一种电流冷热循环冲击测试装置制造方法及图纸

技术编号:33755433 阅读:28 留言:0更新日期:2022-06-08 22:06
本实用新型专利技术提供一种电流冷热循环冲击测试装置,涉及半导体制冷片检测领域,包括检测台,所述检测台的顶部固定连接有固定台,所述固定台顶部的两侧均固定连接有边板,一侧所述边板的内部螺纹连接有夹块调节轴,所述夹块调节轴的一端活动连接有转把,所述夹块调节轴的另一端固定连接有连接块,所述连接块的一侧固定连接有调节夹块,另一侧所述边板的一侧固定连接有固定夹块,所述固定夹块和调节夹块的内部均开设有夹槽,所述夹槽的内部开设有端孔,所述固定夹块的一侧卡接有制冷片,本电流冷热循环冲击测试装置主要对制冷片的冷热温度以及外表是否受损来进行检测,测得的温度数据可以直观明了的观察到。以直观明了的观察到。以直观明了的观察到。

【技术实现步骤摘要】
一种电流冷热循环冲击测试装置


[0001]本技术涉及半导体制冷片检测领域,尤其涉及一种电流冷热循环冲击测试装置。

技术介绍

[0002]半导体制冷片是一种由半导体所组成的冷却装置,利用半导体材料的特性,当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时,在电偶的两端分别吸收热量和放出热量,实现制冷的目的,半导体制冷片的体积小巧,可靠性比较高,通常应用在空间受到限制的场所。
[0003]半导体制冷片的损坏原因一般主要是烧坏和冻坏所以需要检测出它的温度来进行对比,其次表面有损伤也会使半导体制冷片的使用寿命降低,所以也需要对其表面进行探伤。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种电流冷热循环冲击测试装置。
[0005]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:一种电流冷热循环冲击测试装置,包括检测台,所述检测台的顶部固定连接有固定台,所述固定台顶部的两侧均固定连接有边板,一侧所述边板的内部螺纹连接有夹块调节轴,所述夹块调节轴的一端活动连接有转把,所述夹块调节轴的另一端固定连接有连接块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电流冷热循环冲击测试装置,包括检测台(1),其特征在于:所述检测台(1)的顶部固定连接有固定台(2),所述固定台(2)顶部的两侧均固定连接有边板(3),一侧所述边板(3)的内部螺纹连接有夹块调节轴(10),所述夹块调节轴(10)的一端活动连接有转把(11),所述夹块调节轴(10)的另一端固定连接有连接块(9),所述连接块(9)的一侧固定连接有调节夹块(8),另一侧所述边板(3)的一侧固定连接有固定夹块(4)。2.根据权利要求1所述的一种电流冷热循环冲击测试装置,其特征在于:所述固定夹块(4)和调节夹块(8)的内部均开设有夹槽(5),所述夹槽(5)的内部开设有端孔(7),所述固定夹块(4)的一侧卡接有制冷片(6),所述固定夹块(4)的一侧卡接制冷片(6)的一侧,所述调节夹块(8)卡接制冷片(6)的另一侧。3.根据权利要求1所述的一种电流冷热循环冲击测试装置,其特征在于:所述检测台(1)的顶部靠近固定台(2)的一侧固定连接有温度检测设备(12),所述温度检测设备(12)的正面电性连接有温度显示屏(13),所述温度检测设备(12)的一侧电性连接有高温测量线(14),所述温度检测设备(...

【专利技术属性】
技术研发人员:邢维莹
申请(专利权)人:深圳市一冷科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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