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一种基于双缝干涉的波长测量装置制造方法及图纸

技术编号:33674928 阅读:27 留言:0更新日期:2022-06-02 21:03
本实用新型专利技术公开了一种基于双缝干涉的波长测量装置,包括底座和双缝,还包括激光笔、遮光板和光屏;所述底座的左侧设置支架,所述支架上固定设置激光笔,所述底座的右侧设置与激光笔中心对齐的光屏,所述底座中间设置左右滑轨,所述左右滑轨内可滑动设置移动支架,所述移动支架上设置挡光板,所述挡光板上设置与激光笔中心对齐的双缝卡槽,所述双缝卡槽内镶嵌设置双缝。与现有技术相比,它的零部件更少,实验步骤得到了极大的简化,且操作难度和要求也更容易实现,在提升了测量精度的同时,使实验过程变得简单,更容易被学生理解和接受。更容易被学生理解和接受。更容易被学生理解和接受。

【技术实现步骤摘要】
一种基于双缝干涉的波长测量装置


[0001]本技术涉及一种基于双缝干涉的波长测量装置。

技术介绍

[0002]传统的双缝干涉测波长实验仪器相当复杂,由灯泡、单缝、双缝、遮光筒、毛玻璃,放大镜组成。因为结构原因,调试出干涉条纹现象很困难,且由于灯泡光源微弱,测量精确度不高,阻碍了学生对光的干涉的理解。因此,需要设计一种结构更加简单合理,操作方便且测量精度更高的波长测量装置,来解决现有技术中的难操作和精度低的问题。

技术实现思路

[0003]针对上述现有技术的不足,本技术提供了一种结构更加简单合理,操作方便且测量精度更高的波长测量装置,来解决问题。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种基于双缝干涉的波长测量装置,包括底座和双缝,还包括激光笔、遮光板和光屏;所述底座的左侧设置支架,所述支架上固定设置激光笔,所述底座的右侧设置与激光笔中心对齐的光屏,所述底座中间设置左右滑轨,所述左右滑轨内可滑动设置移动支架,所述移动支架上设置挡光板,所述挡光板上设置与激光笔中心对齐的双缝卡槽,所述双缝卡槽内镶嵌设置双缝。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于双缝干涉的波长测量装置,包括底座和双缝,其特征在于:它还包括激光笔、遮光板和光屏;所述底座的左侧设置支架,所述支架上固定设置激光笔,所述底座的右侧设置与激光笔中心对齐的光屏,所述底座中间设置左右滑轨,所述左右滑轨内可滑动设置移动支架,所述移动支架上设置挡光板,所述挡光板上设置与激光笔中心对齐的双缝卡槽,所述双缝卡槽内镶嵌设置双缝。2.如权利要求1中所述的一种基于双缝干涉的波长测量装置,其特征在于:它还包括读数显微镜,所述读数显微镜设置在底座右侧,所述读数显微镜的镜头位于光屏的正上方。3.如权利要求1中所述的一种基于双缝干涉的波长测量装置,其特征在于:所述左右滑轨的一侧设置距离刻度。4.如权利要求1中所述的一种基于双缝干涉的波长测量装置,其特征在于:它还包括测距模块,所述测距模块包括设置在底座上的数显屏...

【专利技术属性】
技术研发人员:李慧芳王法社代欣欣郑秀岫
申请(专利权)人:临沂大学
类型:新型
国别省市:

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