多特征参数高速板卡设计阶段质量检测方法、系统及设备技术方案

本发明专利技术提供了一种多特征参数高速板卡设计阶段质量检测方法、系统及设备，该方法首先先选取高速板卡特征参数，再计算AHP权重，再确定隶属度函数及隶属度，在建立模糊关系矩阵后，进行模糊综合评判，最终得到检测评估结果。本方案可在前期对高速板卡进行布局布线后，选取关键信号、敏感信号进行仿真分析，得到仿真的S参数及目标阻抗，进而得到板卡的质量评估状态，在评估结果不好时进行设计

【技术实现步骤摘要】
多特征参数高速板卡设计阶段质量检测方法、系统及设备


[0001]本专利技术涉及集成电路设计领域，特别涉及针对高速板卡设计阶段中，通过仿真方式基于多特征参数融合的板卡设计阶段质量检测方法、系统及其相关的设备。

技术介绍

[0002]伴随着云计算、大数据应用等技术的发展，相应的服务器、集成电路设计技术的发展迅速崛起，在板卡中电路工作频率越来越高，高速信号对信号完整性、板卡设计的合理性等方面的需求也在不断提升，竞争愈发激烈。
[0003]随着电路工作频率的提高，板卡上的走线承载的信号速率越来越快，信号与板卡上互连结构之间的相互作用变的越来越复杂，很多以前的设计理念如“从发送端发出的码流被准确无误的传输到接收端”已不再正确，这就导致了想一次性设计出功能性能满足要求的高速板卡越来越困难，也导致了板卡投板前的仿真工作变得越来越重要。
[0004]此外，对于多特征参数的融合技术，在机械等领域中存在对设备质量评估的应用，但是该类的检测方法无法在集成电路设计阶段中使用。在目前的现有技术中，并未有专门针对高速板卡设计阶段的快速、准确的设计情况质量检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.多特征参数高速板卡设计阶段质量检测方法，其特征在于，所述方法包括：步骤1、确定高速板卡特征参数；步骤2、基于所述特征参数，计算各参数的AHP权重，并构建判断矩阵B；将判断矩阵B中满足一致性要求的最大特征根对应的特征向量q作为对应特征参数的权重，并基于多个特征参数的权重构建权重矩阵Q；步骤3、确定各特征参数的隶属度函数，并基于隶属度函数获得各特征参数的模糊关系矩阵；合并全部特征参数的模糊关系矩阵，构成最终模糊关系矩阵R；步骤4、基于所述权重矩阵Q、最终模糊关系矩阵R，获得评判集矩阵Z，并基于最大隶属度原则，确定最终结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述特征参数包括插损绝对值、回损绝对值、串扰绝对值、目标阻抗绝对值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤2进一步包括：步骤201、对所述特征参数两两比较，建立判断矩阵B；步骤202、计算所述判断矩阵B的最大特征值λ
max
及λ
max
对应的特征向量q；步骤203、基于λ
max
检验判断矩阵B的一致性；若判断矩阵B满足一致性要求，则将λ
max
对应的特征向量q作为权重，并形成权重矩阵Q；否则修正所述判断矩阵B，并返回步骤202。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤203中，一致性判断方式为：首先，计算一致性比例CR：其中，RI是平均随机一致性指标值；其中，CI为一致性值，n表示特征参数个数；其次，当CR小于一阈值时，判定判断矩阵B满足一致性要求。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述判断矩阵B的形式为：其中，w
mn
表示第m个因素与第n个因素的相对重要性比值。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤3中，所述模糊关系矩阵的获取方
式为：步骤301、将每一组特...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱珂，张波，徐庆阳，谭力波，钟丹，毛英杰，肖峰，刘长江，杨晓龙，常超，陈德沅，
申请(专利权)人：井芯微电子技术天津有限公司，
类型：发明
国别省市：