图像校正方法及相关设备技术

本发明专利技术提供一种图像校正方法及相关设备。所述图像校正方法将原始图像划分为多个原图区域，将标准图像划分为多个平面图区域；从每个原图区域选取多个第一坐标点，将所述多个平面图区域中与所述原图区域对应的平面图区域记为目标平面图区域，从所述目标平面图区域选取与所述多个第一坐标点对应的多个第二坐标点；根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系；根据所述多个原图区域与所述多个平面图区域的对应关系对所述多个原图区域进行校正，得到多个校正后的原图区域；将所述多个校正后的原图区域进行拼接，得到所述原始图像的校正图像。本发明专利技术提升了校正图像的准确度。本发明专利技术提升了校正图像的准确度。本发明专利技术提升了校正图像的准确度。

【技术实现步骤摘要】
图像校正方法及相关设备


[0001]本专利技术涉及图像处理
，具体涉及一种图像校正方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]图像校正在图像对比、元件破损检测等应用场景有重要作用。
[0003]通常，对于摄像机或照相机获取的图像，可能因为镜头角度、光线等外在原因，导致图像出现倾斜、形变等情况，需要对图像进行校正。
[0004]如何对图像进行校正成为待解决的问题。

技术实现思路

[0005]鉴于以上内容，有必要提出一种图像校正方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质，其可以对图像进行校正，提升了校正图像的准确度。
[0006]本申请的第一方面提供一种图像校正方法，所述图像校正方法包括：
[0007]获取有形变的原始图像和所述原始图像对应的无形变的标准图像；
[0008]将所述原始图像划分为多个原图区域，将所述标准图像划分为多个平面图区域；
[0009]对于所述多个原图区域中的每个原图区域，从所述原图区域选取多个第一坐标点，将所述多个平面图区域中与所述原图区域对应的平面图区域记为目标平面图区域，从所述目标平面图区域选取与所述多个第一坐标点对应的多个第二坐标点；
[0010]根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系；
[0011]根据所述多个原图区域与所述多个平面图区域的对应关系对所述多个原图区域进行校正，得到多个校正后的原图区域；
[0012]将所述多个校正后的原图区域进行拼接，得到所述原始图像的校正图像。
[0013]另一种可能的实现方式中，所述根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系包括：
[0014]根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的矩阵对应关系；和/或
[0015]根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的比例对应关系。
[0016]另一种可能的实现方式中，所述根据所述多个原图区域与所述多个平面图区域的对应关系对所述多个原图区域进行校正包括：
[0017]对于每个原图区域，判断所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系的类型；
[0018]当所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系的类型为矩阵对应关系时，根据所述变换矩阵计算所述原图区域中各个像素点的变换坐标，根据所述原图区域中各个像素点的变换坐标对所述原图区域中各个像素点的像素值进行校正；
[0019]当所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系的类型为比例对应关系时，根据所述比例对应关系逐个计算所述原图区域中的各个像素点的x目的坐标和y目的坐标；根据所述原图区域中各个像素点的x目的坐标和y目的坐标对所述原图区域中各个像素点的像素值进行校正。
[0020]另一种可能的实现方式中，所述根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域的比例对应关系包括：
[0021]确定所述原图区域的x轴和y轴；
[0022]根据所述多个第一坐标点从所述原图区域中确定多个第一边界点，根据所述多个第二坐标点从所述目标平面区域中确定多个第二边界点；
[0023]计算每个第一边界点与x轴的第一距离、与y轴的第二距离；
[0024]计算每个第二边界点与x轴的第三距离、与y轴的第四距离；
[0025]计算每个第一边界点的第一距离与该第一边界点对应的第二边界点的第三距离的第一比值；
[0026]计算每个第一边界点的第二距离与该第一边界点对应的第二边界点的第四距离的第二比值。
[0027]另一种可能的实现方式中，所述多个第一坐标点是二维坐标点，所述根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域的矩阵对应关系包括：
[0028]通过由变换参数构成的变换矩阵确定所述多个第一坐标点的三维表示；
[0029]根据每个第一坐标点的三维表示和该第一坐标点对应的第二坐标点构建一个方程组，得到多个方程组；
[0030]根据所述多个方程组计算所述变换参数，得到所述变换矩阵。
[0031]另一种可能的实现方式中，所述根据所述变换矩阵计算所述原图区域中各个像素点的变换坐标包括：
[0032]根据所述变换矩阵中的变换参数将每个像素点的二维表示转换为所述像素点的三维表示；
[0033]对所述像素点的三维表示进行降维，得到所述像素点的变换坐标。
[0034]另一种可能的实现方式中，所述图像校正方法还包括：
[0035]对于所述原图区域中的每个像素点，确定所述像素点对应的第一边界点；
[0036]从所述比例对应关系中确定所述像素点对应的第一边界点的目标第一比值；
[0037]获取所述像素点与所述原图区域的x轴的第五距离，获取所述像素点对应的第一边界点与x轴的第六距离；
[0038]当所述第五距离小于或等于所述第六距离时，计算所述目标第一比值的倒数的二次方值，计算所述二次方值与所述像素点的y坐标的乘积，得到所述像素点的y目的坐标。
[0039]本申请的第二方面提供一种图像校正装置，所述图像校正装置包括：
[0040]获取模块，用于获取原始图像和所述原始图像的标准图像；
[0041]划分模块，用于将所述原始图像划分为多个原图区域，将所述标准图像划分为多个平面图区域；
[0042]选取模块，用于对于所述多个原图区域中的每个原图区域，从所述原图区域选取多个第一坐标点，将所述多个平面图区域中与所述原图区域对应的平面图区域记为目标平
面图区域，从所述目标平面图区域选取与所述多个第一坐标点对应的多个第二坐标点；
[0043]计算模块，用于根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系；
[0044]校正模块，用于根据所述多个原图区域与所述多个平面图区域的对应关系对所述多个原图区域进行校正，得到多个校正后的原图区域；
[0045]拼接模块，用于将所述多个校正后的原图区域进行拼接，得到所述原始图像的校正图像。
[0046]本申请的第三方面提供一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现所述图像校正方法。
[0047]本申请的第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述图像校正方法。
[0048]根据上述技术方案，本专利技术能够提升图像校正的准确度。
附图说明
[0049]图1是本专利技术实施例提供的图像校正方法的流程图。
[0050]图2是本专利技术实施例提供的图像校正装置的结构图。
[0051]图3是本专利技术实施例提供的计算机设备的示意图。
具体实施方式
[0052]为了能够更清楚地理解本专利技术的上述目的、特征和优点本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像校正方法，其特征在于，所述图像校正方法包括：获取有形变的原始图像和所述原始图像对应的无形变的标准图像；将所述原始图像划分为多个原图区域，将所述标准图像划分为多个平面图区域；对于所述多个原图区域中的每个原图区域，从所述原图区域选取多个第一坐标点，将所述多个平面图区域中与所述原图区域对应的平面图区域记为目标平面图区域，从所述目标平面图区域选取与所述多个第一坐标点对应的多个第二坐标点；根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系；根据所述多个原图区域与所述多个平面图区域的对应关系对所述多个原图区域进行校正，得到多个校正后的原图区域；将所述多个校正后的原图区域进行拼接，得到所述原始图像的校正图像。2.如权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，所述根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系包括：根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的矩阵对应关系；和/或根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域与所述目标平面区域的比例对应关系。3.如权利要求2所述的图像校正方法，其特征在于，所述根据所述多个原图区域与所述多个平面图区域的对应关系对所述多个原图区域进行校正包括：对于每个原图区域，判断所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系的类型；当所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系的类型为矩阵对应关系时，根据所述变换矩阵计算所述原图区域中各个像素点的变换坐标，根据所述原图区域中各个像素点的变换坐标对所述原图区域中各个像素点的像素值进行校正；或当所述原图区域与所述目标平面区域的对应关系的类型为比例对应关系时，根据所述比例对应关系逐个计算所述原图区域中的各个像素点的x目的坐标和y目的坐标；根据所述原图区域中各个像素点的x目的坐标和y目的坐标对所述原图区域中各个像素点的像素值进行校正。4.如权利要求2所述的图像校正方法，其特征在于，所述根据所述多个第一坐标点和所述多个第二坐标点计算所述原图区域的比例对应关系包括：确定所述原图区域的x轴和y轴；根据所述多个第一坐标点从所述原图区域中确定多个第一边界点，根据所述多个第二坐标点从所述目标平面区域中确定多个第二边界点；计算每个第一边界点与x轴的第一距离、与y轴的第二距离；计算每个第二边界点与x轴的第三距离、与y轴的第四距离；计算每个第一边界点的第一距离与该第一边界点对应的第二边界点的第三距离的第一比值；计算每个第一边界点的第二距离与该第一边界点...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭锦斌，蔡东佐，孙国钦，林子甄，
申请(专利权)人：鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：