用于金属识别定位的方法、装置及直流供电的金属探测器制造方法及图纸

本申请涉及金属探测技术领域，公开一种用于金属识别定位的方法、装置及直流供电的金属探测器。所述方法包括：获取待检测区域内金属识别信号接收装置中每组探测线圈探测到的金属信号探测值；获取所述待检区域内磁场强度接收装置中每组磁场线圈感测的磁场强度信号值，其中，每组所述磁场线圈分别与一组所述探测线圈的位置匹配；根据一一对应的所述金属信号探测值和所述磁场强度信号值，以及每组探测线圈的排布位置关系，确定所述待检测区域内的金属区域。这样，无论金属探测器应用场所是否存在磁场，无论磁场是固定的还是变化的，都可进行金属的检测和定位，扩大了金属探测器应用场景。景。景。

【技术实现步骤摘要】
用于金属识别定位的方法、装置及直流供电的金属探测器


[0001]本申请涉及金属探测
，例如涉及用于金属识别定位的方法、装置及直流供电的金属探测器。

技术介绍

[0002]安检、食品加工、纺织品生产等众多领域需要用到金属探测器。一般，金属探测器包括电磁发射器。这样，在进行金属探测的过程中，通过电磁发射器产生磁场，从而，接收探测区域反馈的金属探测识别信号。
[0003]可见，这种金属探测器的精确性和可靠性取决于电磁发射器的稳定性，因此，这种探测器只适用于没有外界磁场的环境下进行金属探测，而在已存在磁场的区域，特别是场强变化的磁场环境中，外界磁场将会对金属探测器中电磁发射器产生的基于磁场的金属信号探测值产生干扰，影响电磁发射器的稳定性，从影响金属探测的准确性。

技术实现思路

[0004]为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。
[0005]本公开实施例提供了一种用于金属识别定位的方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种直流供电的金属探测器，其特征在于，包括：金属识别信号接收装置、磁场强度接收装置、以及金属识别定位装置，其中，所述金属识别信号接收装置，包括：一组或多组探测线圈，被配置为获取待检测区域内每组所述探测线圈探测到的金属信号探测值，并发送给所述金属识别定位装置；所述磁场强度接收装置，包括：一组或多组磁场线圈，每组磁场线圈分别与一组探测线圈的位置匹配，被配置为获取所述待检区域内每组磁场线圈感测的磁场强度信号值，并发送给所述金属识别定位装置；所述金属识别定位装置，被配置为根据一一对应的所述金属信号探测值和所述磁场强度信号值，以及每组探测线圈的排布位置关系，确定所述待检测区域内的金属区域。2.根据权利要求1所述的金属探测器，其特征在于，所述探测线圈包括：由绕线线圈围绕成的第一金属识别区域和第二金属识别区域，两个金属识别区域的形状相同、绕线线圈匝数相同、绕线线圈绕向相反，且中心轴线重合，并且，两个所述金属识别区域所在第一平面之间的间距大于0；所述磁场线圈包括：由绕线线圈围绕成的磁场接收区域，所述磁场接收区域的与位置匹配的探测线圈的金属识别区域的形状相同、绕线线圈绕向与一个所述金属识别区域的绕向相同，且中心轴线与所述两个所述金属识别区域的中心轴线重合，所述磁场接收区域所在第二平面位于两个所述金属识别区域所在第一平面之间，且所述第二平面与两个所述第一平面之间的距离相等，所述磁场线圈产生的磁场与所述第一平面垂直。3.一种用于直流供电的金属探测器金属识别定位的方法，其特征在于，所述金属探测器如权利要求1或2所述，该方法包括：获取待检测区域内金属识别信号接收装置中每组探测线圈探测到的金属信号探测值；获取所述待检区域内磁场强度接收装置中每组磁场线圈感测的磁场强度信号值，其中，每组所述磁场线圈分别与一组所述探测线圈的位置匹配；根据一一对应的所述金属信号探测值和所述磁场强度信号值，以及每组探测线圈的排布位置关系，确定所述待检测区域内的金属区域。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述待检测区域内的金属区域包括：根据保存的每组探测线圈与磁场强度、以及基准信号值之间的对应关系，确定与当前磁场强度信号值，以及当前探测线圈对应的当前基准信号值，并得到当前金属信号探测值与所述当前基准信号之间的当前差值；在所述当前差值超过预设探测阈值的情况下，确定所述当前探测线圈的探测区域为金属候选区域；根据每组探测线圈的排布位置关系，对每个所述金属候选区域进行排布，得到所述待检测区域内的金属区域。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述保存每...

【专利技术属性】
技术研发人员：俞国新，许升，陈庆，袁栋，史明明，孙天奎，刘宝，李小娇，董玮利，吕守鹏，
申请(专利权)人：海尔智家股份有限公司，
类型：发明
国别省市：