功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统，涉及功耗测试技术领域。该方法包括电源分配电路、采样电路、采样控制电路和待测系统负载，首先初始化传感器，对传感器的参数进行配置，设置周期性采样程序，根据采样程序对待测系统负载进行采样，获取第一数据，将第一数据存储到内存，将第一数据发送至终端设备，以使得终端设备根据第一数据，绘制图表。该方法能够实现低成本精准的功耗自动化测试。动化测试。动化测试。

【技术实现步骤摘要】
功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统


[0001]本专利技术涉及功耗测试
，尤其涉及一种功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统。

技术介绍

[0002]目前，随着电子技术的发展，人们越来越多的使用电子设备，然而在生产过程中，需要对电子设备的功耗进行测试，传统功耗测试方法，需要手动搭建硬件测试环境、操作繁琐、使用条件苛刻，测试电子设备的功耗需要测试电子设备的电压，需要使用万用表测量电路上的分压电压，需要人工进行繁琐的操作。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统，能够节省人工成本，操作简单，效率高，实现低成本精准功耗自动化测试。
[0004]为实现上述目的，本专利技术实施例的第一方面提出了一种功耗测试方法，应用于测试装置，所述测试装置包括电源分配电路、采样电路、采样控制电路和待测系统负载，所述电源分配电路用于给不同模块供电，所述电源分配电路与所述采样电路和所述采样控制电路连接，所述采样电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功耗测试方法，其特征在于，应用于测试装置，所述测试装置包括电源分配电路、采样电路、采样控制电路和待测系统负载，所述电源分配电路用于给不同模块供电，所述电源分配电路与所述采样电路和所述采样控制电路连接，所述采样电路由传感器和采样电阻组成，用于采集数据，所述采样电路与所述待测系统负载连接，所述采样控制电路用于对传感器进行配置和控制，所述采样控制电路与所述待测系统负载连接，所述方法包括：初始化所述传感器；对所述传感器的参数进行配置；设置周期性采样程序；根据所述采样程序对所述待测系统负载进行采样，获取第一数据；将所述第一数据存储到内存；将所述第一数据发送至终端设备，以使得所述终端设备根据所述第一数据，绘制图表。2.根据权利要求1所述的功耗测试方法，其特征在于，所述对所述传感器的参数进行配置，包括：根据所述采样电路，设置采样控制开关；根据所述采样电路，设置采样通道；根据所述采样电路，设置采样率；根据所述采样电路，设置采样时间。3.根据权利要求2所述的功耗测试方法，其特征在于，所述设置周期性采样程序，包括：创建工作线程；根据所述工作线程对所述采样电路电压进行周期性的采样，获得所述第一数据。4.根据权利要求3所述的功耗测试方法，其特征在于，所述将所述第一数据发送至终端设备，以使得所述终端设备根据所述第一数据，绘制图表，包括：将所述第一数据和所述采样电阻阻值发送至终端设备；以使得终端设备根据所述第一数据和所述采样电阻阻值得到第二数据；从而使得终端设备根据所述第二数据绘制图表；最后使得终端设备根据所述图表分析和验证所述第一数据。5.一种功耗测试方法，其特征在于，应用于终端设备，所述终端设备与测试装置连接，所述方法包括：接收来自所述测试装置发送的第一数据和采样电阻阻值；根据所述第一数据和所述采样电阻阻值得到第二数据；根据所述第二数据绘制图表；根据所述图表分析和验证所述第一数据。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘志坚，樊卿华，
申请(专利权)人：珠海全志科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：