本发明专利技术公开了一种滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质，涉及滤波器调试技术领域，所述方法包括：确定待调谐振螺钉，并获取所述待调谐振螺钉的第一深度偏差；获取与所述待调谐振螺钉相邻的第一待调耦合螺钉的第二深度偏差；获取所述待调谐振螺钉对应的第一比值；根据所述第一比值、所述第二深度偏差，得到第一偏差变化值；根据所述第一偏差变化值、所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，以根据所述第一待调深度偏差将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度。本发明专利技术能够提高滤波器辅助调试效率。够提高滤波器辅助调试效率。够提高滤波器辅助调试效率。
【技术实现步骤摘要】
滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质
[0001]本专利技术涉及滤波器调试
，尤其是涉及一种滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质。
技术介绍
[0002]目前，大多数结构复杂的滤波器的后期调试工作都需要借助滤波器辅助调试工具，调试员根据滤波器辅助调试工具的指示对腔体滤波器上的调试螺钉进行辅助调试，通过相应的拧入或打出改变调试螺钉深入腔室内的深度，进而使调试螺钉对应的深度达到该轮辅助调试所预设的合格标准，此时，滤波器辅助调试工具才会开始下一轮的辅助调试。其中每一轮的辅助调试均包括先细调后微调的过程，细调是指调整谐振螺钉实际进入滤波器的深度，微调是指调整耦合螺钉实际进入滤波器的深度。但是微调时对耦合螺钉的调试会对相邻谐振螺钉产生耦合作用，进而改变谐振螺钉进入滤波器的深度，进而导致已经细调完成的谐振螺钉又进入不合格状态，此时需要调试员将变成不合格状态的谐振螺钉调试至合格状态后，才能继续进行微调，因此，一个耦合螺钉的调整完成可能需要对相邻的谐振螺钉进行多次反复调整，增加了调试工作量和调试时间，降低了滤波器辅助调试效率。
技术实现思路
[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种滤波器辅助调试方法、调试装置、存储介质，能够提高滤波器辅助调试效率。
[0004]本专利技术第一方面实施例提供了一种滤波器辅助调试方法，应用于滤波器辅助调试装置；所述滤波器辅助调试装置用于调试滤波器；所述滤波器通过调谐螺钉进行调谐；所述调谐螺钉包括若干耦合螺钉和若干谐振螺钉，所述方法包括：
[0005]确定待调谐振螺钉，并获取所述待调谐振螺钉的第一深度偏差；其中，所述待调谐振螺钉为所述若干谐振螺钉之一；所述第一深度偏差为所述待调谐振螺钉实际进入所述滤波器的深度和第一预期深度之差；
[0006]获取与所述待调谐振螺钉相邻的第一待调耦合螺钉的第二深度偏差；所述第一待调耦合螺钉为所述若干耦合螺钉之一；所述第二深度偏差为所述第一待调耦合螺钉实际进入所述滤波器的深度和第二预期深度之差；
[0007]获取所述待调谐振螺钉对应的第一比值；其中，所述第一比值通过实验得到，所述第一比值用于表征所述待调谐振螺钉在所述第一待调耦合螺钉深度调整后跟随变化的深度偏差；
[0008]根据所述第一比值、所述第二深度偏差，得到第一偏差变化值；根据所述第一偏差变化值、所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，以根据所述第一待调深度偏差将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度。
[0009]本专利技术第一方面实施例提供了一种滤波器辅助调试方法，至少具有如下有益效果：在本专利技术中，通过获取微调之前待调滤波器的待调谐振螺钉的第一深度偏差，以及与待
调谐振螺钉相邻的第一待调耦合螺钉的第二深度偏差，并结合与待调谐振螺钉对应的第一比值，预估得到在细调阶段受第一待调耦合螺钉调试影响的待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，以根据该第一待调深度偏差在微调阶段提前将待调谐振螺钉调整到位。相比于现有技术在耦合螺钉微调过程中，需再次调整相邻谐振螺钉的技术方案；本专利技术实施例提前预估了微调阶段耦合螺钉对相邻的谐振螺钉的耦合影响，并根据耦合影响预估出了第一待调深度偏差值，进而在实际应用时，使得调试员在细调阶段能按照第一待调深度偏差值先对待调谐振螺钉完成细调，再基于第二深度偏差微调第一待调耦合螺钉，此时在微调后能减少反复调整待调谐振螺钉的次数，进而降低了调试工作量和调试时间。因此，本专利技术提高了滤波器辅助调试的效率。
[0010]根据本专利技术第一方面的一些实施例，所述根据所述第一比值、所述第二深度偏差，得到第一偏差变化值，包括：
[0011]计算所述第二深度偏差与所述第一比值的积，得到第一偏差变化值；
[0012]对应的，所述根据所述第一偏差变化值、所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，包括：
[0013]计算所述第一偏差变化值与所述第一深度偏差的和，得到所述第一待调深度偏差。
[0014]根据本专利技术第一方面的一些实施例，所述方法还包括：
[0015]获取所述待调谐振螺钉处于所述第一深度偏差时，第二待调耦合螺钉的第三深度偏差；所述第二待调耦合螺钉为与所述待调谐振螺钉相邻的耦合螺钉之一，且与所述第一待调耦合螺钉不同；
[0016]获取所述待调谐振螺钉对应的第二比值，其中，所述第二比值通过实验得到，所述第二比值表征所述待调谐振螺钉在所述第二待调耦合螺钉深度调整后跟随变化的深度偏差；
[0017]根据所述第二比值、所述第三深度偏差，得到第二偏差变化值；
[0018]根据所述第一偏差变化值、所述第二偏差变化值、以及所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第二待调深度偏差，以根据所述第二待调深度偏差将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度。
[0019]根据本专利技术第一方面的一些实施例，所述方法还包括：
[0020]在将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度过程中，根据所述待调谐振螺钉调整的深度更新所述第一待调深度偏差；
[0021]根据更新后的所述第一待调深度偏差的变化趋势，在预设的显示界面实时显示对所述待调谐振螺钉的调试提示。
[0022]根据本专利技术第一方面的一些实施例，所述根据更新后的所述第一待调深度偏差的变化趋势，在预设的显示界面实时显示与所述待调谐振螺钉对应的显示提示，包括：
[0023]当更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值呈下降趋势，根据更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值与预设的第一临界偏差的绝对值的大小，进行第一显示提示；
[0024]当更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值呈上升趋势，根据更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值与所述第一临界偏差的绝对值的大小，以及更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值与预设的第二临界偏差的绝对值的大小，进行第二显示提示；
[0025]其中，所述第一临界偏差的绝对值小于所述第二临界偏差的绝对值。
[0026]根据本专利技术第一方面的一些实施例，所述更新后的根据所述第一待调深度偏差的绝对值与预设的第一临界偏差的绝对值的大小，进行第一显示提示，包括：
[0027]当更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值大于所述第一临界偏差的绝对值时，进行第一颜色提示；
[0028]当所述第一待调深度偏差的绝对值小于或等于所述第一临界偏差的绝对值时，进行第二颜色提示。
[0029]根据本专利技术第一方面的一些实施例，所述根据更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值与所述第一临界偏差的绝对值的大小，以及更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值与预设的第二临界偏差的绝对值的大小，进行第二显示提示，包括：
[0030]当更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值大于所述第二临界偏差的绝对值时，进行第一颜色提示；
[0031]当更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值小于或等于所述第一临界偏差的绝对值时，进行第二颜色提示；
[0032]当更新后的所述第一待调深度偏差的绝对值小本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种滤波器辅助调试方法，其特征在于，应用于滤波器辅助调试装置；所述滤波器辅助调试装置用于调试滤波器；所述滤波器通过调谐螺钉进行调谐；所述调谐螺钉包括若干耦合螺钉和若干谐振螺钉，所述方法包括：确定待调谐振螺钉，并获取所述待调谐振螺钉的第一深度偏差；其中，所述待调谐振螺钉为所述若干谐振螺钉之一；所述第一深度偏差为所述待调谐振螺钉实际进入所述滤波器的深度和第一预期深度之差；获取与所述待调谐振螺钉相邻的第一待调耦合螺钉的第二深度偏差；所述第一待调耦合螺钉为所述若干耦合螺钉之一；所述第二深度偏差为所述第一待调耦合螺钉实际进入所述滤波器的深度和第二预期深度之差；获取所述待调谐振螺钉对应的第一比值；其中，所述第一比值通过实验得到，所述第一比值用于表征所述待调谐振螺钉在所述第一待调耦合螺钉深度调整后跟随变化的深度偏差；根据所述第一比值、所述第二深度偏差，得到第一偏差变化值；根据所述第一偏差变化值、所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，以根据所述第一待调深度偏差将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一比值、所述第二深度偏差，得到第一偏差变化值，包括：计算所述第二深度偏差与所述第一比值的积，得到第一偏差变化值；对应的，所述根据所述第一偏差变化值、所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第一待调深度偏差，包括：计算所述第一偏差变化值与所述第一深度偏差的和，得到所述第一待调深度偏差。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述待调谐振螺钉处于所述第一深度偏差时，第二待调耦合螺钉的第三深度偏差；所述第二待调耦合螺钉为与所述待调谐振螺钉相邻的耦合螺钉之一，且与所述第一待调耦合螺钉不同；获取所述待调谐振螺钉对应的第二比值，其中，所述第二比值通过实验得到，所述第二比值表征所述待调谐振螺钉在所述第二待调耦合螺钉深度调整后跟随变化的深度偏差；根据所述第二比值、所述第三深度偏差，得到第二偏差变化值；根据所述第一偏差变化值、所述第二偏差变化值、以及所述第一深度偏差确定所述待调谐振螺钉的第二待调深度偏差，以根据所述第二待调深度偏差将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在将所述待调谐振螺钉调至所述第一预期深度过程中，根...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁一，李雷，闻家毅，周鑫宇，李绍辉，欧新菊，
申请(专利权)人：东莞亿安软件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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