一种光纤折射率的测量系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种光纤折射率的测量系统，包括矢量网络分析仪和依次连接的激光器、光电调制器、探测器；所述矢量网络分析仪的输入端与探测器的输出端通信连接，矢量网络分析仪的输出端与光电调制器的输入端连接；待测光纤的两端分别与光电调制器和探测器连接，光电调制器和探测器之间还设置有一个光纤熔接机。本发明专利技术还提供了一种光纤折射率的测量方法。本发明专利技术通过矢量网络分析仪对光电调制器提供包括不同频率信号的扫频信号，经过光电调制器调制成光信号通过待测光纤传输，之后经过探测器解调回到矢量网络分析仪内分析不同频率信号的相位情况；并进一步改变待测光纤的长度再进行测量，由此实现了对待测光纤折射率的高精度计算，使用方便。使用方便。使用方便。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤折射率的测量系统及方法


[0001]本专利技术涉及光纤折射率测量
，尤其涉及一种光纤折射率测量系统及方法。

技术介绍

[0002]由于光通信的广泛应用，在光纤的生产制造以及应用中，对光纤折射率的精确测量显得尤为必要。现有的测量光纤折射率的方法有近场扫描法、荧光法、端面反射法、图像翻转显微镜法等，上述方法主要是结合几何光学的方法进行折射率的测量，测量系统及后期的信号处理较为复杂。
[0003]例如公开号为CN209559755U的技术专利公开的一种测量光纤折射率分布装置，通过分束镜将光束分开通过待测光纤，在进行合束得到干涉条纹，进而测量光纤折射率，该方法的两路光束除了光纤外还存在经过多次反射的光程差，因此计算结果并不准确，存在一定误差，而且从干涉条纹计算光纤折射率的过程同样较为复杂。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种能够方便快速的对光纤折射率进行测量的系统及其测量方法。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案解决上述技术问题的：一种光纤折射率的测量系统，包括矢量网络本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光纤折射率的测量系统，其特征在于：包括矢量网络分析仪和依次连接的激光器、光电调制器、探测器；所述矢量网络分析仪的输入端与探测器的输出端通信连接，矢量网络分析仪的输出端与光电调制器的输入端连接；待测光纤的两端分别与光电调制器和探测器连接，光电调制器和探测器之间还设置有一个光纤熔接机，所述待测光纤中间部分被截掉一段后通过光纤熔接机连接，处于光纤熔接机内的待测光纤为裸纤，所述矢量网络分析仪向光电调制器提供扫频信号，矢量网络分析仪能够识别探测器输出的射频信号的相位。2.根据权利要求1所述的一种光纤折射率的测量系统，其特征在于：所述激光器为窄线宽DBF激光器，向所述光电调制器提供光载波。3.根据权利要求1所述的一种光纤折射率的测量系统，其特征在于：所述光电调制器为马赫增德尔型强度调制器。4.根据权利要求1所述的一种光纤折射率的测量系统，其特征在于：所述矢量网络分析仪向光电调制器提供同相位的扫频信号。5.使用权利要求1
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4任一项所述的一种光纤折射率的测量系统的光纤折射率测量方法，其特征在于：包括，S1：将待测光纤两端分别与光电调制器和探测器连接；S2：矢量网络分析仪向光电...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁会娟，江凤婷，戴泽璟，王凯，周中昊，陈曦，崇毓华，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第三十八研究所，
类型：发明
国别省市：