一种电子系统强电磁脉冲防护指标量化分配方法技术方案

本发明专利技术提供一种电子系统强电磁脉冲防护指标量化分配方法包括：建立体现电子系统失效因果关系的分层结构模型；计算电子系统满足某种强电磁脉冲环境适应性要求下的各电子设备的目标生存概率；获取各电子设备加固前在要求强电磁脉冲环境下的敏感度分布函数；获取各电子设备加固前耦合电磁干扰的分布函数；计算各电子设备加固后应达到的目标敏感度分布函数；计算获得各电子设备的防护指标。本发明专利技术采用概率推导将系统脉冲适应性要求转化为设备脉冲适应性要求，引入统计参数取代确定性参数来描述设备耦合干扰和敏感度，实现系统防护指标到设备防护指标的量化分解，避免系统级试验成本高和样本量小带来的指标分配输入数据置信度不高的问题。不高的问题。不高的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种电子系统强电磁脉冲防护指标量化分配方法


[0001]本专利技术涉及强电磁脉冲防护
，具体而言，涉及一种电子系统强电磁脉冲防护指标量化分配方法。

技术介绍

[0002]核电磁脉冲、高功率微波等强电磁脉冲通过“前门”和(或)“后门”耦合途径进入电子系统，在电子设备端口形成大电压或大电流脉冲，造成电子系统受到干扰甚至损伤，影响电子系统功能正常发挥。电子系统的强电磁脉冲防护需求越来越迫切。有针对性地对电子系统进行电磁加固，可有效提高电子系统在强电磁脉冲环境下的适应能力。电子系统电磁加固是以电子设备电磁加固为基础，合理地将系统电磁脉冲环境适应性指标分配到各电子设备，明确各设备电磁防护指标，即保证系统满足强电磁脉冲环境适应性要求，又避免系统过度防护带来的成本增加。
[0003]目前，系统的适应性指标一般用场强等确定性参数来描述，在系统防护指标分配方面有两种方法，一种是基于实测数据的的分配方法，另一种是基于实例推理的分配方法。基于实测数据的分配方法，通过辐射试验测试电子设备耦合干扰数据和敏感度数据，进而计算获得设备防护指标。该方法对试验条件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子系统强电磁脉冲防护指标量化分配方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，建立体现电子系统失效因果关系的分层结构模型；步骤2，基于建立的分层结构模型，计算电子系统满足某种强电磁脉冲环境适应性要求下的各电子设备的目标生存概率；步骤3，获取各电子设备加固前在要求强电磁脉冲环境下的敏感度分布函数；步骤4，获取各电子设备加固前耦合电磁干扰的分布函数；步骤5，基于各电子设备加固前在要求强电磁脉冲环境下的敏感度分布函数以及各电子设备加固前耦合电磁干扰的分布函数，计算各电子设备加固后应达到的目标敏感度分布函数；步骤6，基于各电子设备的敏感度分布函数和目标敏感度分布函数，计算获得各电子设备的防护指标，从而完成电子系统防护指标量化分配。2.根据权利要求1所述的电子系统强电磁脉冲防护指标量化分配方法，其特征在于，步骤1包括如下子步骤：步骤1.1，筛选影响电子系统强电磁脉冲环境适应性考核指标的关键分系统和设备；步骤1.2，根据筛选出的关键分系统和设备并结合电子系统的工作原理，建立体现系统失效因果关系的分层结构模型。3.根据权利要求2所述的电子系统强电磁脉冲防护指标量化分配方法，其特征在于，步骤2包括如下子步骤：步骤2.1，根据电子系统满足的某种强电磁脉冲环境适应性要求，获取电磁脉冲类型、目标场强和电子系统目标生存概率P；步骤2.2，根据步骤1建立的分层结构模型，电子系统共包括N个分系统，用公式计算满足电子系统目标生存概率P要求下各分系统的目标生存概率P
i
(i＝1,2,
…
,N
–
1,N)，其中，P1＝P2＝
…
＝P
N
‑1＝P
N
；步骤2.3，第i个分系统共包括M个电子设备，根据各分系统的目标生存概率P
i
，用公式计算满足各分系统的生存概率P
i
要求下各电子设备的目标生存概率P
i.j
(j＝1,2,
…
,M
–
1,M)，其中，P
i.1
＝P
i.2
＝
…
＝P
i.(M
‑
1)
＝P
i.M
。4.根据权利要求3所述的电子系统强电磁脉冲防护指标量化分配方法，其特征在于，步骤3包括如下子步骤：步骤3.1，针对第i(1≤i≤N)个分系统的第j(1≤j≤M)个电子设备，根据电子设备的设备功能或工作信号，确定电子设备电磁脉冲效应失效判据；步骤3.2，针对第i(1≤i≤N)个分系统的第j(1≤j≤M)个电子设备，搭建电子设备电磁脉冲敏感度测试平台；然后基于电子设备电磁脉冲效应失效判据并...

【专利技术属性】
技术研发人员：王震，蔡金良，秦风，扈泽正，高原，林江川，赵刚，吴双，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院应用电子学研究所，
类型：发明
国别省市：