一种评价产品生产过程的方法、设备及计算机存储介质技术

本发明专利技术公开了评价产品生产过程的方法、设备及计算机存储介质。涉及生产过程评价领域。包括提供产品结构管理模块，并将产品结构体系配置于产品结构管理模块，产品结构体系自上而下至少包括一个层级；提供缺陷统计模块，在缺陷统计模块内对应各个层级分别配置有缺陷统计模型，用于确定对应层级的缺陷率；提供进度统计模块，在进度统计模块对应各个层级分别配置有进度统计模型，进度统计模型用于确定对应层级的进度偏离值；提供综合评价模块，在综合评价模块对应产品、型号、项目、生产单位分别配置有产品综合评价模型、型号综合评价模型、项目综合评价模型以及生产单位综合评价模型，上述综合评价模型基于缺陷率和进度偏离值确定综合偏离值。综合偏离值。综合偏离值。

【技术实现步骤摘要】
一种评价产品生产过程的方法、设备及计算机存储介质


[0001]本专利技术涉及产品生产过程评价
，尤其涉及一种评价产品生产过程的方法、设备及计算机存储介质。

技术介绍

[0002]生产计划是产品管理进度管理中的关键核心要素。计划偏移情况的统计，是对产品生产计划跟踪与调度的关键依据。现实企业往往有不同的统计方法，通常是通过比对实际交付与计划交期的偏离来实现。生产检验特性参数记载着产品科研生产全过程的特性参数信息，对于产品关键特性的缺陷率统计，是对产品合格率统计有效方法。现实企业生产中，对于产品生产计划偏移与产品关键特性的统计，通常由生产人员与质量人员，分别以各自的视角采用不同的方式实现，对于产品的计划进度与质量特性的综合评估，更多的采用的一种感性描述方式实现。这种统计方式实际操作，往往通过人工搜集方式，人工统计方式的实现。
[0003]现有企业的对于产品关键特性和计划偏移情况的存在突出不足，无法有效的指导产品科研生产。现实中客户对于产品交付的满意度，不仅仅是产品数量和交付时间，还有产品质量，特别是产品在关键特性方面的满足性。显示产品关本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评价产品生产过程的方法，其特征在于，包括：提供产品结构管理模块，并将产品结构体系配置于所述产品结构管理模块，所述产品结构体系自上而下至少包括一个层级；提供缺陷统计模块，在所述缺陷统计模块内对应各个层级分别配置有缺陷统计模型，所述缺陷统计模型用于确定对应层级的缺陷率；提供进度统计模块，在所述进度统计模块对应各个层级分别配置有进度统计模型，所述进度统计模型用于确定对应层级的进度偏离值；提供综合评价模块，在所述综合评价模块对应产品、型号、项目、生产单位分别配置有产品综合评价模型、型号综合评价模型、项目综合评价模型以及生产单位综合评价模型，上述综合评价模型基于所述缺陷率和进度偏离值确定综合偏离值。2.根据权利要求1所述的评价产品生产过程的方法，其特征在于，所述产品结构体系自上而下依次包括系统、分系统、单机、单元和零部件。3.根据权利要求1所述的评价产品生产过程的方法，其特征在于，对应各个层级分别配置的所述缺陷统计模型为：其中，D
Z
对应层级的缺陷率，D
G
为对应层级的缺陷总数，N
G
为对应层级的关键特性总数。4.根据权利要求3所述的评价产品生产过程的方法，其特征在于，对应层级的缺陷总数D
G
通过以下方式确定：其中，每一层级对应i个关键特性参数；其中，P
i
为对应层级所包括的关键特性参数i检出的缺陷数，i＝1、2、3、
…
、n；K
i
为对应层级所包括的关键特性参数i对应的严酷度加权系数，严酷度K
i
＝1、2、3、4；表示对应层级的所有检验工站，n表示最大检验工站数量。5.根据权利要求3所述的评价产品生产过程的方法，其特征在于，对应层级的关键特性总数N
G
通过以下方式确定：N
G
＝O
×
S其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈真，魏姮清，刘昂，王振宇，刘建雄，王维，周翔，宋志蛟，曹睿，滕海，朱文华，庞晓盈，
申请(专利权)人：航天科工网络信息发展有限公司，
类型：发明
国别省市：