【技术实现步骤摘要】
一种微波组件的新型测试夹具
[0001]本技术涉及测量测试
,具体涉及一种微波组件的新型测试夹具。
技术介绍
[0002]随着微波毫米波技术的飞速进步,微波毫米波产品朝着小型化和集成化不断发展,为了满足微波组件小型化和高集成度的要求,微波组件的接口已经从传统的K型接头向SMP甚至WMP等微型接插件转变,现有的测试技术已经无法满足高集成度微波组件快速测试的需求,测试的缓慢严重制约着产品交付进度。
技术实现思路
[0003]本技术是为了解决微波组件测试慢并且可靠性差的问题,提供一种微波组件的新型测试夹具,通过使用与微波组件和测试设备对应的组合夹具对微波组件快速定位,快速完成微波组件的测试,在大幅提升微波组件的测试效率的同时还能避免重复插拔对产品接口的损伤,大幅提高微波组件的测试效率和产品可靠性。
[0004]本技术提供一种微波组件的新型测试夹具,包括测试底座和设置在测试底座上方的左侧固定架、右侧固定架、A型组合夹具、B 型组合夹具,左侧固定架可拆卸的组装在测试底座的左侧,右侧固定架可拆卸的组装在测试 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种微波组件的新型测试夹具,其特征在于:包括测试底座(1)和设置在所述测试底座(1)上方的左侧固定架(2)、右侧固定架(3)、A型组合夹具(4)、B型组合夹具(5),所述左侧固定架(2)可拆卸的组装在所述测试底座(1)的左侧,所述右侧固定架(3)可拆卸的组装在所述测试底座(1)的右侧,所述A型组合夹具(4)可拆卸的组装在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的上方,所述B型组合夹具(5)可拆卸的组装在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的下方;待测试的微波组件设置在所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)、所述A型组合夹具(4)和所述B型组合夹具(5)的中间且与所述左侧固定架(2)、所述右侧固定架(3)之间留有空隙,所述微波组件设置在所述述测试底座(1)上方;所述A型组合夹具(4)包括A型组合夹具框架(41)和A型射频测试电缆组件(42),所述A型组合夹具框架(41)上设置供所述A型射频测试电缆组件(42)穿过的通孔,所述A型射频测试电缆组件(42)通过螺丝固定在所述A型组合夹具框架(41)上;所述A型组合夹具框架(41)可拆卸的组装在所述左侧固定架(2)和所述右侧固定架(3)的顶部,所述A型射频测试电缆组件(42)一端与所述微波组件的射频端口连接、另一端与测试设备的射频端口连接。2.根据权利要求1所述的一种微波组件的新型测试夹具,其特征在于:所述射频测试电缆组件(42)包括射频转接头(421)、设置在所述射频转接头(421)外侧的转接法兰(422)和与所述射频转接头(421)依次连接的柔性电缆(423)、快插头(424),所述射频转接头(421)用于与所述微波组件的射频端口进行插拔连接,所述快插头(424)用于与所述测试设备的射频端口进行插拔连接,所述转接法兰(422)用于穿过所述A型组合夹具框架(41)的通孔紧固在所述A型组合夹具框架(41)上。3.根据权利要求2所述的一种微波组件的新型测试夹具,其特征在于:所述快插头(424)为SMA型。4.根据权利要求1所述的一种微波组件的新型测试夹具,其特征在于:所述A型组合夹具(4)还包括视频测试电缆组件(43),所述A型组合夹具框架(41)上设置供所述视频测试电缆组件(43)穿过的通孔,所述视频测试电缆组件(43)通过螺丝固定在所述A型组合夹具框架(41)上;所述视频测试电缆组件(43)一端与所述微波组件的视频输出端口连接、另一端与测试设备的视频输入端口连接。5.根据权利要求1所述的一种微波组件的新型测试夹具,其特征在于:...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐统帅,刘德喜,史磊,刘亚威,杨红艳,
申请(专利权)人:北京遥测技术研究所,
类型:新型
国别省市:
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