用于痕量检测的基片、基片的制备方法及其应用技术

本公开提供了一种用于表面增强拉曼散射的基片，所述基片包括：银基底，具有银纳米结构表面；和卤化银钝化层，形成于所述银基底的表面。本公开还提供了一种用于表面增强拉曼散射的基片的制备方法和应用该基片进行表面增强拉曼散射痕量检测的方法。拉曼散射痕量检测的方法。拉曼散射痕量检测的方法。

【技术实现步骤摘要】
用于痕量检测的基片、基片的制备方法及其应用


[0001]本公开涉及拉曼光谱分析领域，更具体地，涉及一种用于痕量检测的基片、该基片的制备方法以及应用该基片进行表面增强拉曼散射痕量检测的方法。

技术介绍

[0002]具有纳米级粗糙表面的贵金属可以产生明显的表面增强拉曼散射效应。银(Ag)由于高电场和低损耗比金(Au)高出两个数量级，同时具有独特的表面等离子体特性，使其得到更为广泛的应用。然而，由于金属银容易氧化和硫化，且纳米表面活性高，很容易吸附环境中存在的各种分子，具体表现在其空白基片上出现难以标定的杂质峰，这些杂质峰的存在增加了对目标检测物指纹峰识别和认定的困难，对未知检测物的定性和定量检测造成严重干扰，甚至导致不能使用。
[0003]在实现本公开构思的过程中，专利技术人发现，在不牺牲灵敏度的前提下，如何采用简单高效的方法消除杂质峰，以获得更好的表面增强拉曼散射性能，是当前痕量检测领域亟需解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本公开的实施例提供了一种用于表面增强拉曼散射的基片、该基片的制备方法以及应用该基本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于表面增强拉曼散射的基片，其特征在于，所述基片包括：银基底，具有银纳米结构表面；和卤化银钝化层，形成于所述银基底的表面。2.根据权利要求1所述的基片，其特征在于，所述银纳米结构包括纳米棒、纳米管、纳米线和纳米颗粒中的至少一种。3.根据权利要求1所述的基片，其特征在于，所述卤化银钝化层的厚度为1
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10nm。4.根据权利要求3所述的基片，其特征在于，所述卤化银钝化层的厚度为2nm。5.根据权利要求3所述的基片，其特征在于，所述卤化银包括氯化银、溴化银和碘化银中的至少一种。6.根据权利要求1所述的基片，其特征在于，所述卤化银钝化层是通过将所述具有银纳米结构表面的银基底浸泡在含卤素离子的修饰液中，或将含卤素离子的修饰液滴加到所述具有银纳米结构表面的银基底上形成的。7.一种如权利要求1
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6任一项所述的用于表面增强拉曼散射的基片的制备方法，其特征在于，包括：利用原料配置包含卤素离子的修饰液；和采用所述修饰液对具有银纳米结构表面的银基底进行修饰。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述卤素离子包括氯离子、溴离子和碘离子中的至少一种。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述原料包括与所述卤素离子对应的锂盐、钠盐、钾盐和酸中的至少一种。10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述修饰液中的卤素离子的浓度为0.1
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10mM。11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述修饰液的溶剂为水或醇。12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述醇为...

【专利技术属性】
技术研发人员：凌云汉，李世林，罗彦，张政军，陈诚，林鹰，
申请(专利权)人：广西三环高科拉曼芯片技术有限公司，
类型：发明
国别省市：