成像系统和检测方法技术方案

在至少一个实施例中，成像系统包括光发射器、检测器阵列和同步电路。检测器阵列包括具有内置调制功能的像素。同步电路可操作以将由检测器阵列执行的采集与借助于光源的发射进行同步。行同步。行同步。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】成像系统和检测方法
[0001]本公开涉及一种成像系统和一种检测方法。
[0002]本公开涉及光检测和测距系统(缩写为LIDAR系统)领域。此外，本公开涉及成像系统。更具体地，本公开涉及具有能用于距离测量的集成式LIDAR的成像系统。特别地，本公开涉及具有距离测量能力的高分辨率成像器。成像系统可以实现为LIDAR系统，其采用具有像素内调制的图像传感器。现有技术主要通过所谓的飞行时间(TOF)方法来处理光学测距系统，其中，发射光脉冲并利用时间数字转换器(TDC)计算光脉冲的传播时间。
[0003]当前最先进的LIDAR系统采用三种选择：
[0004](1)具有可移动部件和对表面顺序扫描的扫描LIDAR系统。迄今为止，此类系统例如用于自动驾驶。
[0005](2)具有固态照明系统的LIDAR系统，其中许多点被投影到表面上。此类系统可以做得小且紧凑，并且原则上适合于小型化并且用于移动装置中。
[0006](3)LIDAR系统，其中CMOS成像器与接收调制器结合使用。迄今为止，此类系统仅限于手持装置，并且由于需要分立的光学部件而无法小型化。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种成像系统，包括：
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光源(LS)，
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检测器阵列(DA)，其包括像素(Px)，其中，所述像素具有内置调制功能，以及
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同步电路(SC)，其将由检测器阵列(DA)执行的采集与所述光源(LS)同步。2.根据权利要求1所述的成像系统，其中
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至少所述检测器阵列(DA)和所述同步电路(SC)集成在同一芯片(CH)中，和/或
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所述成像包括传感器封装，所述传感器封装包围光源(LS)以及集成在所述同一芯片(CH)中的检测器阵列(DA)和同步电路(SC)。3.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述调制功能由调制元件(ME)实现。4.根据权利要求3所述的成像系统，其中，所述调制元件(ME)引入与施加的电压成线性的泄露电流。5.根据权利要求1至4之一所述的成像系统，其中，所述像素(Px)具有偏振功能。6.根据权利要求5所述的成像系统，其中，相邻像素(Px)具有正交偏振功能。7.根据权利要求4至6之一所述的成像系统，其中，流过所述调制元件(ME)的泄漏电流在帧开始时具有第一值并且在帧结束时具有第二值，其中，所述第一值高于所述第二值。8.根据权利要求4至7之一所述的成像系统，其中，在帧B期间，...

【专利技术属性】
技术研发人员：延斯，
申请(专利权)人：AMS国际有限公司，
类型：发明
国别省市：