一种测量顶发射型发光器件发光立体角的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种测量顶发射型发光器件发光立体角的装置及方法，其中，所述装置包括用于放置顶发射型发光器件的底座，以及设置在所述底座上的半球形腔体，所述半球形腔体内部两条相互垂直的经线的交点处设置有光电二极管，且同一条经线上所述交点处的两侧对称设置有若干个光电二极管。通过本发明专利技术提供的装置可以获得顶发射型发光器件的准确的发光立体角，将本发明专利技术测得的发光立体角参数输入到积分球，便可以准确测试该顶发射型发光器件的光强和亮度等相关光学参数，这对于顶发射型发光器件的研究具有重要意义。研究具有重要意义。研究具有重要意义。

【技术实现步骤摘要】
一种测量顶发射型发光器件发光立体角的装置及方法


[0001]本专利技术涉及发光器件发光立体角的测量
，尤其涉及一种测量顶发射型发光器件发光立体角的装置及方法。

技术介绍

[0002]按照光线射出方式不同，发光二极管器件可划分为：底发射式结构、顶发射式结构。底发射结构中发出的光只能部分地从驱动面板(TFT)上设置的开口处射出，大部分发光都被浪费，开口率较低。顶发射器件中，光从器件的顶部出射则不受TFT的影响，开口率有效提高。顶发射发光器件对比普通底发射器件具有：提高器件发光的色彩纯度、调节器件发光颜色、实现特殊波长发射，有利于制作大尺寸、高亮、高分辨率显示器。另外，底发射发光器件使用的ITO透明电极昂贵，而顶发射式设计可以避免这一问题。因此顶发射型发光器件具有非常良好的发展前景。而对于顶发射型发光器件来说，它的结构与底发射型器件的结构基本一致，所以对于顶发射型发光器件的研究具有非常重要的意义。由于顶发射型的微腔效应，所出射的光并不是朗伯体，而是有一定角度的发散立体光。在使用积分球对顶发射型发光器件进行光学性能参数测量时，积分球测出各个波长的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量顶发射型发光器件发光立体角的装置，其特征在于，包括用于放置顶发射型发光器件的底座，以及设置在所述底座上的半球形腔体，所述半球形腔体内部两条相互垂直的经线的交点处设置有光电二极管，且同一条经线上所述交点处的两侧对称设置有若干个光电二极管。2.根据权利要求1所述测量顶发射型发光器件发光立体角的装置，其特征在于，同一条经线上的任意相邻两个光电二极管与所述半球形腔体的球心之间的连线形成的夹角相同。3.根据权利要求1所述测量顶发射型发光器件发光立体角的装置，其特征在于，所述两条经线上位于所述交点处的两侧均均匀地设置有6
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20个光电二极管。4.根据权利要求1所述测量顶发射型发光器件发光立体角的装置，其特征在于，所述两条经线上位于所述交点处的两侧均均匀地设置有9个光电二极管。5.根据权利要求1所述测量顶发射型发光器件发光立体角的装置，其特征在于，所述半球形腔体上设置有第一通孔，所述光电二极管通过所述第一通孔与外部电流检测器电连接。6.根据权利要求1所述测量顶发射型发光器件发光立体角的装置，其特征在于，所述半球形腔体中，每个光电发光二极管的侧边对应设置有一个所述第一通孔。7.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：柳春美，芦子哲，洪佳婷，贺晓光，严围，
申请(专利权)人：TCL科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：