【技术实现步骤摘要】
一种偏振分辨二次谐波测试装置
[0001]本技术涉及非线性微区光谱测量
，更具体地说，特别涉及一种偏振分辨二次谐波测试装置。
技术介绍
[0002]近年来，以石墨烯为、过渡金属硫化物代表的二维材料由于其优异的电学、光学和力学等性能引起了广泛关注。精确测定这类材料的晶轴取向对于研究其性质和制备具有精确扭转角度的二维材料异质结至关重要。常见的晶轴判断方式有透射电镜法和二次谐波光学法。其中，透射电镜法利用电子束与材料中原子碰撞的散射图样确定其晶格、密度等信息，但是该方法会对样品造成较大破坏，并且制样麻烦、设备昂贵，需要专门人员的精细操作。对于具有非中心对称结构的晶体材料，在较高光功率激发下会产生倍频输出，即二次谐波。二次谐波效应与晶体结构对称性直接相关，其强度对晶体结构非常敏感，通过探测与激发光共偏振的二次谐波的角向分布图，能够解析出对应的晶体结构和确定晶轴取向。该方法具有无损检测、简单快捷等特点，广泛用于二维材料晶轴取向的测量。在利用二次谐波光学法测量晶体结构中，需要测定与激发光同偏振的二次谐波的角向分布，目前主要有两种方...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种偏振分辨二次谐波测试装置，其特征在于，包括依次设置的激光器、第一偏振片、四分之一玻片、分光镜片、第二偏振片、显微物镜和样品，依次设置的滤波片、聚焦透镜和信号采集装置，所述第一偏振片的光轴与所述四分之一玻片的光轴呈45
°
角，所述分光镜片用于将从四分之一玻片输出的圆偏振光进行透射后依次通过第二偏振片和显微物镜聚焦到样品上，所述样品发射的二次谐波信号依次通过显微物镜、第二偏振片后经分光镜片反射进入收集光路，再依次通过收集光路上的...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈海涛，濮黄生，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：新型
国别省市：
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