【技术实现步骤摘要】
一种采用带有失配的比较器检测电流的基准启动电路
[0001]本专利技术涉及集成电路领域,尤其涉及一种采用带有失配的比较器检测电流的基准启动电路。
技术介绍
[0002]带隙基准电路是一种常用的模拟集成电路,其功能是为集成电路中的各个电路模块提供一个不随环境温度及电源电压变化的稳定参考电压或偏置电流。带隙基准电路主要分为电压模架构的带隙基准及电流模架构的带隙基准。其中,电压模架构的带隙基准的输出基准电压一般为1.25V左右,不适用于电源电压较低的应用。电流模架构的带隙基准的输出电压可以调整,相比于电压模形式的基准更不易受电源电压的限制,并且具有更好的PSRR(电源抑制比)性能,应用范围更加广泛。但是,面向电流模基准电路的传统启动电路无法对该电流模基准电路在小电流状态工作点起作用。在一些极端的条件下,如低温或者工艺角漂移时,电路上电后,启动电路工作会使电路脱离零电流点进入小电流工作点并保持稳定,此时节点的电压已经使启动电路关闭,而电路未正常工作。
技术实现思路
[0003]为了解决上述技术问题,本专利技术的目的是 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种采用带有失配的比较器检测电流的基准启动电路,其特征在于,包括电流模基准电路、电流检测电路、第一级反相电路、第二级反相电路和启动晶体管,所述电流模基准电路、电流检测电路、第一级反相电路、第二级反相电路和启动晶体管依次连接,所述电流检测电路采用正输入端带有失调电压的比较器。2.根据权利要求1所述一种采用带有失配的比较器检测电流的基准启动电路,其特征在于,所述电流模基准电路包括第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第一放大器,所述第一晶体管的栅极、第二晶体管的栅极和第一放大器的输出端相连,所述第一晶体管的漏极、第一电阻的第一端、第二电阻的第一端和第一放大器的正输入端相连,所述第二晶体管的漏极、第四晶体管的发射极、第三电阻的第一端和第一放大器的负输入端连接,所述第一电阻的第二端与第三晶体管的发射极连接。3.根据权利要求2所述一种采用带有失配的比较器检测电流的基准启动电路,其特征在于,所述电流检测电路的输入端与第一电阻的两端相连,用于检测流经第一电阻的电流。4.根据权利要求3所述一种采用带有失配的比较器检测电流的基准启动电路,其特征在于,所述电流检测电路包括第五晶体管、第六晶体管、第七晶体管、第八晶体管和尾电流晶体管,所述第五晶体管的栅极与第一电阻的第一端连接,所述第五晶体管的源极、第六晶体管的源极和尾电流晶体管...
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