一种检测机构及检测方法技术

本发明专利技术属于镜头生产技术领域，公开一种检测机构及检测方法，该检测机构包括承靠台、压圈、测量定位件以及高度计，承靠台的中部沿轴向贯穿开设有通孔，通孔的内壁沿轴向间隔设置有内螺纹和台阶，隔圈和镜片位于内螺纹与台阶之间；压圈设置于通孔具有内螺纹的位置上，压圈的外周壁设置有外螺纹，压圈与承靠台螺纹连接，压圈用于限定镜片沿轴向的移动；测量定位件位于通孔内，且测量定位件抵接于隔圈背离镜片的一侧，测量定位件的中部沿轴向贯穿开设有测量孔，测量孔与通孔同轴设置；高度计的探针头能够穿过测量孔以抵接镜片。本发明专利技术将隔圈和镜片安置于承靠台的通孔内，提高对隔圈和镜片的定位精度，保证高度计能够检测得到准确的测量值。量值。量值。

【技术实现步骤摘要】
一种检测机构及检测方法


[0001]本专利技术涉及镜头生产
，尤其涉及一种检测机构及检测方法。

技术介绍

[0002]随着电子及自动化行业的快速发展，给机器视觉带来了巨大的机遇和挑战。人们将机器视觉系统广泛应用于电子、SMT、半导体、医疗、印刷、汽车等各个行业中，机器视觉系统应用项目包括装配定位、产品质量检测、产品识别、产品尺寸测量等方面。机器视觉系统中的镜头主要由镜片、隔圈或垫片，相邻的两枚镜片之间的空气间隔主要由隔圈或垫圈保证，空气间隔的好坏直接影响整个镜头的解像质量，使用现有的检测治具以及传统的测量方法时，需要引入镜片芯厚尺寸公差，但会因此造成测量数据偏离真实值，容易得到错误值，造成大批量产品报废。

技术实现思路

[0003]本专利技术的一个目的在于：提供一种检测机构及检测方法，将隔圈和镜片安置于承靠台的通孔内，提高对隔圈和镜片的定位精度，保证高度计能够检测得到准确的测量值。
[0004]为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0005]第一方面，提供一种检测机构，包括：
[0006]承靠台，其中部沿轴向贯穿开设有通孔，所述通孔的内壁沿轴向间隔设置有内螺纹和台阶，隔圈和镜片位于所述内螺纹与所述台阶之间，所述台阶用于抵接并限定所述隔圈沿轴向的移动，所述镜片抵接于所述隔圈背离所述台阶的一侧；
[0007]压圈，设置于所述通孔具有所述内螺纹的位置上，其外周壁设置有外螺纹，所述压圈与所述承靠台螺纹连接，所述压圈用于限定所述镜片沿轴向的移动；
[0008]测量定位件，位于所述通孔内，且所述测量定位件抵接于所述隔圈背离所述镜片的一侧，所述测量定位件的中部沿轴向贯穿开设有测量孔，所述测量孔与所述通孔同轴设置；
[0009]高度计，所述高度计的探针头能够穿过所述测量孔以抵接所述镜片。
[0010]作为一种可选的技术方案，所述通孔包括第一段通孔和第二段通孔，所述内螺纹位于所述第一段通孔内，所述台阶位于所述第二段通孔内，所述第一段通孔的直径大于所述第二段通孔的直径，所述镜片的一端伸入所述第一段通孔内并与所述第一段通孔的内壁间隔设置，所述镜片的另一端伸入所述第二段通孔内并与所述第二段通孔的内壁紧密抵接。
[0011]作为一种可选的技术方案，所述通孔还包括第三段通孔，所述测量定位件设置于所述第三段通孔内，所述第三段通孔的直径小于所述第二段通孔的直径，所述测量定位件的外壁与所述第三段通孔的内壁紧密抵接。
[0012]作为一种可选的技术方案，所述承靠台包括第一端和第二端，所述第一段通孔位于所述第一端，所述第三段通孔位于所述第二端，所述第二端的端面开设有避让槽，所述避
让槽与所述第三段通孔接通，所述测量定位件背离所述隔圈的一端伸入所述避让槽。
[0013]第二方面，提供一种检测方法，采用如上所述的检测机构实施，所述检测方法包括以下步骤：
[0014]S100、将所述承靠台沿轴向竖放，并从上至下依次将所述隔圈和所述镜片放入所述通孔内，采用压力装置对所述镜片进行打压；
[0015]S200、将所述压圈从上至下螺旋转入所述通孔中，直至所述压圈与所述镜片紧密抵接；
[0016]S300、将所述承靠台沿轴向倒放，并采用所述高度计对所述隔圈的上表面以及所述镜片的最高点进行检测，所述高度计获取的绝对值即为所述镜片与所述隔圈的空气间隔值。
[0017]作为一种可选的技术方案，在所述步骤S100中，将所述承靠台沿轴向竖放时，所述内螺纹位于所述台阶的上方。
[0018]作为一种可选的技术方案，在所述步骤S100中，采用压力装置对所述镜片进行打压时，确保所述隔圈紧密抵接于所述台阶以及所述镜片紧密抵接于所述隔圈。
[0019]作为一种可选的技术方案，在所述步骤S300中，将所述承靠台沿轴向倒放时，所述内螺纹位于所述台阶的下方。
[0020]作为一种可选的技术方案，所述步骤S300具体为：使所述高度计的探针头抵接于所述隔圈的用于抵接所述台阶的上表面，并对所述高度计的探针头进行归零，再将所述高度计取走以及将所述测量定位件从上至下放入所述通孔中，使所述测量孔正对所述镜片的最高点，最后将所述高度计的探针头穿过所述测量孔并抵接所述镜片，所述高度计显示的绝对值即为所述镜片与所述隔圈的空气间隔值。
[0021]作为一种可选的技术方案，所述步骤S300具体为：将所述测量定位件从上至下放入所述通孔中，使所述测量孔正对所述镜片的最高点，再将所述高度计的探针头穿过所述测量孔并抵接所述镜片，并对所述高度计的探针头进行归零，之后将所述测量定位件取走，并使所述高度计的探针头抵接于所述隔圈的用于抵接所述台阶的上表面，所述高度计显示的绝对值即为所述镜片与所述隔圈的空气间隔值。
[0022]本专利技术的有益效果在于：
[0023]本专利技术提供一种检测机构，该检测机构包括承靠台、压圈、测量定位件以及高度计，采用压圈将隔圈和镜片限定于通孔内，提高对隔圈和镜片的定位精度，在承靠台翻转时，能够避免隔圈和镜片相对通孔移动，保证高度计能够检测得到准确的测量值；压圈与承靠台之间为螺纹连接，能够对不同厚度的隔圈和镜片进行限定，即能够测量不同规格厚度的隔圈和镜片，提高检测范围；在测量定位件上开设测量孔，使得测量孔与通孔同轴设置，即测量孔正对镜片的最高点，通过测量定位件上的测量孔，使得高度计的探针头能够快速且准确地抵接于镜片的最高点。
[0024]本专利技术还提供一种检测方法，采用如上所述的检测机构实施，先将承靠台沿轴向竖放，并从上至下依次将隔圈和镜片放入通孔内，采用压力装置对镜片进行打压；再将压圈从上至下螺旋转入通孔中，直至压圈与镜片紧密抵接；之后将承靠台沿轴向倒放，并采用高度计对隔圈的上表面以及镜片的最高点进行检测，高度计获取的绝对值即为镜片与隔圈的空气间隔值。通过本专利技术的检测方法，能够快速地检测到准确的测量值。
附图说明
[0025]下面根据附图和实施例对本专利技术作进一步详细说明；
[0026]图1为实施例所述的检测机构的(高度计未展示)结构爆炸图；
[0027]图2为实施例所述的高度计对隔圈的上表面进行检测时的剖视图；
[0028]图3为实施例所述的高度计对镜片的最高点进行检测时的剖视图；
[0029]图4为实施例所述的承靠台的剖视图；
[0030]图5为实施例所述的检测方法的步骤流程图。
[0031]图中：
[0032]100、隔圈；200、镜片；
[0033]1、承靠台；11、内螺纹；12、台阶；13、第一段通孔；14、第二段通孔；15、第三段通孔；16、避让槽；
[0034]2、压圈；
[0035]3、测量定位件；31、测量孔；
[0036]4、高度计。
具体实施方式
[0037]为使本专利技术解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测机构，其特征在于，包括：承靠台(1)，其中部沿轴向贯穿开设有通孔，所述通孔的内壁沿轴向间隔设置有内螺纹(11)和台阶(12)，隔圈(100)和镜片(200)位于所述内螺纹(11)与所述台阶(12)之间，所述台阶(12)用于抵接并限定所述隔圈(100)沿轴向的移动，所述镜片(200)抵接于所述隔圈(100)背离所述台阶(12)的一侧；压圈(2)，设置于所述通孔具有所述内螺纹(11)的位置上，其外周壁设置有外螺纹，所述压圈(2)与所述承靠台(1)螺纹连接，所述压圈(2)用于限定所述镜片(200)沿轴向的移动；测量定位件(3)，位于所述通孔内，且所述测量定位件(3)抵接于所述隔圈(100)背离所述镜片(200)的一侧，所述测量定位件(3)的中部沿轴向贯穿开设有测量孔(31)，所述测量孔(31)与所述通孔同轴设置；高度计(4)，所述高度计(4)的探针头能够穿过所述测量孔(31)以抵接所述镜片(200)。2.根据权利要求1所述的检测机构，其特征在于，所述通孔包括第一段通孔(13)和第二段通孔(14)，所述内螺纹(11)位于所述第一段通孔(13)内，所述台阶(12)位于所述第二段通孔(14)内，所述第一段通孔(13)的直径大于所述第二段通孔(14)的直径，所述镜片(200)的一端伸入所述第一段通孔(13)内并与所述第一段通孔(13)的内壁间隔设置，所述镜片(200)的另一端伸入所述第二段通孔(14)内并与所述第二段通孔(14)的内壁紧密抵接。3.根据权利要求2所述的检测机构，其特征在于，所述通孔还包括第三段通孔(15)，所述测量定位件(3)设置于所述第三段通孔(15)内，所述第三段通孔(15)的直径小于所述第二段通孔(14)的直径，所述测量定位件(3)的外壁与所述第三段通孔(15)的内壁紧密抵接。4.根据权利要求3所述的检测机构，其特征在于，所述承靠台(1)包括第一端和第二端，所述第一段通孔(13)位于所述第一端，所述第三段通孔(15)位于所述第二端，所述第二端的端面开设有避让槽(16)，所述避让槽(16)与所述第三段通孔(15)接通，所述测量定位件(3)背离所述隔圈(100)的一端伸入所述避让槽(16)。5.一种检测方法，其特征在于，采用如权利要求1至4任一项所述的检测机构实施，所述检测方法包括以下步骤：S100、将所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆俊光，李巧，廖广毅，田帅，江山，
申请(专利权)人：东莞市宇瞳光学科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：