计量检测系统及其计量方法、计量表具技术方案

本发明专利技术提供一种计量检测系统及其计量方法、计量表具，涉及计量表具技术领域，用于解决计量检测系统的测量精度低的技术问题。该计量检测系统包括旋转元件、转动信息采集电路以及处理器，转动信息采集电路包括激励线圈、感应线圈、开关晶体管、蓄电电路以及反相缓冲器，感应线圈与激励线圈电磁耦合；感应线圈相对旋转元件设置；反相缓冲器与激励线圈电连接；开关晶体管与感应线圈电连接；蓄电电路与开关晶体管电连接，用于通过开关晶体管控制蓄电电路的放电量，并产生第一电信号；处理器根据第一电信号算出流体流量。本发明专利技术提供的计量检测系统及其计量方法、计量表具用于提高计量检测系统的计量精度。的计量精度。的计量精度。

【技术实现步骤摘要】
计量检测系统及其计量方法、计量表具


[0001]本专利技术涉及计量表具
，尤其涉及一种计量检测系统及其计量方法、计量表具。

技术介绍

[0002]计量表具通常用于测量流体的流量，计量表具一般包括壳体和计量检测系统，计量检测系统位于壳体内部。通过计量检测系统，可以测量出通过壳体内部的流体流量。计量检测系统一般包括旋转元件和磁性传感器，旋转元件上装有永磁体，当流体通过壳体时，会带动旋转元件转动，磁性传感器通过感应旋转元件上的永磁体，从而采集旋转元件的转动信息，从而得到流体流量。
[0003]然而，计量检测系统磁性传感器容易收到外部干扰，且永磁体可能会失磁，降低计量检测系统的测量精度。

技术实现思路

[0004]鉴于上述问题，本专利技术实施例提供一种计量检测系统及其计量方法、计量表具，用于提高计量检测系统的测量精度。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案：
[0006]本专利技术实施例提供一种计量检测装置，其中，所述计量检测装置包括旋转元件、转动信息采集电路以及处理器；所述旋转元件用于在流体流经所述旋转元件时转动；所述转动信息采集电路包括激励线圈、感应线圈、开关晶体管、蓄电电路以及反相缓冲器，所述感应线圈与所述激励线圈电磁耦合；所述感应线圈相对所述旋转元件设置，用于采集所述旋转元件的转动信息；所述反相缓冲器与所述激励线圈电连接，用于控制所述激励线圈产生激励磁场；所述开关晶体管与所述感应线圈电连接，用于根据所述感应线圈产生的感应电流，调整经过所述开关晶体管的电流大小；所述蓄电电路与所述开关晶体管电连接，用于通过所述开关晶体管控制所述蓄电电路的放电量，并产生第一电信号；所述处理器与所述蓄电电路信号连接，所述处理器根据所述第一电信号计算出所述流体的流量。
[0007]本专利技术实施例提供的计量检测系统具有如下优点：
[0008]本专利技术实施例提供的计量检测系统包括旋转元件、转动信息采集电路、以及处理器，转动信息采集电路包括激励线圈、感应线圈、开关晶体管、蓄电电路以及反相缓冲器。反相缓冲器控制激励线圈产生激励磁场，感应线圈感应到激励磁场后产生感应电流。当旋转元件转动时，感应线圈感应电流的大小会发生改变，从而采集旋转元件的转动信息，并通过感应电流的大小调整经过所述开关晶体管的电流大小，从而控制与开关晶体管电连接的蓄电电路的放电量，从而使蓄电电路产生第一电信号。处理器接收到第一电信号后可以计算出流体的流量，实现测量流量的功能。如此设置，可以实现无磁测量，从而提高计量检测系统的测量精度。
[0009]如上所述的计量检测系统，其中，所述开关晶体管包括第一三极管，所述第一三极
管为NPN型三极管，所述第一三极管的第一基极电连接所述感应线圈，所述第一三极管的第一集电极电连接所述蓄电电路，所述第一三极管的第一发射极与所述反相缓冲器电连接。
[0010]如上所述的计量检测系统，其中，所述第一基极还电连接有限流电阻的一端，所述限流电阻的另一端接地。
[0011]如上所述的计量检测系统，其中，所述蓄电电路包括第一控制引脚以及第一电容，所述第一电容的一端接地，另一端电连接所述第一控制引脚以及所述第一集电极；所述第一控制引脚与所述处理器信号连接，所述第一控制引脚接收所述处理器发出的第一高电平信号，当所述第一控制引脚接收所述第一高电平信号时，所述第一控制引脚向所述第一电容充电；所述第一电容通过第一三极管放电后，所述第一控制引脚处产生所述第一电信号。
[0012]如上所述的计量检测系统，其中，所述反相缓冲器包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚以及第六引脚，所述第一引脚处的电压与所述第六引脚处的电压反相，所述第三引脚处的电压与所述第四引脚处的电压反相；
[0013]所述第一引脚与所述第一发射极电连接，所述第三引脚电连接有第二控制引脚，所述第四引脚与所述第一引脚电连接，所述第一引脚还电连接有所述第一发射极，所述第六引脚与所述激励线圈的一端电连接，所述激励线圈的另一端接地；所述第二控制引脚接收来自所述处理器的激励信号；所述第二引脚接地，所述第五引脚电连接有供电引脚，所述供电引脚电连接第一供电电源。
[0014]如上所述的计量检测系统，其中，所述第三引脚电连接有第二电容的一端，所述第二电容的另一端电连接所述第二控制引脚；所述第三引脚还电连接有第一电阻的一端，所述第一电阻的另一端接地。
[0015]如上所述的计量检测系统，其中，所述第一引脚与所述第四引脚电连接有第三电容的一端，所述第三电容的另一端电连接所述第一发射极；所述第六引脚电连接有第四电容的一端，所述第四电容的另一端电连接所述激励线圈的一端，所述激励线圈的另一端接地。
[0016]如上所述的计量检测系统，其中，所述第三电容与所述第一发射极之间电连接有第二电阻与第三电阻，所述第二电阻的一端与所述第三电容电连接，所述第二电阻的另一端与所述第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端与所述第一发射极电连接；所述第三电容与所述第二电阻电连接的一端还电连接有第四电阻的一端，所述第四电阻的另一端接地。
[0017]本专利技术实施例还提供了一种计量表具，包括如上所述的计量检测系统。由于该计量表具包括上述计量检测系统，因此该计量表具也具有上述计量检测系统的优点，具体可以参考上述计量检测系统的相关描述。
[0018]本专利技术实施例还提供了一种计量检测系统的计量方法，其中，计量检测系统的计量方法包括：
[0019]获取第一电信号，所述第一电信号由转动信息采集电路根据一个感应线圈采集的旋转元件的转动信息生成，所述第一电信号包括在设定的取样时间内并按照取样时间点的先后顺序采集的多个电压采样值；根据所述多个电压采样值的大小以及所述取样时间点的先后顺序，获得流体流量。
[0020]本专利技术实施例提供的一种计量检测系统的计量方法具有如下优点：
[0021]本专利技术实施例提供的计量检测系统的计量方法，只需转动信息采集电路通过一个感应线圈对旋转元件进行感应测得的第一电信号，根据第一电信号中的多个电压采样值的大小及取样时间点的先后顺序，即可测得流体的流量。无需将转动信息采集电路通过多个感应线圈分别测得的第一电信号进行比较，即处理器可以省去一个比较的过程，减小了处理器的处理难度。并且由于计量检测系统的计量方法无需将转动信息采集电路通过多个感应线圈分别测得的第一电信号进行比较，使得多个感应线圈的结构可以不相同，即无需制造结构完全相同的感应线圈，减小了加工难度。
[0022]如上所述的计量检测系统的计量方法，其中，根据所述多个电压采样值的大小以及取样时间点的先后顺序，获得流体流量的步骤包括：
[0023]根据所述多个电压采样值的大小以及取样时间点的先后顺序，生成周期性变化的电压采样曲线，所述电压采样曲线的一个周期小于所述第一电信号的所述取样时间；根据所述电压采样曲线，获得所述电压采样曲线的总周期数；根据所述总周期数得到所述第一电信号对应的所述旋转元件的转数；根据所述旋转元件的转数获得流体流本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种计量检测系统，其特征在于，包括旋转元件、转动信息采集电路以及处理器；所述旋转元件用于在流体流经所述旋转元件时转动；所述转动信息采集电路包括激励线圈、感应线圈、开关晶体管、蓄电电路以及反相缓冲器，所述感应线圈与所述激励线圈电磁耦合；所述感应线圈相对所述旋转元件设置，用于采集所述旋转元件的转动信息；所述反相缓冲器与所述激励线圈电连接，用于控制所述激励线圈产生激励磁场；所述开关晶体管与所述感应线圈电连接，用于根据所述感应线圈产生的感应电流，调整经过所述开关晶体管的电流大小；所述蓄电电路与所述开关晶体管电连接，用于通过所述开关晶体管控制所述蓄电电路的放电量，并产生第一电信号；所述处理器与所述蓄电电路信号连接，所述处理器根据所述第一电信号计算出所述流体的流量。2.根据权利要求1所述的计量检测系统，其特征在于，所述开关晶体管包括第一三极管，所述第一三极管为NPN型三极管，所述第一三极管的第一基极电连接所述感应线圈，所述第一三极管的第一集电极电连接所述蓄电电路，所述第一三极管的第一发射极与所述反相缓冲器电连接。3.根据权利要求2所述的计量检测系统，其特征在于，所述第一基极还电连接有限流电阻的一端，所述限流电阻的另一端接地。4.根据权利要求2所述的计量检测系统，其特征在于，所述蓄电电路包括第一控制引脚以及第一电容，所述第一电容的一端接地，另一端电连接所述第一控制引脚以及所述第一集电极；所述第一控制引脚与所述处理器信号连接，所述第一控制引脚接收所述处理器发出的第一高电平信号，当所述第一控制引脚接收所述第一高电平信号时，所述第一控制引脚向所述第一电容充电；所述第一电容通过第一三极管放电后，所述第一控制引脚处产生所述第一电信号。5.根据权利要求2所述的计量检测系统，其特征在于，所述反相缓冲器包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚以及第六引脚，所述第一引脚处的电压与所述第六引脚处的电压反相，所述第三引脚处的电压与所述第四引脚处的电压反相；所述第一引脚与所述第一发射极电连接，所述第三引脚电连接有第二控制引脚，所述第四引脚与所述第一引脚电连接，所述第一引脚还电连接有所述第一发射极，所述第六引脚与所述激励线圈的一端电连接，所述激励线圈的另一端接地；所述第二控制引脚接收来自所述处理器的激励信号；所述第二引脚接地，所述第五引脚电连接有供电引脚，所述供电引脚电连接第一供电电源。6.根据权利要求5所述的计量检测系统，其特征在于，所述第三引脚电连接有第二电容的一端，所述第二电容的另一端电连接所述第二控制引脚；所述第三引脚还电连接有第一电阻的一端，所述第一电阻的另一端接地。7.根据权利要求5所述的计量检测系统，其特征在于，所述第一引脚与所述第四引脚电连接有第三电容的一端，所述第三电容的另一端电连接所述第一发射极；
所述第六引脚电连接有第四电容的一端，所述第四电容的另一端电连接所述激励线圈的一端，所述激励线圈的另一端接地。8.根据权利要求7所述的计...

【专利技术属性】
技术研发人员：王海峰，苏杰，陈正海，饶志建，张洪灏，
申请(专利权)人：金卡智能集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：