一种大方片检测设备的控制系统技术方案

本发明专利技术公开了一种大方片检测设备的控制系统，涉及大方片检测设备技术领域，包括驱动单元、控制系统单元、监控单元以及警报单元；驱动单元包括上料机构、抓取机构、检测机构以及收料机构；控制系统单元包括主控操作面板、显示屏以及伺服控制系统；监控单元包括布设在第一传送带表面的第一物料传感器以及第二传送带表面的第二物料传感器；警报单元包括报警器，通过检测器对大方片进行检测，检测完成后，第二电机带动检测台转动，而后上料抓取部件将大方片转移至检测台表面的下一承载槽内，经过检测后的大方片通过收料抓取部件从承载槽内抓出，如此往复，可以实现大方片的全自动连续性检测，有效提高了检测效果。有效提高了检测效果。有效提高了检测效果。

【技术实现步骤摘要】
一种大方片检测设备的控制系统


[0001]本专利技术涉及大方片检测设备
，具体涉及一种大方片检测设备的控制系统。

技术介绍

[0002]钕铁硼磁体作为第三代稀土永磁材料，具有其他永磁材料无法比拟的优异的磁性能和高的性价比，因此，自发现以来，其得到了广泛的研究和迅猛的发展，已在计算机、通讯电子、汽车、航空等高
得到广泛应用，随着钕铁硼磁体性能的不断提高，其应用范围也在不断扩大。
[0003]磁片在生产加工完成后需要进行装盒包装处理，现有磁片包装工序中，通常需要人工手动将磁片排列整齐后放入磁片盒内进行包装，这种包装方式自动化程度低，难以满足日益增长的磁片生产加工需求。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种大方片检测设备的控制系统，解决以下技术问题：
[0005]磁片在生产加工完成后需要进行装盒包装处理，现有磁片包装工序中，通常需要人工手动将磁片排列整齐后放入磁片盒内进行包装，这种包装方式自动化程度低，难以满足日益增长的磁片生产加工需求。
[0006]本专利技术的目的可以通过以下技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大方片检测设备的控制系统，其特征在于，包括驱动单元、控制系统单元、监控单元以及警报单元；驱动单元包括上料机构(2)、抓取机构(3)、检测机构(4)以及收料机构(6)；控制系统单元包括主控操作面板(1)、显示屏以及伺服控制系统；监控单元包括布设在第一传送带(202)表面的第一物料传感器(203)以及第二传送带(601)表面的第二物料传感器(602)；警报单元包括报警器，用于监控本系统的运行状态。2.根据权利要求1所述的一种大方片检测设备的控制系统,其特征在于，上料机构(2)包括输送小车(201)以及第一传送带(202)，第一传送带(202)将输送小车(201)表面的大方片输送至抓取机构(3)一侧；抓取机构(3)包括上料抓取部件以及收料抓取部件。3.根据权利要求2所述的一种大方片检测设备的控制系统,其特征在于，上料抓取部件包括支座(301)、第一抓取端头(306)、第一电机(302)以及第一气缸(304)，第一抓取端头(306)顶部通过第一负压管(305)与负压设备连接，第一电机(302)连接第一驱动块(303)，第一驱动块(303)端部连接第一气缸(304)，第一气缸(304)与第一抓取端头(306)连接。4.根据权利要求1所述的一种大方片检测设备的控制系统,其特征在于，检测机构(4)包括检测台(404)以及检测器(402)，检测器(402)布设在检测台(404)上方，检测器(402)与第三气缸(401)连接，检测台(404)表面呈圆周阵列间隔布置多组用于承载大方片的承载槽(403)，检测台(404)底部连接有第二电机(405)。5.根据权利要求3所述的一种大方片检测设备的控制系统,其特征在于，收料抓取部件包括第二抓...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪润节，卢辉，孔祥坚，何宁勇，周志荣，徐德根，
申请(专利权)人：肇庆高峰机械科技有限公司，
类型：发明
国别省市：