测试编码特征；将所述子测试编码特征逐一输入至载入所述训练权重的所述自回归网络来输出测试结果，所述测试结果包括所述测试样本存在缺陷及所述测试样本不存在缺陷中的一种。2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述测试编码特征分割为子测试编码特征包括：确定所述测试编码特征的长度；获取需要分割成的预设条件，所述预设条件包括预设长度及预设份中的一种；根据所述预设条件将所述长度的所述测试编码特征分割为所述子测试编码特征。3.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述子测试编码特征逐一输入至载入所述训练权重的所述自回归网络来输出测试结果包括：将所述子测试编码特征逐一输入至载入所述训练权重的所述自回归网络直至所有子测试编码特征测试完成或确定所述子测试编码特征存在缺陷；输出测试结果。4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述子测试编码特征逐一输入至载入所述训练权重的所述自回归网络直至所有子测试编码特征测试完成或确定所述子测试编码特征存在缺陷包括：将一个所述子测试编码特征输入至载入所述训练权重的所述自回归网络来输出子测试结果；根据所述子测试结果确定所述子测试编码特征是否存在缺陷；若所述子测试编码特征不存在缺陷，确定是否所有子测试编码特征测试完成；若不是所有子测试编码特征测试完成，继续将下一个所述子测试编码特征输入至载入所述训练权重的所述自回归网络，判断所述子测试编码特征是否存在缺陷，及判断是否所有子测试编码特...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡东佐，郭锦斌，林子甄，简士超，
申请(专利权)人：鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：