本申请实施例公开了一种嵌入式硬件检测装置、方法、电子设备及存储介质。本申请实施例提供的技术方案，包括控制终端、矩阵开关、硬件卡槽、检测仪器组件和测试组件；其中，所述控制终端与所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接，所述控制终端用于发送控制信号给所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件，并接收所述检测仪器组件反馈的检测结果信息，输出检测报告；所述矩阵开关分别与所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接，以传输检测信号；所述硬件卡槽外接待检测的嵌入式硬件；能够解决嵌入式硬件测试工作效率低问题，提升嵌入式硬件测试的自动化程度和测试工作效率。效率。效率。
【技术实现步骤摘要】
一种嵌入式硬件检测装置、方法、电子设备及存储介质
[0001]本申请实施例涉及硬件检测
，尤其涉及一种嵌入式硬件检测装置、方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]在嵌入式系统中，硬件运行的稳定性和可靠性至关重要，很多时候，产品或者模块出现问题，都与硬件相关。要确保嵌入式硬件运行的稳定性和可靠性，必须经过完备的测试。而与硬件相关的测试与纯软件不同，硬件的相关测试需要在特定的嵌入式硬件设备上执行，此外，测试往往还需要特定的硬件辅助设备，例如：检测引脚输出波形是否与期望的一致，需要连接示波器以查看波形；检查模数转换器(ADC)采集电压与实际电压是否一致，需要连接万用表以查看比较相关数值；查看双向二线制同步串行总线(I2C)抗干扰性能，需要外部干扰器进行干扰，同时采用示波器查看波形等等。
[0003]因为硬件测试的复杂性，在嵌入型硬件系统中，行业内多数都是雇佣测试人员手动测试或者半自动测试硬件，测试过程中需要引出大量的被测信号线，而被测信号线又需要连接各种各种的检测仪器，相关数据还需要人工收集和分析，导致工作效率非常低。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种嵌入式硬件检测装置、方法、电子设备及存储介质，能够解决嵌入式硬件测试工作效率低问题，提升嵌入式硬件测试的自动化程度和测试工作效率。
[0005]在第一方面，本申请实施例提供了一种嵌入式硬件检测装置，包括：
[0006]控制终端、矩阵开关、硬件卡槽、检测仪器组件和测试组件；
[0007]其中，所述控制终端与所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接，所述控制终端用于发送控制信号给所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件，并接收所述检测仪器组件反馈的检测结果信息，输出检测报告；
[0008]所述矩阵开关分别与所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接，以传输检测信号；
[0009]所述硬件卡槽外接待检测的嵌入式硬件。
[0010]进一步的，所述检测仪器组件包括检测仪器和检测仪器卡槽，所述测试组件包括测试套件和测试套件卡槽；
[0011]其中，所述检测仪器与所述检测卡槽连接，所述测试套件和所述测试套件卡槽连接；
[0012]所述检测卡槽和所述测试套件卡槽分别与所述控制终端和所述矩阵开关连接。
[0013]进一步的，所述硬件卡槽包括第一控制模块、第一输入引脚和第一输出引脚；
[0014]所述第一输入引脚外接待检测的嵌入式硬件引脚，并通过第一开关与所述第一输出引脚连接；
[0015]所述第一输出引脚与所述矩阵开关连接；
[0016]所述第一控制模块与所述第一开关连接，所述第一控制模块用于根据控制端的控制信号控制第一开关的通断。
[0017]进一步的，所述矩阵开关包括第二控制模块、第二输入引脚、多个级联引脚和第二输出引脚；
[0018]所述第二输入引脚与硬件卡槽的第一输出引脚连接，并每一所述第二输入引脚通过第二开关与多个级联引脚相连；
[0019]每一所述级联引脚分别与每一所述第二输出引脚相连；
[0020]所述第二输出引脚与所述检测仪器卡槽以及所述测试套件卡槽相连；
[0021]所述第二控制模块与所述第二开关相连，所述第二控制模块用于根据控制端的控制信号控制第二开关的通断。
[0022]进一步的，所述检测仪器卡槽包括第三控制模块、第三输入引脚、多个级联引脚和第三输出引脚；
[0023]所述第三输入引脚与检测仪器连接，并每一所述第三输入引脚通过第三开关与多个级联引脚相连；
[0024]每一所述级联引脚分别与每一所述第三输出引脚相连；
[0025]所述第三输出引脚与所述矩阵开关的第二输出引脚相连；
[0026]所述第三控制模块与所述第三开关相连，所述第三控制模块用于根据控制端的控制信号控制第三开关的通断。
[0027]进一步的，所述测试套件卡槽包括第四控制模块、第四输入引脚和与第四输出引脚；
[0028]所述第四输入引脚与测试套件连接，且通过第四开关与所述第四输出引脚连接；
[0029]所述第四输出引脚与所述矩阵开关的第二输出引脚连接；
[0030]所述第四控制模块与所述第四开关连接，所述第四控制模块用于根据控制端的控制信号控制第四开关的通断。
[0031]进一步的，所述检测仪器包括示波器、频谱仪、功率计、万用表和逻辑分析仪。
[0032]在第二方面，本申请实施例提供了一种嵌入式硬件检测方法，包括：
[0033]接收控制端发送的控制信号；
[0034]根据所述控制信号控制接通对应的硬件卡槽引脚、测试套件卡槽引脚和检测仪器卡槽引脚，以进行检测信号的传输；
[0035]根据所述检测信号进行检测，得到检测结果信息；
[0036]反馈所述检测结果信息给所述控制端，以供所述控制端根据所述检测结果信息输出对应的检测报告。
[0037]在第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：
[0038]存储器以及一个或多个处理器；
[0039]所述存储器，用于存储一个或多个程序；
[0040]当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如第二方面所述的嵌入式硬件检测。
[0041]在第四方面，本申请实施例提供了一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如第二方面所述的嵌入式硬件检测。
[0042]本申请实施例通过设置有控制终端、矩阵开关、硬件卡槽、检测仪器组件和测试组件，所述控制终端与所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接，所述控制终端用于发送控制信号给所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件，并接收所述检测仪器组件反馈的检测结果信息，输出检测报告，所述矩阵开关分别与所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接，以传输检测信号，所述硬件卡槽外接待检测的嵌入式硬件。采用上述技术手段能够通过配置对应的检测仪器组件和测试组件，结合对应的硬件卡槽外接待检测的嵌入式硬件，并通过矩阵开关控制对应硬件卡槽与对应检测仪器组件以及对应的测试组件的连接，以实现嵌入式硬件的各种功能性能的检测信号的传输，提高了嵌入式硬件测试的自动化程度，提高了测试的工作效率。
附图说明
[0043]图1是本申请实施例一提供的一种嵌入式硬件检测装置的结构示意图；
[0044]图2是本申请实施例一中的硬件卡槽的结构示意图；
[0045]图3是本申请实施例一中的矩阵开关的结构示意图；
[0046]图4是本申请实施例一中的检测仪器卡槽的结构示意图；
[0047]图5是本申请实施例一中的测试套件卡槽的结构示意图；
[0048]图6是本申请实施例一提供的另一种嵌入式硬件检测装置的结构示意图；
[0049]图7是本本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种嵌入式硬件检测装置，其特征在于，包括控制终端、矩阵开关、硬件卡槽、检测仪器组件和测试组件；其中，所述控制终端与所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接，所述控制终端用于发送控制信号给所述矩阵开关、所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件，并接收所述检测仪器组件反馈的检测结果信息，输出检测报告；所述矩阵开关分别与所述硬件卡槽、所述检测仪器组件和所述测试组件连接，以传输检测信号；所述硬件卡槽外接待检测的嵌入式硬件。2.根据权利要求1所述的嵌入式硬件检测装置，其特征在于，所述检测仪器组件包括检测仪器和检测仪器卡槽，所述测试组件包括测试套件和测试套件卡槽；其中，所述检测仪器与所述检测卡槽连接，所述测试套件和所述测试套件卡槽连接；所述检测卡槽和所述测试套件卡槽分别与所述控制终端和所述矩阵开关连接。3.根据权利要求2所述的嵌入式硬件检测装置，其特征在于，所述硬件卡槽包括第一控制模块、第一输入引脚和第一输出引脚；所述第一输入引脚外接待检测的嵌入式硬件引脚，并通过第一开关与所述第一输出引脚连接；所述第一输出引脚与所述矩阵开关连接；所述第一控制模块与所述第一开关连接，所述第一控制模块用于根据控制端的控制信号控制第一开关的通断。4.根据权利要求3所述的嵌入式硬件检测装置，其特征在于，所述矩阵开关包括第二控制模块、第二输入引脚、多个级联引脚和第二输出引脚；所述第二输入引脚与硬件卡槽的第一输出引脚连接，并每一所述第二输入引脚通过第二开关与多个级联引脚相连；每一所述级联引脚分别与每一所述第二输出引脚相连；所述第二输出引脚与所述检测仪器卡槽以及所述测试套件卡槽相连；所述第二控制模块与所述第二开关相连，所述第二控制模块用于根据控制端的控制信号控制第二开关的通断。5.根据权利要求4...
【专利技术属性】
技术研发人员：周立功，杨韬，王程，罗勇，
申请(专利权)人：广州致远电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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