【技术实现步骤摘要】
一种半幅降压的电容采样逐次逼近模数转换电路及比较方法
[0001]本专利技术涉及半导体技术芯片设计领域,更具体地,涉及逐次逼近式模数转换电路。
技术介绍
[0002]逐次逼近ADC包括n位逐次比较型A/D转换,传统逐次比较模式的差分模数转换电路如图1所示,有上下对称的两个电容整列。电容的一端连接在一起,并且连接到比较器的一段,其中上电容阵列连接点是Vp。
[0003]如图1
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3所示,为传统逐次比较电路及比较过程示意图,采样中,Vp=Vn=Vref,比较1中Vp=3/2Vref
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Vin,Vn=3/2Vref
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Vip,Vp
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Vn=Vip
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Vin,可以看出,Vp电压的最大值可接近到1.5倍的Vref。Vref是比较器选择的参考电压,Vref直接决定模数转换电路的输入工作范围,一般选定最大值为电源电压。假设电源电压为2v,则Vp有可能超越2v。
[0004]具体比较过程以2bit逐次逼近模数转换流程来说明。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半幅降压的电容采样逐次逼近模数转换电路,其特征在于,该电路包括比较器以及在比较器输入端的电容阵列、配置电压和逻辑开关,所述电路为双端输入结构;电容阵列为两组,每组均包括上半部分电容阵列和下半部分电容阵列,且上下电容阵列一致,均为C、C到2
n
C,从第三个电容至末个电容,电容值均为当前电容前面所有电容值之和;配置电压为Vin,Vip,Vref,gnd,逻辑开关安装在电容与配置电压之间,用于实现比较过程中配置电压的切换;其中:一组电容阵列的逻辑开关上半部分配置为spa,下半部分配置为sna,另一组电容阵列的逻辑开关上半部分配置为spb,下半部分配置为snb,比较次数为bit位数,所述比较过程中,逻辑开关执行以下操作:采样时,上半部分电容阵列中,逻辑开关spa闭合到Vin,逻辑开关spb闭合到Vref;下半部分电容阵列,逻辑开关sna闭合到Vip,逻辑开关snb闭合到Vref,此时,Vp=Vn=Vref;在最高位比较即该位置电容为2
n
C、次高位比较即该位置电容为2
n
‑1C。。。至最低位比较即该位置电容为C时;上半部分电容阵列中,逻辑开关spa与传统逐次比较阵列的连接电压相同,逻辑开关spb闭合到gnd;下半部分电容阵列中,逻辑开关spa与传统逐次比较阵列的连接电压相同,逻辑开关snb闭合到gnd。2.根据权利要求1所述的半幅降压的电容采样逐次逼近模数转换电路,其特征在于,传统逐次比较阵列的比较逻辑为:在最高位比较时,比较器正输入端相连电容阵列的最高位电容接Vref,其余电容接地,比较器负输入端相连电容阵列接法相反,即最高位电容接地,其余电容接Vref;如果Vip>Vin,则正输入端最高位电容的逻辑开关spna接地,负输入端最高位电容的逻辑开关snna接Vref,正输入端次高位电容的逻辑开关spn
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1a接Vref,负输入端次高位电容的逻...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡伟,何捷,
申请(专利权)人:共模半导体技术苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:
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