一种大型网状天线反射器摄影测量精度仿真方法技术

本发明专利技术提供一种大型网状天线反射器摄影测量精度仿真方法，属于摄影测量技术领域，本发明专利技术通过统计分析像点测量偏差的分布特征，按照蒙特卡洛仿真方法建立像点测量偏差的随机生成模型，联合设计的摄站位置和测量点分布，输入到摄影测量与点模型拟合测量的联合数学模型中进行多次仿真计算得到天线反射器最终的测量精度估计。本发明专利技术的整个精度仿真过程不必实测反射器实物，仅考虑摄影测量本身的测量误差，可以在反射器设计阶段对其测量精度进行预估，本发明专利技术的整个仿真估计过程以大量像点偏差样本为基准进行多次仿真，精度和可靠性有保证；本发明专利技术的仿真结果不但包含反射器的型测量精度统计值而且包含了每个点的偏差分布，对优化测量网型提供了基础。化测量网型提供了基础。化测量网型提供了基础。

【技术实现步骤摘要】
一种大型网状天线反射器摄影测量精度仿真方法


[0001]本专利技术涉及摄影测量
，具体涉及一种大型网状天线反射器摄影测量精度仿真方法。

技术介绍

[0002]摄影测量是目前大型网状天线反射器型面测量的主要方法，其通过单台相机或者多台相机多个视角拍摄反射器型面获取反射器上标志点的测量图像，通过后续图像处理、标志中心定位、设站拼接、三维点交会和光束法平差等算法和技术手段获取标志的三维点坐标，最后通过三维点和反射器设计模型进行拟合比对得到型面的测量偏差。
[0003]对于已有反射器其测量精度的评价一般是通过实测反射器型面上的测量点，然后进行点到设计模型的最佳拟合取拟合偏差的RMS作为测量精度评价的标准。对于正在设计中的或者不具备实物条件的反射器一般通过测量设备的标称精度预估型面的测量精度。这几种反射器精度估计和评价方法存在以下问题：
[0004]1)通过实测反射器上的点与模型进行最佳拟合评价反射器测量精度的方法将反射器本身的制造偏差和摄影测量本身的测量偏差混在了一起，理论上不能作为评价摄影测量本身的测量误差评价值。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大型网状天线反射器摄影测量精度仿真方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、统计测量相机在畸变标定时像点偏差，统计像点偏差分布特征x方向的平均值Avgx和标准差StdPx，y方向的平均值Avgy和标准差StdPy；步骤2、依据步骤1中的像点偏差的平均值和标准差生成正态分布的随机像点偏差；步骤3、根据设计的摄站位置姿态、标志点的三维坐标，按共线条件方程生成每个摄站对应的无偏差像点坐标；步骤4、步骤3生成的无偏差像点坐标加上步骤2中正态分布的随机偏差量生成仿真的像点坐标值，联合设计的摄站位置姿态和标志三维点坐标输入到光束法平差模型中进行解算，得到仿真的标志三维点坐标值；步骤5、将步骤4生成的仿真三维点坐标值和天线反射器设计模型进行点到模型的拟合，得到反射器型面的仿真测量精度；步骤6、重复步骤4到5共100次，得到仿真测量精度。2.根据权利要求1所述的大型网状天线反射器摄影测量精度仿真方法，其特征在于，所述步骤2中，一个随机数序列服从一维正态分布，那么它有如下的概率密度函数：其中μ，σ>0且为常数，它们分别为数学期望和均方差；以像点偏差的平均值近似数学期望，以像点偏差的标准差近似方差带入概率密度函数，生成符合正态分布的像点偏差随机数。3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：王河伟，郭廷钧，李立峰，
申请(专利权)人：郑州辰维科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：