一种用于激光诱导击穿光谱分析的标准样品制备标定装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于激光诱导击穿光谱分析的标准样品制备标定装置，包括原位标定器、三维调节台、加热炉、激光发生机构、光谱分析机构、气压调节机构和样品制备机构；原位标定器设于三维调节台上；三维调节台用于调节原位标定器移动对位；加热炉包围于原位标定器外，加热炉用于对原位标定器加热；激光发生机构用于产生激光照射至原位标定器内；光谱分析机构用于从原位标定器内采集光谱进行分析；气压调节机构与原位标定器内部接通，气压调节机构用于调节原位标定器内的气压；样品制备机构用于在原位标定器内制备样品；即本发明专利技术将标准样品制备功能和LIBS标定功能结合在一个装置上，不仅实现了标准样品制备，并实现了原位标定和标准样品防污染。定和标准样品防污染。定和标准样品防污染。

【技术实现步骤摘要】
一种用于激光诱导击穿光谱分析的标准样品制备标定装置


[0001]本专利技术涉及材料分析的
，特别涉及一种用于激光诱导击穿光谱分析的标准样品制备标定装置。

技术介绍

[0002]激光诱导击穿光谱(Laser Induced Breakdown Spectroscopy，LIBS)分析技术是一种新型的元素分析技术，其原理是利用高功率脉冲激光聚焦轰击待测样品表面，产生等离子体，在等离子体激发过程中产生相应元素的特征谱线，通过光谱仪和ICCD对时间精准控制并进行特征谱线分析，就可以对待测样品中的元素进行定性和定量分析。该分析方法具有时间响应短，可远程控制，无损或微损测量、以及可进行实时、原位和微区分析等特点。
[0003]目前，对于待测样品元素种类的探测，可以通过对照标准数据中的元素光谱谱线波长信息，直接读出LIBS光谱图中的元素谱线进行识别；但在实际应用中，还需要针对元素的含量进行定量的测量，仅通过单独一组LIBS光谱图中不同元素谱线强度无法直接获得其准确的含量，必须采用标准样品对LIBS分析进行标定校准后，才能应用于含量未知样品的分析本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于激光诱导击穿光谱分析的标准样品制备标定装置，其特征在于，包括原位标定器、三维调节台、加热炉、激光发生机构、光谱分析机构、气压调节机构和样品制备机构；所述原位标定器设于所述三维调节台上；所述三维调节台用于调节所述原位标定器移动对位；所述加热炉包围于所述原位标定器外，所述加热炉用于对所述原位标定器加热；所述激光发生机构用于产生激光照射至所述原位标定器内；所述光谱分析机构用于从所述原位标定器内采集光谱进行分析；所述气压调节机构与所述原位标定器内部接通，所述气压调节机构用于调节所述原位标定器内的气压；所述样品制备机构用于在所述原位标定器内制备样品。2.根据权利要求1所述的标准样品制备标定装置，其特征在于，所述样品制备机构包括可控制开闭的计量瓶、监测端可控制开闭的制备气压计、多个可控制开闭的储气瓶、以及多条可控制开闭的进气管路；所述气压调节机构、所述计量瓶、所述制备气压计和多个所述储气瓶并联与所述原位标定器内部接通；多条所述进气管路分别与多个所述储气瓶接通。3.根据权利要求2所述的标准样品制备标定装置，其特征在于，所述样品制备机构还包括超声波振动器，所述超声波振动器以可拆卸的方式安装于所述原位标定器的底部。4.根据权利要求1所述的标准样品制备标定装置，其特征在于，所述样品制备机构包括超声波振动器，所述超声波振动器设于所述原位标定器的底部。5.根据权利要求3或4任一项所述的标准样品制备标定装置，其特征在于，所述原位标定器与所述气压调节...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨振，邢宇博，卢亮，马伟，邹丽平，
申请(专利权)人：中山大学，
类型：发明
国别省市：