瞬态光电压测量系统技术方案

本实用新型专利技术涉及原位反应参数测量技术领域，提供了一种瞬态光电压测量系统，包括：电极组件、激励装置和处理装置；电极组件至少包括第一电极和第二电极，第二电极与第一电极之间具有预设间距，第一电极用于布设相互接触的第一反应样品和第二反应样品；激励装置用于产生激励源，以激发第一反应样品和第二反应样品发生原位反应；处理装置分别与第一电极和第二电极电连接，用于根据第一电极与第二电极之间的电势差值，确定原位反应的瞬态光电压，通过该瞬态光电压表征出两种反应样品之间发生原位反应的电荷传输动力学参数，从而为研究不同材料/物质之间动态的原位反应过程中的电荷的产生、分离、传输和复合的过程提供了数据参考。传输和复合的过程提供了数据参考。传输和复合的过程提供了数据参考。

【技术实现步骤摘要】
瞬态光电压测量系统


[0001]本技术涉及原位反应参数测量
，尤其是涉及一种瞬态光电压测量系统。

技术介绍

[0002]现有技术的测量只是材料本身的电子属性的测量，如在对材料的研究中，材料电子属性的测量是必不可少的。电子属性可以包括各种光电材料和其它半导体器件中的载流子动力学，载流子密度，传输/复合寿命，扩散长度，迁移率和复合速率等。
[0003]瞬态光电压技术可以表征光生电荷的产生、分离、传输和复合的过程。然而，现有的瞬态光电压技术无论是在工作原理上、还是时间尺度上，都不能测量原位反应过程中的电荷传输变化；也就是说，现有的瞬态光电压技术只能通过外加偏置电压调制或者对材料/物质本身光源扰动调制的方式，研究静态的材料中的电荷的变化；无法测量不同材料/物质之间动态的原位反应过程中电荷的产生、分离、传输和复合的过程。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种瞬态光电压测量系统，以解决现有技术中无法直接测量不同材料/物质之间动态的原位反应过程中瞬态光电压参数的问题。
[0005]本技术实施例提供了一种瞬态光电压测量系统，包括：电极组件、激励装置和处理装置；
[0006]所述电极组件至少包括第一电极和第二电极，所述第二电极与所述第一电极之间具有预设间距，所述预设间距为5微米～500微米；所述第一电极用于布设相互接触的第一反应样品和第二反应样品；
[0007]所述激励装置用于产生激励源，以激发所述第一反应样品和所述第二反应样品发生原位反应；
[0008]所述处理装置分别与所述第一电极和所述第二电极电连接，用于根据所述第一电极与所述第二电极之间的电势差值，确定所述第一反应样品和所述第二反应样品发生原位反应的瞬态光电压。
[0009]可选地，所述第一电极为网状电极或者片状电极，所述第二电极为针状电极、棒状电极或者片状电极；或者，所述第一电极为针状电极、棒状电极或者片状电极，所述第二电极为网状电极或者片状电极。
[0010]可选地，所述第二电极与所述第一电极垂直设置。
[0011]可选地，所述瞬态光电压测量系统还包括：屏蔽壳体，所述电极组件设置在所述屏蔽壳体内；所述屏蔽壳体面向所述激励装置的一侧设有开口，所述激励装置包括发射端，所述发射端从所述开口延伸至所述屏蔽壳体的内部。
[0012]可选地，所述瞬态光电压测量系统还包括：喷雾装置；所述喷雾装置包括喷头，所述喷头设置在所述屏蔽壳体内部，且朝向所述第一电极，用于将呈液态的所述第二反应样
品喷射在所述第一反应样品的表面。
[0013]可选地，所述瞬态光电压测量系统还包括：密封箱体，所述密封箱体位于所述屏蔽壳体内部；所述激励源为光激励源，所述密封箱体面向激励源的一侧设有供所述光激励源通过的第一透射窗；和/或，所述密封箱体的顶部设有供检测人员观测的第二透射窗，所述屏蔽壳体的顶部设有与所述第二透射窗对应的第三透射窗。
[0014]可选地，所述密封箱体上设有进气口和出气口，所述进气口用于将呈气态的第二反应样品输入至所述密封箱体内，以使得所述密封箱体中原有的气体从所述出气口被排出。
[0015]可选地，所述密封箱体内还设有温度检测部件和加热部件，所述处理装置分别与所述温度检测部件和所述加热部件电连接，用于调节所述密封箱体内的温度。
[0016]可选地，所述密封箱体内还设有压强检测部件，所述处理装置和所述压强检测部件电连接，用于实时检测所述密封箱体内的压强。
[0017]本技术实施例至少具有以下技术效果：
[0018]本技术实施例提供的瞬态光电压测量系统，通过设置电极组件累积不同反应物在激励源的激励作用下转移的电荷，转移的电荷改变了电极组件原先的电势平衡并形成电势差，处理装置根据电极组件中不同电极之间的电势差值可以得到不同反应物之间发生原位反应的瞬态光电压，通过该瞬态光电压表征出两种反应样品之间发生原位反应的电荷传输动力学参数，从而为研究不同材料/物质之间动态的原位反应过程中的电荷的产生、分离、传输和复合的过程提供了数据参考。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本技术实施例提供的一种瞬态光电压测量系统的结构示意图；
[0021]图2为本技术实施例提供的一种瞬态光电压测量系统的电极组件的布置位置示意图；
[0022]图3为本技术实施例提供的一种瞬态光电压测量系统的第一电极与第二电极垂直布置的结构示意图；
[0023]图4为本技术实施例提供的另一种瞬态光电压测量系统的结构示意图；
[0024]图5为本技术实施例提供的又一种瞬态光电压测量系统的结构示意图；
[0025]图6为本技术实施例提供的一种瞬态光电压测量系统的电连接示意图。
[0026]图标：100
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激励装置；200
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电极组件；210
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第一电极；220
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第二电极；300
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处理装置；400
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屏蔽壳体；410
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开口；420
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喷头；500
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密封箱体；510
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进气口；520
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出气口；530
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第一透射窗；540
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第二透射窗；600
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温度检测部件；700
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加热部件；800
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压强检测部件。
具体实施方式
[0027]下面将结合实施例对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述
的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0028]本
技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本技术所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
[0029]本
技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本技术的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种瞬态光电压测量系统，其特征在于，包括：电极组件，至少包括第一电极和第二电极，所述第二电极与所述第一电极之间具有预设间距，所述预设间距为5微米～500微米；所述第一电极用于布设相互接触的第一反应样品和第二反应样品；激励装置，所述激励装置用于产生激励源，以激发所述第一反应样品和所述第二反应样品发生原位反应；处理装置，分别与所述第一电极和所述第二电极电连接，用于根据所述第一电极与所述第二电极之间的电势差值，确定所述第一反应样品和所述第二反应样品发生原位反应的瞬态光电压。2.根据权利要求1所述的瞬态光电压测量系统，其特征在于，所述第一电极为网状电极或者片状电极，所述第二电极为针状电极、棒状电极或者片状电极；或者，所述第一电极为针状电极、棒状电极或者片状电极，所述第二电极为网状电极或者片状电极。3.根据权利要求1所述的瞬态光电压测量系统，其特征在于，所述第二电极与所述第一电极垂直设置。4.根据权利要求1至3中任一项所述的瞬态光电压测量系统，其特征在于，还包括：屏蔽壳体，所述电极组件设置在所述屏蔽壳体内；所述屏蔽壳体面向所述激励装置的一侧设有开口，所述激励装置包括发射端，所述发射端从所述开口延伸至所述屏蔽壳体的内部。5.根据权利要求4所述的瞬态光电压测量系统，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：康振辉，刘阳，
申请(专利权)人：苏州大学，
类型：新型
国别省市：