本发明专利技术提供了一种升压电路与空调器,涉及升压电路技术领域。该升压电路包括升压组件、驱动芯片以及隔离组件,升压组件包括晶体管,驱动芯片与晶体管连接,以驱动晶体管的导通或关断,晶体管与强电地连接,驱动芯片与弱电地连接;其中,强电地与弱电地之间通过隔离组件连接,以隔离强电地对弱电地的干扰。本发明专利技术提供的升压电路与空调器具有能够改善升压电路的EMI品质的优点。的EMI品质的优点。的EMI品质的优点。
【技术实现步骤摘要】
一种升压电路与空调器
[0001]本专利技术涉及升压电路
,具体而言,涉及一种升压电路与空调器。
技术介绍
[0002]目前空调上,变频外机控制器对地的设计,都是共用一个地,即不区分强电地和弱电地,也就是说功率地(强电地)和开关电源地(弱电15V/12V/5V地)、芯片地(弱电5V或3.3V地)都是连接在一起的。虽然强电地和弱电地都是参考地,均可作为电压的参考平面,但两者之间附带的干扰信号并不同,强电地上流过大电流,干扰信号大,而弱电地流过小电流,干扰信号较小。
[0003]因此,目前空调器的升压电路中,由于强电地和弱电地连接在一起,强电地会对弱电地造成干扰,导致电路的EMI(Electromagnetic Interference,电磁干扰)变差。
[0004]综上所述,现有技术中存在升压电路中EMI品质较差的问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提供一种升压电路与空调器,以解决现有技术中存在的升压电路中EMI品质较差的问题。
[0006]为解决上述问题,一方面,本专利技术提供了一种升压电路,所述升压电路包括升压组件、驱动芯片以及隔离组件,所述升压组件包括晶体管,所述驱动芯片与所述晶体管连接,以驱动所述晶体管的导通或关断,所述晶体管与强电地连接,所述驱动芯片与弱电地连接;其中,所述强电地与所述弱电地之间通过所述隔离组件连接,以隔离所述强电地对弱电地的干扰。
[0007]由于本专利技术实施例提供的升压电路中包括隔离组件,其能够隔开强电地与弱电地,进而隔开强电地对弱电地的干扰,改善升压电路的EMI品质。
[0008]可选地,所述隔离组件包括至少一个隔离电阻或电感。
[0009]可选地,所述隔离组件包括至少两个隔离电阻,所述至少两个隔离电阻之间通过并联和/或串联的方式连接。
[0010]可选地,所述隔离组件包括第一电阻、第二电阻、第三电阻以及第四电阻,所述第一电阻与所述第二电阻并联,并与所述第三电阻串联,所述第四电阻与所述第三电阻并联,并与所述第二电阻串联。
[0011]通过该连接方式,使隔离器件中构成了两串两并的电路结构,即使其中任一电阻损坏,该隔离组件也能够正常运行,稳定性更高。
[0012]可选地,所述隔离组件的总阻值小于10Ω。
[0013]可选地,所述升压电路还包括连接组件,所述连接组件分别与驱动芯片、所述晶体管的栅极连接,所述驱动芯片用于通过所述连接组件驱动所述晶体管的导通与关断。
[0014]可选地,所述连接组件包括驱动电阻、二极管以及泄放电阻,所述驱动电阻分别与所述驱动芯片、所述晶体管的栅极连接;所述二极管的阳极与所述晶体管的栅极连接,所述
二极管的阴极与所述泄放电阻的一端连接,所述泄放电阻的另一端与所述驱动芯片连接。
[0015]可选地,所述升压电路还包括电源组件,所述电源组件包括供电电源、滤波组件以及第五电阻,所述供电电源分别与所述驱动芯片、所述滤波组件以及所述第五电阻的一端连接,所述第五电阻也与所述滤波组件的一端连接,所述滤波组件的另一端与所述弱电地连接。
[0016]可选地,所述升压电路还包括分压组件,所述分压组件分别与主芯片、驱动芯片以及弱电地连接,所述驱动芯片用于通过所述分压组件接收所述主芯片的信号。
[0017]另一方面,本专利技术实施例还提供了一种空调器,所述空调器包括如权利要求上述的升压电路。
附图说明
[0018]图1为现有技术中的升压电路的示意图。
[0019]图2为本专利技术实施例提供的升压电路的一种模块示意图。
[0020]图3为本专利技术实施例提供的升压电路的一种电路示意图。
[0021]附图标记说明:
[0022]100
‑
升压电路;110
‑
驱动芯片;120
‑
升压组件;130
‑
隔离组件;140
‑
连接组件;150
‑
电源组件;160
‑
分压组件;Q1
‑
晶体管;GND1
‑
强电地;GND2
‑
弱电地。
具体实施方式
[0023]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂,下面结合附图对本专利技术的具体实施例做详细的说明。
[0024]正如
技术介绍
中所述,目前空调器的升压电路中,由于强电地和弱电地连接在一起,强电地会对弱电地造成干扰,导致电路的EMI(Electromagnetic Interference,电磁干扰)变差。
[0025]目前空调器的升压电路的电路图如图1所示,由图1可知,强电地与弱电地直接连接,因此强电地会对弱电地存在影响。在此基础上,为了改善EMI,一般都需要花大量时间整改EMI,且加很多滤波器件或者加带磁环的电源线、电源连接线来改善EMI,既造成材料成本的浪费,同时也浪费了大量的时间,人力、及测试资源来整改EMI。若PCB(Printed Circuit Board,印刷电路板)布局不合理,EMI很可能无论怎么调整都不合格。因此,现有的电路中存在对EMI处理较为困难的情况。
[0026]此外,如图1所示,IGBT连接的是功率地(强电地),驱动芯片(驱动IGBT)连接的是弱电地,强电地与弱电地直接连接。由于IGBT高频PFC驱动电路中,开关频率达到40Khz,驱动芯片驱动IGBT的导通和关断,开关过程中过高的di/dt和dv/dt对EMI的影响非常大,频率越高,EMI的设计更难。EMI与较多因素有关,比如器件的寄生电感电容,线路的杂感等,而在IGBT开通和关断过程中,驱动电压(即IGBT栅极处电压)的震荡程度对EMI是有影响的,而驱动芯片给IGBT的驱动电压15V,是参考驱动芯片的弱电地,如果将IGBT的功率地(强电地)和驱动芯片弱电地直接连接一起,则此时15V的参考地,是有较大干扰和浮动的强电地,那么IGBT栅极处驱动电压15V将会是一个震荡的电压值,换言之,此时驱动芯片输出至晶体管的驱动电压并非为一稳定的电压,而是一波动的电压。而15V驱动电压震荡又会造成IGBT集电
极与发射极处强电流和高电压的震荡,造成di/dt和dv/dt的震荡更加剧烈,从而导致EMI变差。
[0027]有鉴于此,为了解决上述问题,本申请提供了一种升压电路,通过设置隔离组件的方式,实现强电地与弱电地之间的隔离,进而达到改善升压电路的EMI的效果。
[0028]下面对本申请提供的升压电路100进行实例性说明:
[0029]作为一种可选的实现方式,请参阅图2,该升压电路100包括升压组件120、驱动芯片110以及隔离组件130,升压组件120包括晶体管Q1,驱动芯片110与晶体管Q1连接,以驱动晶体管Q1的导通或关断,晶体管Q1与强电地GND1连接,驱动芯片110与弱电地GND2连接。并且,强电地GND1与弱电地GND2之间通过隔离组件130连接,以隔离强电地GND1对弱电地GND2的干本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种升压电路,其特征在于,所述升压电路(100)包括升压组件(120)、驱动芯片(110)以及隔离组件(130),所述升压组件(120)包括晶体管(Q1),所述驱动芯片(110)与所述晶体管(Q1)连接,以驱动所述晶体管(Q1)的导通或关断,所述晶体管(Q1)与强电地(GND1)连接,所述驱动芯片(110)与弱电地(GND2)连接;其中,所述强电地(GND1)与所述弱电地(GND2)之间通过所述隔离组件(130)连接,以隔离所述强电地(GND1)对弱电地(GND2)的干扰。2.根据权利要求1所述的升压电路,其特征在于,所述隔离组件(130)包括至少一个隔离电阻或电感。3.根据权利要求2所述的升压电路,其特征在于,所述隔离组件(130)包括至少两个隔离电阻,所述至少两个隔离电阻之间通过并联和/或串联的方式连接。4.根据权利要求3所述的升压电路,其特征在于,所述隔离组件(130)包括第一电阻、第二电阻、第三电阻以及第四电阻,所述第一电阻与所述第二电阻并联,并与所述第三电阻串联,所述第四电阻与所述第三电阻并联,并与所述第二电阻串联。5.根据权利要求1所述的升压电路,其特征在于,所述隔离组件(130)的总阻值小于10Ω。6.根据权利要求1所述的升压电路,其特征在于,所述升压电路(100)还包括连接组件(140),所述连接组件(140)分别与驱动...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘军,周振威,周鹏宇,陈志强,游剑波,文健,
申请(专利权)人:奥克斯空调股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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