本公开提供了一种介质的损耗角正切的确定方法、装置、设备及存储介质。该方法包括基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选，得到多个目标雷达数据，其中，雷达数据包括对应于不同采样点的多个第一分数据；针对每个采样点，对与采样点对应的目标雷达数据中的第一分数据进行平均平方和处理，得到目标分数据；根据多个目标分数据，得到第一目标数据；对第一目标数据进行校正处理，得到校正后的第一目标数据；对校正后的第一目标数据进行单位转换，得到第二目标数据；根据第二目标数据的幅度的变化曲线，得到变化曲线的斜率；以及根据斜率和雷达方程，得到介质的损耗角正切参数值。耗角正切参数值。耗角正切参数值。
【技术实现步骤摘要】
介质的损耗角正切的确定方法、装置、设备及存储介质
[0001]本公开涉及损耗角正切测量
，更具体地，涉及一种介质的损耗角正切的确定方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]损耗角正切可以表征介质对电磁波(例如雷达信号)的损耗程度，即电磁波在介质中(例如月壤)中的衰减程度。损耗角正切越大，表征介质对电磁波的衰减程度越大，则电磁波的穿透深度越浅。
[0003]在实现本公开构思的过程中，专利技术人发现相关技术中至少存在如下问题：利用阵列雷达确定的介质的损耗角正切的准确性较低，从而导致雷达的探测深度的准确性较差。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本公开实施例提供了一种介质的损耗角正切的确定方法、介质的损耗角正切的确定装置、电子设备、计算机可读存储介质以及计算机程序产品。
[0005]本公开实施例的一个方面提供了一种介质的损耗角正切的确定方法，包括：
[0006]基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选，得到多个目标雷达数据，其中，上述雷达数据包括对应于不同采样点的多个第一分数据；
[0007]针对每个上述采样点，对与上述采样点对应的上述目标雷达数据中的上述第一分数据进行平均平方和处理，得到目标分数据；
[0008]根据多个上述目标分数据，得到第一目标数据；
[0009]对上述第一目标数据进行校正处理，得到校正后的第一目标数据；
[0010]对上述校正后的第一目标数据进行单位转换，得到第二目标数据；
[0011]根据上述第二目标数据的幅度的变化曲线，得到上述变化曲线的斜率；以及
[0012]根据上述斜率和雷达方程，得到上述介质的损耗角正切参数值。
[0013]根据本公开的实施例，上述阵列雷达包括多个天线，不同上述天线之间具有相同或不同的天线间距；
[0014]其中，上述基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选，得到多个目标雷达数据，包括：
[0015]从多个上述雷达数据中筛选具有相同的天线间距的天线所接收的数据，得到多个上述目标雷达数据。
[0016]根据本公开的实施例，上述针对每个上述采样点，对与上述采样点对应的上述目标雷达数据中的上述第一分数据进行平均平方和处理，得到目标分数据，包括：
[0017]对每个上述目标雷达数据中的上述第一分数据进行平方和处理，得到多个第二分数据；以及
[0018]对多个上述第二分数据进行平均处理，得到上述目标分数据。
[0019]根据本公开的实施例，上述雷达数据包括直耦波数据和反射数据；
[0020]在基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选之前，还包括：
[0021]对每个上述雷达数据进行滤波处理，得到多个滤波后的反射数据；以及
[0022]对每个上述滤波后的反射数据进行减背景处理，得到多个预处理后的雷达数据。
[0023]根据本公开的实施例，上述阵列雷达包括多个发射天线和多个接收天线；
[0024]其中，上述对上述第一目标数据进行校正处理，得到校正后的第一目标数据，包括：
[0025]根据上述第一目标数据和双程距离，得到上述校正后的第一目标数据，其中，上述双程距离表征任一上述目标雷达数据对应的上述发射天线和上述接收天线分别与上述介质中反射体之间的距离之和。
[0026]根据本公开的实施例，上述对上述校正后的第一目标数据进行单位转换，得到第二目标数据，包括：
[0027]对上述校正后的第一目标数据进行取对数处理，得到上述第二目标数据；
[0028]其中，上述根据上述第二目标数据的幅度的变化曲线，得到上述变化曲线的斜率，包括：
[0029]根据上述第二目标数据的幅度的变化曲线，确定上述变化曲线的直线衰减曲线，其中，上述变化曲线表征上述第二目标数据的幅度随双程距离的变化情况；
[0030]对上述直线衰减曲线进行线性拟合处理，得到上述斜率。
[0031]根据本公开的实施例，上述斜率与损耗角正切参数之间的关系如以下公式所示：
[0032][0033]其中，α表征斜率，上述斜率表征衰减系数，tanδ表征损耗角正切参数，ω表征阵列雷达的角频率、μ表征阵列雷达的磁导率，ε表征介质的介电常数。
[0034]本公开实施例的另一个方面提供了一种介质的损耗角正切的确定装置，包括：
[0035]筛选模块，用于基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选，得到多个目标雷达数据，其中，上述雷达数据包括对应于不同采样点的多个第一分数据；
[0036]第一处理模块，用于针对每个上述采样点，对与上述采样点对应的上述目标雷达数据中的上述第一分数据进行平均平方和处理，得到目标分数据；
[0037]第二处理模块，用于根据多个上述目标分数据，得到第一目标数据；
[0038]校正模块，用于对上述第一目标数据进行校正处理，得到校正后的第一目标数据；
[0039]转换模块，用于对上述校正后的第一目标数据进行单位转换，得到第二目标数据；
[0040]确定模块，用于根据上述第二目标数据的幅度的变化曲线，得到上述变化曲线的斜率；以及
[0041]计算模块，用于根据上述斜率和雷达方程，得到上述介质的损耗角正切参数值。
[0042]本公开实施例的另一个方面提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，用于存储一个或多个程序，其中，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如上所述的方法。
[0043]本公开实施例的另一个方面提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述指令在被执行时用于实现如上所述的方法。
[0044]本公开实施例的另一个方面提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机可执行指令，所述指令在被执行时用于实现如上所述的方法。
[0045]根据本公开的实施例，通过对多个目标雷达数据进行平均平方和处理，得到第一目标数据，并对第一目标数据进行校正和单位转换，从而利用第二目标数据的幅度曲线斜率与雷达方程进行损耗角正切值的确定，至少部分地克服了利用阵列雷达确定的介质的损耗角正切的准确性较低的技术问题，提高了多偏移距探地雷达确定的介质的损耗角正切的准确性，进而提高了雷达探测深度的准确性。
附图说明
[0046]通过以下参照附图对本公开实施例的描述，本公开的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
[0047]图1示意性示出了根据本公开实施例的应用介质的损耗角正切的确定方法的示例性系统架构；
[0048]图2示意性示出了根据本公开实施例的介质的损耗角正切的确定方法的流程图；
[0049]图3示意性示出了根据本公开实施例的第二目标数据随双程距离的变化关系示意图；
[0050]图4示意性示出了根据本公开的实施例的介质的损耗角正切的确定装本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种介质的损耗角正切的确定方法，包括：基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选，得到多个目标雷达数据，其中，所述雷达数据包括对应于不同采样点的多个第一分数据；针对每个所述采样点，对与所述采样点对应的所述目标雷达数据中的所述第一分数据进行平均平方和处理，得到目标分数据；根据多个所述目标分数据，得到第一目标数据；对所述第一目标数据进行校正处理，得到校正后的第一目标数据；对所述校正后的第一目标数据进行单位转换，得到第二目标数据；根据所述第二目标数据的幅度的变化曲线，得到所述变化曲线的斜率；以及根据所述斜率和雷达方程，得到所述介质的损耗角正切参数值。2.根据权利要求1所述的方法，所述阵列雷达包括多个天线，不同所述天线之间具有相同或不同的天线间距；其中，所述基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选，得到多个目标雷达数据，包括：从多个所述雷达数据中筛选具有相同的天线间距的天线所接收的数据，得到多个所述目标雷达数据。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述针对每个所述采样点，对与所述采样点对应的所述目标雷达数据中的所述第一分数据进行平均平方和处理，得到目标分数据，包括：对每个所述目标雷达数据中的所述第一分数据进行平方和处理，得到多个第二分数据；以及对多个所述第二分数据进行平均处理，得到所述目标分数据。4.根据权利要求3所述的方法，所述雷达数据包括直耦波数据和反射数据；在基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选之前，还包括：对每个所述雷达数据进行滤波处理，得到多个滤波后的反射数据；以及对每个所述滤波后的反射数据进行减背景处理，得到多个预处理后的雷达数据。5.根据权利要求1所述的方法，所述阵列雷达包括多个发射天线和多个接收天线；其中，所述对所述第一目标数据进行校正处理，得到校正后的第一目标数据，包括：根据所述第一目标数据和双程距离，得到所述校正后的第一目标数据，其中，所述双程距离表征任一所述目标雷达数据对应的所述发射天线和所述接收天线...
【专利技术属性】
技术研发人员：王瑞刚，苏彦，李春来，张宗煜，刘晨迪，洪天晟，戴舜，刘书宁，杜维，
申请(专利权)人：中国科学院国家天文台，
类型：发明
国别省市：
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