调整方法、测量方法、投射系统、信息处理装置和记录介质制造方法及图纸

技术编号:33764545 阅读:25 留言:0更新日期:2022-06-12 14:14
调整方法、测量方法、投射系统、信息处理装置和记录介质。避免产生被投射了投射图像的被投射物的拍摄图像中的高光溢出或暗部缺失。信息处理装置具有确定部、检测部、估计部和调整部。确定部根据被投射了图案图像的被投射物的拍摄图像和图案图像,确定投影仪坐标系与摄像头坐标系的对应关系。检测部检测被投射了亮度均匀的单色图像的被投射物的拍摄图像中的第1区域和第2区域的亮度。估计部针对在单色图像中与第1区域对应起来的第3区域和与第2区域对应起来的第4区域,估计不使拍摄图像中的亮度饱和的亮度的范围。调整部根据估计部的估计结果,调整在投射图像中与第3区域对应的第5区域和与第4区域对应的第6区域的亮度。和与第4区域对应的第6区域的亮度。和与第4区域对应的第6区域的亮度。

【技术实现步骤摘要】
调整方法、测量方法、投射系统、信息处理装置和记录介质


[0001]本专利技术涉及调整方法、测量方法、投射系统、信息处理装置和记录介质。

技术介绍

[0002]专利文献1公开了通过使用亮度呈正弦波状地发生变化的条纹图案的图像的相移法对测量对象物的三维形状进行测量的技术。
[0003]专利文献1:日本特开2009

115612号公报
[0004]在相移法中,条纹图案的图像投射到测量对象物。然后,根据拍摄被投射了条纹图案的图像的状态下的测量对象物而得到的拍摄图像,对测量对象物的三维形状进行测量。在被投射了条纹图案的图像的状态下的测量对象物的拍摄图像中,由于测量对象物的反射特性或周围的外部光等影响,即使在相同的拍摄图像内,条纹图案的亮度有时也根据区域而不同。关于条纹图案的亮度过高或过低等未在适当的亮度范围内拍摄条纹图案的区域,三维形状的测量精度可能下降。

技术实现思路

[0005]为了解决上述课题,本专利技术的调整方法是一种投射图像的调整方法,该投射图像从投影仪被投射到被投射物,其中,根据从所述投影仪本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种投射图像的调整方法,该投射图像从投影仪被投射到被投射物,其中,根据从所述投影仪投射到所述被投射物的第1图像和由第1摄像头拍摄被投射了所述第1图像的状态下的所述被投射物而得到的第1拍摄图像,确定表示所述第1图像内的位置的投影仪坐标系与表示所述第1拍摄图像内的位置的摄像头坐标系的对应关系;检测由所述第1摄像头拍摄被所述投影仪投射了第2图像的状态下的所述被投射物而得到的第2拍摄图像中的第1区域的亮度和所述第2拍摄图像中的第2区域的亮度;针对所述第2图像中的根据所述对应关系与所述第1区域对应起来的第3区域,根据针对所述第1区域检测出的亮度和所述第3区域的亮度,估计不使所述第1区域的亮度上下饱和的第1亮度的范围;针对所述第2图像中的根据所述对应关系与所述第2区域对应起来的第4区域,根据针对所述第2区域检测出的亮度和所述第4区域的亮度,估计不使所述第2区域的亮度上下饱和的第2亮度的范围;调整所述投射图像中的与所述第3区域对应的第5区域的亮度,以使其收敛于所述第1亮度的范围,并且调整所述投射图像中的与所述第4区域对应的第6区域的亮度,以使其收敛于所述第2亮度的范围。2.根据权利要求1所述的调整方法,其中,所述第2图像为单色图像。3.根据权利要求2所述的调整方法,其中,使所述投影仪依次投射图像内的亮度均匀的第1单色图像和第2单色图像分别作为所述第2图像,所述第1单色图像和所述第2单色图像的亮度相互不同;根据在投射了所述第1单色图像的情况下检测到的所述第1区域的亮度及在投射了所述第2单色图像的情况下检测到的所述第1区域的亮度、和所述第3区域的亮度,估计所述第1亮度的范围;根据在投射了所述第1单色图像的情况下检测到的所述第2区域的亮度及在投射了所述第2单色图像的情况下检测到的所述第2区域的亮度、和所述第4区域的亮度,估计所述第2亮度的范围。4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的调整方法,其中,所述第1图像包含第1特征点和第2特征点,根据所述第1图像中的所述第1特征点的位置、所述第1拍摄图像中与所述第1特征点对应的第3特征点的位置、所述第1图像中的所述第2特征点的位置、所述第1拍摄图像中与所述第2特征点对应的第4特征点的位置,确定所述对应关系。5.根据权利要求1~3中的任意一项所述的调整方法,其中,所述投射图像是在图像内亮度周期性地变化的图像。6.一种测量方法,将在图像内亮度周期性地变化的投射图像从投影仪投射到被投射物,根据由第1摄像头拍摄被投射了所述投射图像的状态下的所述被投射物而得到的拍摄图像和由与所述第1摄像头不同的第2摄像头拍摄被投射了所述投射图像的状态下的所述被投射物而得到的拍摄图像,测量所述被投射物的三维形状,其中,根据从所述投影仪投射到所述被投射物的第1图像和由所述第1摄像头拍摄被投射了所述第1图像的状态下的所述被投射物而得到的第1拍摄图像,确定表示所述第1图像内的
位置的投影仪坐标系与表示所述第1拍摄图像内的位置的摄像头坐标系的对应关系;检测由所述第1摄像头拍摄被所述投影仪投射了第2图像的状态下的所述被投射物而得到的第2拍摄图像中的第1区域的亮度和第2区域的亮度;针对所述第2图像中的根据所述对应关系与所述第1区域对应起来的第3区域,根据针对所述第1区域检测出的亮度和所述第3区域的亮度,估计不使所述第1区域的亮度上下饱和的第1亮度的范围;针对所述第2图像中的根据所述对应关系与所述第2区域对应起来的第4区域,根据针对所述第2区域检测出的亮度和所述第4区域的亮度,估计不使所述第2区域的亮度上下饱和的第2亮度的范围;调整所述投射图像中的与所述第3区域对应的第5区域的亮度,以使其收敛于所述第1亮度的范围,并且调整所述投射图像中的与所述第4区域对应的第6区域的亮度,以使其收敛于所述第2亮度的范围。7.一种测量方法,将在图像内亮度周期性地变化的投射图像从投影仪投射到被投射物,根据由第1摄像头拍摄被投射了所述投射图像的状态下的所述被投射物而得到的拍摄图像和所述投射图像,测量所述被投射物的三维形状,其中,根据由所述第1摄像头拍摄被所述投影仪投射了第1图像的状态下的所述被投射物而得到的第1拍摄图像和所述第1图像,确定表示所述第1图像内的位置的投影仪坐标系与表示所述第1拍摄图像内的位置的摄像头坐标系的对应关...

【专利技术属性】
技术研发人员:山内泰介
申请(专利权)人:精工爱普生株式会社
类型:发明
国别省市:

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