用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法技术

本发明专利技术属于无损检测技术领域，公开了一种用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法，检测方法包括将导体放置在磁探检测台两个夹头之间，试件套在导体上，用支撑工件固定试件使导体位于试件的中心位置；对导体通电磁化并施加磁粉或磁悬液获得磁痕；记录磁化电流大小和磁痕的长度；依据公式计算出磁粉检测深度。本发明专利技术的试件能够用于中心导体法磁粉检测内壁近表面纵向缺陷的可检深度，该试件的检测方法能够用于制定合适可行的中心导体法磁粉检测工艺，用于检测铁磁性材料管子等空心件的内壁近表面纵向缺陷可检深度的工艺灵敏度、分辨率、可靠性验证，优化中心导体法磁粉检测工艺参数，提高该类型工件的内壁近表面纵向缺陷检测能力。缺陷检测能力。缺陷检测能力。

【技术实现步骤摘要】
用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法


[0001]本专利技术属于无损检测
，具体涉及一种用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法。

技术介绍

[0002]磁粉检测方法标准中，至今均未见任何针对适于铁磁性管子等空心件的内壁近表面纵向缺陷可检深度范围的检测方法、操作工艺、灵敏度验证试件、工艺验证等具体要求及相关内容。因此开展上述相关实验研究，提高管子等空心件的内壁近表面纵向缺陷检出能力并能够实现工艺验证，使中心导体法磁粉检测真正覆盖铁磁性承压设备管子、管接头、空心焊接件、各种有孔的工件如轴承圈、空心圆柱、齿轮、螺帽及环形件的内壁近表面纵向缺陷检测，这是十分必要和急迫的。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少在一定程度上解决上述技术问题。为此，本专利技术目的在于提供一种用于中心导体法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法。
[0004]本专利技术所采用的技术方案为：
[0005]一种用于中心导体法磁粉检测的试件，包括金属管件，金属管件的内表面为检测面，金属管件的外表面沿其轴向设有至少两条宽本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于中心导体法磁粉检测的试件，其特征在于：包括金属管件(1)，金属管件(1)的内表面为检测面，金属管件(1)的外表面沿其轴向设有至少两条宽度不等的检测槽(2)，检测槽(2)与金属管件(1)等长，检测槽(2)的底部到检测面的距离沿着金属管件(1)的轴向连续变化。2.如权利要求1所述的用于中心导体法磁粉检测的试件，其特征在于：所述检测槽(2)为线切割槽，检测槽(2)均布于金属管件(1)的外表面上。3.如权利要求1所述的用于中心导体法磁粉检测的试件，其特征在于：所述检测槽(2)的宽度沿着金属管件(1)的圆周方向依次递增。4.如权利要求1
‑
3任一所述的用于中心导体法磁粉检测的试件，其特征在于：所述金属管件(1)的长度为300mm，检测槽(2)包括四条，四条检测槽(2)的宽度依次为0.5mm、1.0mm、2.0mm和4.0mm，检测槽(2)的底部到检测面的距离从1.0
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8.0mm连续变化。5.如权利要求1
‑
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【专利技术属性】
技术研发人员：蒋浩，袁宗泽，乐开白，刘春华，姚洋，刘道云，黄书海，孟庆伟，李玉，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三八三六部队，
类型：发明
国别省市：