一种基于IC带状线的集成电路电磁骚扰检测系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于IC带状线的集成电路电磁骚扰检测系统及方法，该系统包括：IC带状线、IC测试板、待测IC和电磁骚扰测量设备；IC测试板，用于为待测IC提供电路环境，使其产生电磁骚扰数据；IC带状线，获取每个频率对应的待测IC产生的电磁骚扰数据，并将电磁骚扰数据输入到电磁骚扰测试设备中；电磁骚扰测试设备，用于对每个电磁骚扰数据进行处理，输出待测IC的电磁骚扰结果。与现有技术相比，本发明专利技术的技术方案在预设频段范围内实现集成电路电磁骚扰的自动化检测；克服了传统电磁骚扰检测系统不能满足集成电路检测技术要求的问题，同时避免了因手动测试造成的测试结果的不确定性，提升了检测结果的可靠性和检测工作的效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于IC带状线的集成电路电磁骚扰检测系统及方法


[0001]本专利技术涉及集成电路电磁干扰的
，特别是涉及一种基于 IC带状线的集成电路电磁骚扰检测系统及方法。

技术介绍

[0002]集成电路产业是我国高新技术产业的一个重要部分，它带动了其他产业的蓬勃发展，集成电路已成为各个行业中电子、机电设备智能化的核心，起着十分重要的作用。但由于集成电路通过高速的脉冲数字信号来进行工作，在高频模拟电路芯片运行过程中，因PCB走线或产品各部分连线的设计不合理而产生天线效应，发出电磁波引起的射频干扰。当电磁波能量达到一定值时，将会影响周围电子设备和自身的正常工作。
[0003]随着集成电路集成度的提高，越来越多的原件集成到芯片上，电路的功能和密度增加了，传输脉动电流的速度提高了，工作电压降低了，集成电路本身的电磁骚扰与抗干扰问题已成为集成电路的设计、制造业关注的课题。
[0004]但目前关于集成电路的检测，国内目前主要侧重于功能测试方面，对于集成电路电磁骚扰检测领域的研究较少，且在对集成电路进行电磁骚扰检测时，大多采用手动测试，但按照本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于IC带状线的集成电路电磁骚扰检测系统，其特征在于，包括：IC带状线、IC测试板、待测IC、电磁骚扰测试设备；其中，所述IC测试板，用于为所述待测IC提供正常工作所需的电路环境，以使所述待测IC产生电磁骚扰数据；所述IC带状线，用于根据预设的频率范围，获取每个频率对应的所述待测IC产生的电磁骚扰数据，并将获取的每个电磁骚扰数据输入到所述电磁骚扰测试设备中，以使所述电磁骚扰测试设备对所述每个电磁骚扰数据进行处理，输出所述待测IC的电磁骚扰结果。2.如权利要求1所述的一种基于IC带状线的集成电路电磁骚扰检测系统，其特征在于，所述电磁骚扰测试设备对所述每个发射电磁干扰数据进行处理，输出所述待测IC的电磁骚扰结果，具体的：所述电磁骚扰测试设备包括上位机、电磁骚扰数据处理设备和待测IC工作辅助设备；其中，所述上位机，用于提供自动化测试控制指令，控制所述电磁骚扰数据处理设备和所述待测IC工作辅助设备执行所述自动化测试控制指令，并输出所述待测IC的电磁骚扰结果；所述电磁骚扰数据处理设备，用于执行自动化测试控制指令，在预设的频率范围内，设置每个频率对应的限制数据，将所述每个电磁骚扰数据与对应的所述限制数据相比，提取高于对应的所述限制数据的所有电磁骚扰数据，得到最终电磁骚扰数据集，并将所述最终电磁骚扰数据集与其对应的限制数据进行整合，得到所述待测IC的电磁骚扰结果，并将所述电磁骚扰结果上传到所述上位机；所述待测IC工作辅助设备，用于监控待测IC的工作状态。3.如权利要求1所述的一种基于IC带状线的集成电路电磁骚扰检测系统，其特征在于，所述IC带状线包括左侧锥形板、右侧锥形板和中部矩形板，其中，所述中部矩形板用于连接所述左侧锥形板和所述右侧锥形板。4.如权利要求3所述的一种基于IC带状线的集成电路电磁骚扰检测系统，其特征在于，所述IC测试板平行于所述中部矩形板的上方，所述IC测试板基于第一RF接口与所述左侧锥形板的尖端相连接，所述IC测试板基于第二RF接口与所述右侧锥形板的尖端相连接；所述IC测试板和所述中部矩形板之间设置待测IC插口，其中，所述待测IC插口位于所述IC测试板中部下方位置，且所述待测IC插口与所述IC测试板相连接。5.如权利要求4所述的一种基于IC带状线的集成电路电磁骚扰检测系统，其特征在于，所述第一RF接口与所述电磁骚扰测试设备相连接，以使所述IC带状线将获取的所述每个电磁骚扰数据输入到所述电磁骚扰测试设备中。6.一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：余洪文，黄春平，林亮中，陈增标，普清民，余振标，
申请(专利权)人：中山职业技术学院，
类型：发明
国别省市：