一种环境试验箱温度均匀性校验定位装置制造方法及图纸

技术编号:33739784 阅读:26 留言:0更新日期:2022-06-08 21:37
本实用新型专利技术公开了一种环境试验箱温度均匀性校验定位装置,包括底座,所述底座的顶部设有滑槽,滑槽内滑动连接有滑块,所述底座的顶部固定连接有两个支块,两个支块之间插接有螺杆,螺杆与滑块螺纹连接,所述滑块的顶部固定连接有第一固定筒,第一固定筒的圆周内壁之间转动连接有转动轴,转动轴的外壁固定连接有第一齿轮,所述第一固定筒的圆周内壁设有两个滑道,两个滑道相对设置,滑道内滑动连接有滑条,滑条的一侧固定连接有第一齿条,两个第一齿条与第一齿轮相啮合,所述第一齿条的一端固定连接有固定架,固定架的一侧转动连接有导轮。本实用新型专利技术可以使得装置在箱内准确定位,提高温度测量位置的准确性。提高温度测量位置的准确性。提高温度测量位置的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种环境试验箱温度均匀性校验定位装置


[0001]本技术涉及环境试验箱
,尤其涉及一种环境试验箱温度均匀性校验定位装置。

技术介绍

[0002]我国国家计量技术规范JJF1101

2003中规定了环境试验箱上、中、下三个校准平面温度场均匀性校验的要求:在环境试验箱空载或负载条件下,在空间平面内均匀分布9个温度测试点,记录30min内各点温度与箱体中心点的温度,使箱体内的温度偏差、温度均匀度和温度波动度达到规定范围要求,因此,需要使用到环境试验箱温度均匀性校验定位装置。
[0003]目前现有的环境试验箱温度均匀性校验定位装置,大多存在以下的不足:在使用时,装置在箱内的定位不准确,导致温度测量位置不准确,影响了环境试验箱温度的测量效率,不能满足人们的需求。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种环境试验箱温度均匀性校验定位装置。
[0005]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:
[0006]一种环境试验箱温度均匀性校验定位装置,包括底座本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种环境试验箱温度均匀性校验定位装置,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)的顶部设有滑槽(2),滑槽(2)内滑动连接有滑块(3),所述底座(1)的顶部固定连接有两个支块(4),两个支块(4)之间插接有螺杆(5),螺杆(5)与滑块(3)螺纹连接,所述滑块(3)的顶部固定连接有第一固定筒(6),第一固定筒(6)的圆周内壁之间转动连接有转动轴(7),转动轴(7)的外壁固定连接有第一齿轮(8),所述第一固定筒(6)的圆周内壁设有两个滑道(9),两个滑道(9)相对设置,滑道(9)内滑动连接有滑条(10),滑条(10)的一侧固定连接有第一齿条(11),两个第一齿条(11)与第一齿轮(8)相啮合,所述第一齿条(11)的一端固定连接有固定架(12),固定架(12)的一侧转动连接有导轮(13),所述滑块(3)的一侧固定连接有指针(15),底座(1)的顶部设有刻度条(14),刻度条(14)位于指针(15)的一侧。2.根据权利要求1所述的一种环境试验箱温度均匀性校验定位装置,其特征在于,所述螺杆(5)的一端固定安装有旋钮(16),旋钮(16)的外壁套接有防滑套。3.根据权利要求1所述的一种环境试验箱温度均匀性校验定位装...

【专利技术属性】
技术研发人员:周知贵
申请(专利权)人:昆山恒准技术服务有限公司
类型:新型
国别省市:

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