主被动成像探测系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种主被动成像探测系统，包括：主动探测分系统，用于生成射频功率信号，包括：主动信号处理分机，用于生成中频发射信号；主动变频分机，与主动信号处理分机相连，用于对中频发射信号进行上变频处理，得到射频发射信号；主动射频前端分机，与主动变频分机相连，用于对射频发射信号进行功率放大，得到射频功率信号；主动探测天线，用于将射频功率信号对目标进行定向辐射；被动微波成像分系统，包括：接收阵列天线，用于接收目标反射的微波射频信号；被动接收机分机，用于对微波射频信号进行下变频处理，得到中频辐射信号；被动成像处理分机，用于对中频辐射信号进行高速采样和成像处理。处理。处理。

【技术实现步骤摘要】
主被动成像探测系统及方法


[0001]本专利技术涉及目标探测、复合探测
，具体的说，涉及一种主被动成像探测系统及方法。

技术介绍

[0002]被动微波辐射成像是微波成像的一种，利用微波辐射计来探测、接收被测目标、背景在微波波段的电磁辐射，并把接收到的辐射信号按比例用伪彩色图像直观地显现出来。根据热辐射理论，任何温度处于绝对零度以上的物体都存在电磁辐射，通常用亮温温度来表征物体的辐射强度，其取决于物体本身的几何特性与介电特性。相比于红外、光学探测器，被动微波成像具有全天时、全天候的工作能力，基于电磁波与目标的相互作用，通过接收目标辐射的微波信号反演提取目标特征信息，重构目标特征，进而提供红外、光学探测器不能提供的目标在微波波段的辐射信息。
[0003]由于自然界自身产生的微波辐射能量有限，特别是被动毫米波成像探测距离通常很近，且需要对目标进行宽带采样和长时间积累，才能获得对应的亮温图像，进而完成对目标的检测。这些不足限制了被动微波成像技术的应用。

技术实现思路

[0004]为解决现有技术中的上述和其他方面的至少部分技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种主被动成像探测系统，包括：主动探测分系统，用于生成射频功率信号，包括：主动信号处理分机，用于生成中频发射信号；主动变频分机，与所述主动信号处理分机相连，所述主动变频分机用于对所述中频发射信号进行上变频处理，得到射频发射信号；主动射频前端分机，与所述主动变频分机相连，所述主动射频前端分机用于对所述射频发射信号进行功率放大，得到射频功率信号；主动探测天线，与所述主动射频前端分机相连，所述主动探测天线用于将所述射频功率信号对目标进行定向辐射；被动微波成像分系统，用于完成对目标的被动成像探测，包括：接收阵列天线，用于接收目标和环境共同形成的微波射频信号，包括：所述主动探测分系统照射目标场景形成的射频回波信号、目标和场景自身辐射的微波信号、目标和场景反射的自然界微波信号；被动接收机分机，与所述接收阵列天线相连，所述被动接收机分机用于对所述微波射频信号进行下变频处理，得到中频辐射信号；被动成像处理分机，与所述被动接收机分机相连，所述被动成像处理分机用于对所述中频辐射信号进行高速采样和成像处理，得到所述目标的亮温图像。2.根据权利要求1所述的主被动成像探测系统，其中，所述主被动成像探测系统还包括：频综单元，与所述主动探测分系统和所述被动微波成像分系统相连，所述频综单元用于控制所述主动探测分系统和所述被动微波成像分系统的工作频点。3.根据权利要求2所述的主被动成像探测系统，其中，所述主被动成像探测系统还包括：系统控制单元，与所述主动探测分系统、所述被动微波成像分系统和所述频综单元相连，所述系统控制单元用于协调所述主动探测分系统和所述被动微波成像分系统的工作时序，以及控制所述主动探测分系统和所述被动微波成像分系统的工作频率；其中，在所述主动探测分系统主动发射射频功率信号照射目标时，控制所述被动微波成像分系统断开所述被动接收机分机的输入。4.根据权利要求3所述的主被动成像探测系统，其中，所述系统控制单元，还用于接收所述主动探测分系统和所述被动微波成像分系统发送的探测结果，并根据所述探测结果和探测角度信息进行融合处理，形成融合处理信息。5.根据权利要求3所述的主被动成像探测系统，其中，所述主被动成像探测系统还包括：伺服分系统，与所述系统控制单元相连，用于将所述主动探测天线和所述接收阵列天线指向预定的搜索区域。6.根据权利要求1所述的主被动成像探测系统，其中，所述接收阵列天线由N...

【专利技术属性】
技术研发人员：张卫杰，赵泽平，刘建国，
申请(专利权)人：中国科学院半导体研究所，
类型：发明
国别省市：