光测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供提高了检测光强度的性能的光测量装置。光测量装置具有：能够将被测量光的光强度转换为电信号的受光元件、被输入电信号的输入端子、构成对数放大器的第1放大器以及非线性元件、多个偏移电阻、开关部和控制部。第1放大器的反相输入端子与输入端子电连接。多个偏移电阻分别具有不同的电阻值。开关部在多个偏移电阻的中能够切换被电连接到电压源和输入端子之间的偏移电阻。通过被电连接到电压源和输入端子之间的偏移电阻，偏移电流被输入到输入端子。控制部根据第1放大器的输出电压值测量光强度。值测量光强度。值测量光强度。

【技术实现步骤摘要】
光测量装置


[0001]本公开涉及光测量装置。

技术介绍

[0002]以往，已知测量被测量光的光强度的装置(例如，专利文献1)。在专利文献1中记载的光电转换电路具备使以对数转换元件作为负载的对数放大用负反馈线路、以及以电阻作为负载的线性放大用负反馈线路并联连接的放大器。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本专利特开平02－090025号公报

技术实现思路

[0006]专利技术要解决的课题
[0007]在测量被测量光的光强度的装置中，要求使检测被测量光的光强度的性能提高。
[0008]本公开鉴于上述方面而完成，目的是提供使检测被测量光的光强度的性能提高的光测量装置。
[0009]用于解决课题的方案
[0010]一些实施方式的光测量装置包括：受光元件，能够将被测量光的光强度转换为电信号；输入端子，被输入所述电信号；第1放大器以及非线性元件，构成对数放大器，第1放大器的反相输入端子与所述输入端子电连接；多个偏移电阻，分别具有不同的电阻值；开本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光测量装置，包括：受光元件，能够将被测量光的光强度转换为电信号；输入端子，被输入所述电信号；第1放大器以及非线性元件，构成对数放大器，第1放大器的反相输入端子与所述输入端子电连接；多个偏移电阻，分别具有不同的电阻值；开关部，在所述多个偏移电阻中，对使电压源和所述输入端子之间电连接的所述偏移电阻能够进行切换；以及控制部，通过在所述电压源和所述输入端子之间电连接的所述偏移电阻，偏移电流被输入到所述输入端子，所述控制部基于所述对数放大器的输出电压值测量所述光强度。2.如权利要求1所述的光测量装置，其中，所述控制部基于所述受光元件被遮光时的所述对数放大器的输出电压值来测量所述偏移电流的电流值。3.如权利要求1或者2所述的光测量装置，其中，所述控制部从基于所述被测量光入射到所述受光元件时的所述对数放大器的输出电压值来算出的电流值中，减去基于所述受光元件被遮光时的所述对数放大器的输出电压值来算出的所述偏移电流的电流值，从而计算所述被测量光的光强度。4.如权利要求1所述的光测量装置，其中，所述光测量装置包括：第2放大器，具有与所述电压源电连接的非反相输入端子；第1开关，能够切换是否使所述受光元件与所述输入端子电连接；第2开关，能够切换是否使所述受光元件和所述第2放大器的反相输入端子电连接；第3开关，能够切换是否使所述第2放大器的反相输入端子和所述第2放大器的输出端子电连接；以及第4开关，能够切换是否使所述第2放大器的非反相输入端子与基准电位电连接，所述多个偏移电阻被设置在所述受光元件和所述第2放大器的输出端子之间。5.如权利要求4所述的光测量装置，其中，所述光测量装置具有：基于所述对数放大器的输出电压值测量所述光强度的第1模式、和基于所述第2放大器的输出电压值测量所述光强度的第2模式，在所述第1模式中，通过所述第1开关，所述受光元件和所述输入端子被...

【专利技术属性】
技术研发人员：堀口笃，
申请(专利权)人：横河计测株式会社，
类型：发明
国别省市：