【技术实现步骤摘要】
一种用于X射线衍射仪块体/薄片测定的压样器
[0001]本技术属于材料测试领域,特别设计一种用于X射线衍射仪块体/薄片测定的压样器。
技术介绍
[0002]X射线粉末衍射仪广泛应用于晶体结构的测定与分析。该设备遵循布拉格定律,通过发射X射线对多晶材料进行不同角度的连续照射,获得X射线衍射图谱,从而对材料进行物相分析。Rigaku的X射线衍射仪功能强大、测量角度范围大、测试方便深受广大科研工作者的青睐。但当前商用X射线衍射仪测试面到X射线衍射仪样品架表面的距离是21mm,并且利用该设备测试时,测定块状金属样品时,需要将金属块体倒置放于铝架下方,用橡皮泥固定。特别是在测试过程中,易发生橡皮泥粘不牢而掉落的现象,从而造成实验失败。而且大块样品因重力作用可能导致样品中心发生倾斜,影响测试数据的精确性。此外,长期使用过程中可能会因样品重力对仪器造成松弛以及损坏。
[0003]目前针对样品台的设计也有较多,但有的操作繁琐、结构复杂,有的保证不了样品测试面水平。例如专利201410234255.4、201220529658.8、2 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种用于X射线衍射仪块体/薄片测定的压样器,其特征为该压样器包括螺帽、压杆、套管、柱体、弧形连接柱、圆形压头、样品托台、台座和橡皮泥;所述的台座上的边缘设置有弧形连接柱,弧形连接柱的上端固定在柱体的外壁上,柱体套在压杆的杆体下部;压杆的下端与圆形压头连接,压杆的顶端安装有螺帽,柱体与螺帽之间的压杆的杆体上,还套有套管;所述的台座的中心设置有圆孔,样品托台通过底部的销钉插在圆孔内,设置在台座上;其中,压杆的长度
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套管的高度
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技术研发人员:权力伟,解新建,赵彦明,陈学青,
申请(专利权)人:河北工业大学,
类型:新型
国别省市:
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