一种简易插入回波损耗测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种简易插入回波损耗测试装置，包括光源、双通道光功率计、2*2光分路器；光源的输出端与2*2光分路器输入端的一路进行连接，2*2光分路器输入端的另外一路与双通道光功率计2的第二通道连接；2*2光分路器3输出端的一路绕模固定，2*2光分路器3输出端的另外一路接入到双通道光功率2的第一通道。本实用新型专利技术的有益效果在于，提高了插入损耗和回波损耗的测试效率，减少了设备投入，降低了生产成本。生产成本。生产成本。

【技术实现步骤摘要】
一种简易插入回波损耗测试装置


[0001]本技术涉及光通信及系统领域，特别涉及光通信无源器件插入回波损耗的测试装置，具体是指一种简易插入回波损耗测试装置。

技术介绍

[0002]插入损耗（IL）和回波损耗(RL)是光无源器件的关键指标，对于产品的测试设备要求较高。传统的测试方法包括插入损耗使用光功率计进行测试，回波损耗使用专用的回损仪进行测试，两个指标需要测试两次，效率低、人工成本高。同时由于为常规指标，因此需要设备数量多，设备投入量大。

技术实现思路

[0003]本实用的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能够同时测试插入损耗和回波损耗的简易测试装置。本技术在原有产品设备上进行改造，可以同时测试插入损耗和回波损耗，提高生产效率，降低设备投入和生产成本，提高产品价格竞争力。
[0004]为了实现上述专利技术目的，本技术采用如下技术方案：
[0005]一种简易插入回波损耗测试装置，包括光源、双通道光功率计、2*2光分路器；光源的输出端与2*2光分路器输入端的一路进行连接，2*2光分路器输入端的另外一路与双通道本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种简易插入回波损耗测试装置，其特征在于，包括光源、双通道光功率计、2*2光分路器；光源的输出端与2*2光分路器输入端的一路进行连接，2*2光分路器输入端的另外一路与双通道光功率计2的第二通道连接；2*2光分路器3输出端的一路绕模固定，2*2光分路器3输出端的另外一路接入到双通道光功率2的第一通道。2.根据权利要求1所述的一种简易插入回波损耗测试装置，其特征在于，所述光源上采用单模光膜。3.根据权利要求1所述的一种简易插入回波损耗测试装置，其特征在于，所述双通道光功率计采用全波段1260~165...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘光清，刘德，王宇，王雨祥，
申请(专利权)人：南京华脉科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：