一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统技术方案

技术编号:33923695 阅读:26 留言:0更新日期:2022-06-25 21:24
本发明专利技术涉及环网柜检测技术领域,且公开了一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,包括箱体,所述箱体的正面设置有装饰面板,所述装饰面板上开设有通孔,所述装饰面板上设置有显示面板,所述显示面板的一侧设置有带电显示灯,所述带电显示灯的底部设置有核相孔,所述核相孔的下方由左往右依次设置有自检开关,USB插口,故障指示灯。本发明专利技术相较于间接法局部放电检测,具有灵敏度高、适用性强、监测面广、功能齐全、集成度高,集测量、分析、诊断、输出为一体,方便巡检人员判断开关柜的绝缘状况,降低运维成本,及时处理存在的绝缘隐患,提高配电设备运行的可靠性。电设备运行的可靠性。电设备运行的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统


[0001]本专利技术涉及环网柜检测
,具体为一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统。

技术介绍

[0002]目前环网柜中带电指示、温度监测、短路接地故障检测以及局部放电检测一般都是单一功能仪表,使得原本就较小的面板尺寸安装多个仪表更布局显得更为紧张,本装置集以上几个功能为一体不仅解决了安装的空间问题而且集成了环网柜运行中多数需要监测的状态及数据,为运维检修人员提供了必要的故障处理依据。
[0003]局放检测作为本装置的主要功能,目前局放在线的监测原理,均采用特高频(UHF)、暂态地电压(TEV)、超声波(ULT)等,这些都属于间接局部放电检测技术。所谓间接检测即检测原理不是对局部放电过程中所产生的放电电荷量本身进行直接测量,而是通过对局部放电过程中伴随产生的其他物理量的检测来实现局部放电检测,如特高频法,是通过测量局部放电时放电源处向外激发的特高频电磁波,从而间接的判断放电情况;超声波则是通过测量放电过程设备微振动波来实现局部放电分析。上述这些检测方法都是间接法局部放电检测。这些局部放电的伴生信号往往十分微弱,另外容易受到屏蔽和干扰影响局放检测的灵敏度和准确性,在工程实践中受到诸多限制。无法做到直接法检测,不方便巡检人员判断开关柜的绝缘状况,使得运维成本提高,无法及时处理存在的绝缘隐患,使得配电设备运行的可靠性降低。
[0004]由于故障指示系统多用于各种环境复杂的场地中,其表面容易遭遇复杂环境影响,导致故障指示系统表面凝结过多灰尘,即便系统正常运行,也难以通过指示灯观察到系统内部的绝缘情况。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供了一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,达到上述背景提到的问题。
[0006]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,包括箱体,所述箱体的正面设置有装饰面板,所述装饰面板上开设有通孔,所述装饰面板上设置有显示面板,所述显示面板的一侧设置有带电显示灯,所述带电显示灯的底部设置有核相孔,所述核相孔的下方由左往右依次设置有自检开关,USB插口,故障指示灯。
[0007]优选的,所述带电显示灯和核相孔的数量为三个,所述故障指示灯包括故障灯和报警灯,所述故障灯和报警灯依次为绿色和红色。
[0008]优选的,所述箱体的内部设置有故障指示器,所述故障指示器包括主控MCU微控制单元,所述主控MCU微控制单元信号连接有液晶显示单元。
[0009]优选的,所述液晶显示单元设置在显示面板的内部。
[0010]优选的,所述主控MCU微控制单元信号连接有通讯单元,所述通讯单元设置在USB插口内。
[0011]优选的,所述主控MCU微控制单元信号连接有报警输出单元,所述报警输出单元设置在故障指示灯内。
[0012]优选的,所述主控MCU微控制单元依次信号连接有带电指示及核相单元,温度测量单元,电流测量单元,局放测量单元,按键输入单元。
[0013]优选的,一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,包括清洁组件和驱动组件,清洁组件包括上清洁板和下清洁板,所述上清洁板和下清洁板设置于故障指示灯远离装饰面板的一侧,所述上清洁板和下清洁板上开设有多个通口,所述上清洁板和下清洁板靠近故障指示灯的端面上安装有折叠囊,所述折叠囊位于通口之间。
[0014]优选的,所述清洁组件包括上挡板和下挡板,所述上挡板和下挡板固定于装饰面板安装有故障指示灯的端面上,所述上挡板和下挡板分别位于上清洁板和下清洁板的一端,所述上挡板和上清洁板之间以及下挡板和下清洁板连接有伸缩杆。
[0015]优选的,所述驱动组件包括两个侧接框,两个所述侧接框分别安装于上清洁板和下清洁板的侧面,所述侧接框内部套接有驱动轮,所述驱动轮端面的非圆心位置和装饰面板活动相连,所述侧接框的内侧宽度和驱动轮的直径相等,所述上清洁板和下清洁板内部设置有中空腔,所述上清洁板和下清洁板内部滑动安装有活塞,所述活塞和伸缩杆远离上挡板和下挡板的一端相连,所述折叠囊和中空腔贯通相连。
[0016]本专利技术提供了一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统。具备以下有益效果:
[0017](1)、本专利技术相较于间接法局部放电检测,具有灵敏度高、适用性强、监测面广、功能齐全、集成度高,集测量、分析、诊断、输出为一体,方便巡检人员判断开关柜的绝缘状况,降低运维成本,及时处理存在的绝缘隐患,提高配电设备运行的可靠性。
[0018](2)、本专利技术内置局部放电诊断分析和结合电缆头温度的告警算法,当监测到高压设备发生局放时,多色LED告警灯和继电器告警接点发出设备异常告警,提高使用安全。
[0019](3)、本专利技术外部设置有清洁组件和驱动组件,通过驱动组件带动清洁组件将硬件外部不断清理,使得硬件指示灯所在位置不易凝结过多灰尘,使得及时该设备用于复杂环境,指示灯依然明亮,便于观察设备内部的绝缘情况。
附图说明
[0020]图1为本专利技术故障指示器立体结构图;
[0021]图2为本专利技术故障指示器原理框图;
[0022]图3为本专利技术温度测量基本原理电路图;
[0023]图4为本专利技术电流测量基本原理电路图;
[0024]图5为本专利技术局部放电测试回路基本原理电路图;
[0025]图6为本专利技术故障指示器主视图;
[0026]图7为本专利技术故障指示器部分结构俯视图;
[0027]图8为本专利技术故障指示器部分结构仰视图;
[0028]图中:1、箱体;2、装饰面板;3、通孔;4、显示面板;5、带电显示灯;6、核相孔;7、自检
开关;8、USB插口;9、故障指示灯;1001、主控MCU微控制单元;1002、液晶显示单元;1003、核相单元;1004、温度测量单元;1005、电流测量单元;1006、局放测量单元;1007、报警输出单元;1008、通讯单元;1009、按键输入单元;
[0029]21、上挡板;22、上清洁板;23、下挡板;24、下清洁板;25、伸缩杆;26、折叠囊;
[0030]31、侧接框;32、驱动轮;
[0031]41、中空腔;42、活塞。
具体实施方式
[0032]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0033]如图1

5所示,本专利技术提供一种技术方案:一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,包括箱体1,箱体1的正面设置有装饰面板2,装饰面板2上开设有通孔3,装饰面板2上设置有显示面板4,显示面板4的一侧设置有带电显示灯5,带电显示灯5的底部设置有核相孔6,核相孔6的下方由左往右依次设置有自检开关7,按下用于检验带电显示指示灯是否存在本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,包括箱体(1),其特征在于:所述箱体(1)的正面设置有装饰面板(2),所述装饰面板(2)上开设有通孔(3),所述装饰面板(2)上设置有显示面板(4),所述显示面板(4)的一侧设置有带电显示灯(5),所述带电显示灯(5)的底部设置有核相孔(6),所述核相孔(6)的下方由左往右依次设置有自检开关(7)、USB插口(8)、故障指示灯(9)。2.根据权利要求1所述的一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,其特征在于:所述带电显示灯(5)和核相孔(6)的数量为三个,所述故障指示灯(9)包括故障灯和报警灯,所述故障灯和报警灯依次为绿色和红色。3.根据权利要求1所述的一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,其特征在于:所述箱体(1)的内部设置有故障指示器,所述故障指示器包括主控MCU微控制单元(1001),所述主控MCU微控制单元(1001)信号连接有液晶显示单元(1002)。4.根据权利要求3所述的一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,其特征在于:所述液晶显示单元(1002)设置在显示面板(4)的内部。5.根据权利要求3所述的一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,其特征在于:所述主控MCU微控制单元(1001)信号连接有通讯单元(1008),所述通讯单元(1008)设置在USB插口(8)内。6.根据权利要求3所述的一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,其特征在于:所述主控MCU微控制单元(1001)信号连接有报警输出单元(1007),所述报警输出单元(1007)设置在故障指示灯(9)内。7.根据权利要求3所述的一种具有测温和局放检测功能的故障指示系统,其特征在于:所述主控MCU微控制单元(1001)依次信号连接有带电指示及核相单元(1003),温度...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈国件姜浩宇
申请(专利权)人:常州新电自动化设备有限公司
类型:发明
国别省市:

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