【技术实现步骤摘要】
OLED发光器件及其制备方法、显示面板
[0001]本专利技术涉及显示
,尤其涉及一种OLED发光器件及其制备方法、显示面板。
技术介绍
[0002]随着显示技术的发展,OLED(Organic Light
‑
Emitting Diode,有机发光二极管)屏幕应用越加广泛,其中,亮度和色度均匀性是评价屏幕性能的重要指标之一,OLED发光器件的各膜层厚度的均匀性直接影响了最终屏幕的亮度、色度均匀性,特别是OLED发光器件的阳极和阴极。一般来说,各膜层厚度膜厚越均匀,越有利于获得显示效果更均匀的屏幕,然而,受制作工艺、设备、材料等限制,阳极和阴极的成膜厚度均一性达到临界值后,其仅仅依靠制作工艺的优化较难进一步得到提升。
技术实现思路
[0003]本专利技术实施例提供一种OLED发光器件及其制备方法,以解决现有的OLED发光器件的阳极和阴极的成膜厚度均一性无法得到进一步提升的技术问题。
[0004]为解决上述问题,本专利技术提供的技术方案如下:
[0005]本专利技术提供一种 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种OLED发光器件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一基板;在所述基板一侧形成第一电极,所述第一电极包括多个凸起部位;对所述凸起部位进行激光照射,以去除所述凸起部位;在所述第一电极远离所述基板的一侧形成发光功能层;以及在所述发光功能层远离所述基板的一侧形成第二电极。2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,在所述对所述凸起部位进行激光照射的步骤之前,所述制备方法还包括:设置所述第一电极的基准膜厚;以及根据所述基准膜厚判断所述凸起部位在所述第一电极上的位置。3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述根据所述基准膜厚判断所述凸起部位在所述第一电极上的位置的步骤,包括:选取所述第一电极表面的多个测试点,记录每一所述测试点的坐标;利用膜厚测试装置检测每一所述测试点的初始膜厚;以及计算每一所述测试点的初始膜厚与所述基准膜厚的差值,若所述差值为正且在预设范围内,则所述测试点为凸起部位,所述差值为所述凸起部位的应去除膜厚值;否则,所述测试点无需进行激光照射。4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于,所述对所述凸起部位进行激光照射的步骤,包括:根据所述凸起部位的所述坐标和所述初始膜厚绘制出所述第一电极的凸起部位分布图;以及激光器根据所述凸起部位分布图以对每一所述凸起部位分别进...
【专利技术属性】
技术研发人员:张鑫,
申请(专利权)人:深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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